大多數(shù)手持設(shè)備使用堿性電池或可充電電池供電,因此測量電池容量是這類設(shè)計的一個關(guān)鍵特征。但是,在大多數(shù)情況下,對預算緊張的項目而言,使用電池電量監(jiān)控IC可能是一種奢望。本文提供了一種更簡單、更便宜的選擇。
如今,即使是最便宜的MCU也常常包括內(nèi)部模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)模塊,但是由于其分辨率(相對)較低,噪聲水平較高,因此這一模塊并非總是得到使用。然而,那些未使用的內(nèi)部ADC通道之一,足以用于執(zhí)行測試,從而確定電池是否仍然可用。
EDR通過施加負載脈沖,評估電池對攻擊和恢復的響應(yīng)時間,來對電池在負載下的狀況與所存儲的與電池性能相關(guān)的參數(shù)進行比較。如圖1所示,好的電池具有很強的恢復特性,而幾乎耗盡的電池則具有較大的放電斜率和較差的恢復能力。造成耗盡的電池出現(xiàn)這些差異的原因有多種,例如內(nèi)部電阻增加。
圖1:對比各種充電狀態(tài)下電池對臨時負載脈沖的響應(yīng),可以發(fā)現(xiàn)它們在EDR方面的差異
利用EDR理論,對電池電壓進行采樣,找到在特定時間下(例如最大功耗發(fā)生時)的最小電池電量,即可獲得有關(guān)電池健康狀況的信息。系統(tǒng)的初始開機時間(也稱為“打招呼”時間)是衡量電池健康狀況的一個特別好的時機。在系統(tǒng)完全啟動之前,電池電量似乎處于安全工作水平,但是,如果電池快要用盡了,則當系統(tǒng)達到滿負荷時,電池電量可能會立即降至安全水平以下。該設(shè)備會在不執(zhí)行EDR測試的情況下以正常模式啟動,但是卻會在第一次重載時不受控制地關(guān)閉(即電壓下降到如圖1所示的關(guān)鍵電池電量水平)。
圖2顯示了實現(xiàn)EDR測試的簡化硬件版本。此處選用負載電阻來代表整個系統(tǒng)負載,因此其值可以根據(jù)系統(tǒng)的不同進行改變。系統(tǒng)要生成此處所示的數(shù)據(jù),需要一個10Ω的值。電阻R1和R2用作分壓器,實現(xiàn)對電池電壓(Vcc)的測量,而升壓電路則用于確保即使在測試期間電池電壓下降時,ADC的基準也保持恒定。電阻R3是開關(guān)晶體管的下拉電阻。
圖2:以上簡化原理圖顯示了EDR測試實現(xiàn)的總體設(shè)計
測試系統(tǒng)在設(shè)定的時間段(約200ms)內(nèi)對電池電壓進行采樣。在固件控制下,MOSFET僅在測量周期的一半時間內(nèi)導通,然后關(guān)閉。這樣,系統(tǒng)就可以測量滿載情況下的電壓,以及最小負載時的電池恢復響應(yīng)。(可以在固件中更改時間段,但我發(fā)現(xiàn)200ms足以充分評估電池容量。)測量完成后,可以通過UART鏈路讀出結(jié)果。
在為演示EDR所搭建的示例系統(tǒng)中,我使用了兩節(jié)AA堿性電池,因此Vcc的最大值為3.2V。升壓電壓Vdd設(shè)置為恒定的3.6V。系統(tǒng)在正常情況下消耗55mA,但在滿載時消耗127mA。使用“好”電池(圖3a)和“壞”電池(即耗盡的電池,圖3b)對系統(tǒng)進行測試時所獲得的示波器跡線,表明了欠載電壓的差異有多大。
圖3:電池電壓的負載測試結(jié)果顯示,充滿電的電池(a)和幾乎耗盡的電池(b),它們的響應(yīng)之間存在顯著差異
我在某些項目中使用的示例設(shè)計基于STM32F303 MCU,其固件使用KEIL IDE用C語言編寫??梢栽诖薌itHub頁面上找到這個固件。
測試代碼的流程圖如圖4所示。一旦UART收到“S”字符,就會執(zhí)行測試。ADC采樣頻率設(shè)置為250Hz,如前所述,測試周期約為200ms。
圖4:EDR測試代碼將負載接通,以一半的測試時間采樣,然后斷開負載,完成采樣周期
這個代碼僅用于進行測試和收集數(shù)據(jù)。處理數(shù)據(jù)有很多方案。在最簡單的情況下,可以查看數(shù)據(jù)的最小值,然后將其與系統(tǒng)的安全工作電壓水平(也稱為臨界水平)進行比較。如果在測試過程中電池電壓接近臨界水平,則可以警告系統(tǒng)用戶該更換電池了。
可以編寫更全面的算法來精確確定電池健康狀況,例如用作電池電量指示器。然而,為了在顯示器或電池指示器上向用戶更新、顯示適當?shù)臄?shù)據(jù),還應(yīng)對所采集的數(shù)據(jù)進行過濾。若原始數(shù)據(jù)未經(jīng)過適當過濾,那么負載變化將導致其完全無用。緩慢的無限脈沖響應(yīng)(IIR)濾波器可以對信號進行正常平滑。
文章來源:eeweb Adem Kaya
編輯:ymf
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