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電化學(xué)遷移(ECM):電子元件的“隱形殺手” ——失效機(jī)理、環(huán)境誘因與典型案例解析

廣電計(jì)量 ? 2025-08-14 15:46 ? 次閱讀
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前言

在電子設(shè)備中,有一種失效現(xiàn)象常被稱為“慢性病”——電化學(xué)遷移(ECM)。它悄無聲息地腐蝕電路,最終導(dǎo)致短路、漏電甚至器件燒毀。尤其在高溫高濕環(huán)境下可能導(dǎo)致電路短路失效。本文將深入解析ECM的機(jī)制,并對(duì)比其與導(dǎo)電性陽極絲(CAF)的異同。

一、什么是電化學(xué)遷移(ECM)?

電化學(xué)遷移的本質(zhì)是在電場(chǎng)作用下,金屬離子(如銅、銀、錫、鋁等)從陽極向陰極遷移,并在陰極還原沉積,形成樹枝狀導(dǎo)電通道的過程。具體過程可分為三步:

1.金屬電解:陽極金屬在潮濕環(huán)境中被電解為離子(如Ag?)。

2.離子遷移:電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)金屬離子穿過絕緣介質(zhì)向陰極移動(dòng)。

3.枝晶生長(zhǎng):離子在陰極還原為金屬單質(zhì),逐漸堆積成樹枝狀導(dǎo)電通路。

圖片

圖1 電化學(xué)遷移示意圖

這種現(xiàn)象常見于高溫高濕及帶電場(chǎng)的可靠性測(cè)試或終端客戶的使用過程中,如高加速應(yīng)力測(cè)試(BHAST)及H3TRB等可靠性測(cè)試,尤其在BGA、CSP等精密封裝器件中,因錫球間距微小,ECM更易引發(fā)短路。

二、發(fā)生環(huán)境的三大條件

容易產(chǎn)成ECM的條件:

1.濕度:相對(duì)濕度>80%,形成吸附水膜;高濕度促進(jìn)電解液形成,加速離子遷移。

2.電壓差:導(dǎo)體間存在直流偏壓(如電路板相鄰焊點(diǎn)有電壓差);電壓差越大,電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)力越強(qiáng)。

3.離子污染:殘留助焊劑、灰塵或污染物提供電解液環(huán)境,增加導(dǎo)電性。

三、失效分析方法、案例

電化學(xué)遷移通常呈現(xiàn)的典型的形貌有:枝晶狀(圖2 (c))、苔蘚狀(圖3)?,F(xiàn)象嚴(yán)重的可以通過X-RAY、開封等手法檢測(cè)到,但是大多數(shù)情況ECM的物理現(xiàn)象是比較輕微的,這種情況就需要結(jié)合熱點(diǎn)定位(圖4)、切片、SEM等手法來挖掘現(xiàn)象(圖5)。

X-Ray檢測(cè)到的ECM現(xiàn)象:

a)x-ray觀察到的封裝內(nèi)die側(cè)壁的ECM形貌

b)a)的放大形貌

c)引腳與基板間的ECM形貌

d)引腳之間的ECM形貌

圖片

圖2

開封后在晶圓表面及側(cè)壁使用OM/SEM觀察到的ECM現(xiàn)象:

a)開封后光學(xué)顯微鏡觀察形貌圖

b)SEM觀察形貌圖

圖片

圖3

由于ECM導(dǎo)致的漏電路徑非常不穩(wěn)定,通常伴隨環(huán)溫度等環(huán)境變化(如解焊、開封等動(dòng)作)導(dǎo)致漏電消失的情況,因此分析時(shí)需要注意樣品的保護(hù),通常采用Lock in thermal設(shè)備進(jìn)行熱點(diǎn)定位(圖4)及切片的手法進(jìn)行異?,F(xiàn)象分析(圖5)。

Lock in thermal探測(cè)到ECM引發(fā)的二極管側(cè)壁漏電現(xiàn)象:

圖片

圖4 Lock in thermal熱點(diǎn)成像

漏電二極管定點(diǎn)切片后,在截面觀察到的Sn的電化學(xué)遷移現(xiàn)象:

a)晶圓側(cè)壁截面SEM形貌圖

b)EDX元素分布圖

圖片

圖5

四、ECM與CAF的對(duì)比

雖然ECM與CAF均屬于電子遷移,但兩者在發(fā)生位置、機(jī)制及檢測(cè)方式上存在顯著差異:

圖片

五、預(yù)防對(duì)策:切斷電子遷移的“生存鏈”

1.環(huán)境控制:

降低濕度(如使用防潮涂層)、避免污染物殘留;

使用防潮涂層或密封膠;

控制存儲(chǔ)濕度(建議<60% RH)。

2.設(shè)計(jì)優(yōu)化:

增加導(dǎo)體間距、減少玻纖微裂紋(針對(duì)CAF);

避免相鄰導(dǎo)體高電壓差設(shè)計(jì);

選用抗CAF(導(dǎo)電陽極絲)板材。

3.工藝改進(jìn):

加強(qiáng)清洗流程,減少離子污染。

嚴(yán)格清洗電路板,減少離子殘留;

改善焊接質(zhì)量,避免微裂紋。

4.材料選擇:

采用低吸濕性基材、抗遷移金屬鍍層。

結(jié)語

ECM和CAF是電子器件可靠性的“隱形殺手”,尤其在微型化趨勢(shì)下更加劇了其風(fēng)險(xiǎn)性。通過分析其機(jī)理并采取針對(duì)性措施,可有效提升產(chǎn)品壽命。若需更詳細(xì)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或案例,可參考IPC-9201等行業(yè)規(guī)范。

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