隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，我國(guó)航空航天產(chǎn)品也日新月異，產(chǎn)品的更新?lián)Q代對(duì)線纜的質(zhì)量要求也越來(lái)越高，線纜的質(zhì)量好壞決定著飛行器能否正常運(yùn)行，因此，對(duì)航天線纜纜進(jìn)行檢測(cè)就是航天產(chǎn)品生產(chǎn)中重要的環(huán)節(jié)。

對(duì)飛行器線纜的測(cè)試，最早使用的是二線制測(cè)試法，由于測(cè)試目標(biāo)的電阻值遠(yuǎn)大于測(cè)試儀器的內(nèi)阻和連接導(dǎo)線的電阻值，因此線纜測(cè)試儀二線制測(cè)試法是一種非常有效也是非常經(jīng)濟(jì)的測(cè)試方法。如果采用雙線法測(cè)量，被測(cè)對(duì)象的阻值如果為1歐姆，二線制系統(tǒng)的內(nèi)阻和連接線的阻值大于1歐姆，則內(nèi)阻對(duì)總電阻精確性的影響是很大的。

雙線法測(cè)試電阻原理圖

傳統(tǒng)的二線制測(cè)試法在測(cè)試電阻的時(shí)候，測(cè)得阻值出了被測(cè)對(duì)象的電阻之外，還包含外加激勵(lì)源的內(nèi)阻、系統(tǒng)內(nèi)阻、連接導(dǎo)線電阻個(gè)電壓表的內(nèi)阻，這些電阻對(duì)被測(cè)對(duì)象的電阻是有很大的影響的，這是線纜測(cè)試儀二線制測(cè)試法的最大弊端。為避免二線制測(cè)試法的弊端，采用四線制電阻測(cè)試法，最典型的四線制測(cè)試法稱為開(kāi)爾文電橋電阻測(cè)試法。

開(kāi)爾文電橋測(cè)電阻原理圖

ATX-3000系列線纜測(cè)試儀自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，通過(guò)四線制測(cè)試法對(duì)線纜進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，可以大大提高檢測(cè)效率和檢測(cè)精度，節(jié)省人工成本。還可以保存檢測(cè)數(shù)據(jù)，生成檢測(cè)報(bào)表，便于后期分析和維護(hù)。

?設(shè)備可單機(jī)操作，亦可連接至電腦操作
?測(cè)試通道64/128/256/512，更多通道可快速擴(kuò)展
?自學(xué)習(xí)功能，快速檢測(cè)未知線束的通路、短路、斷路等連接關(guān)系
?直流高壓測(cè)試電壓DC50V~750V，精度±5%
?交流高壓測(cè)試電壓AC50V~500V，精度±5%
?高壓檢測(cè)完成后自動(dòng)復(fù)位，提高檢測(cè)安全性

航天電纜檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

本文有關(guān)線纜測(cè)試儀內(nèi)容由西安安泰電子發(fā)布，如想了解更多內(nèi)容，請(qǐng)持續(xù)關(guān)注安泰電子。

編輯：fqj