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最新型單光子探測器特性測試分析設(shè)備SPD2200

MEMS ? 來源:麥姆斯咨詢 ? 作者:麥姆斯咨詢 ? 2022-04-01 15:04 ? 次閱讀
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據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,光電傳感器表征專家光焱科技(Enlitech)日前推出全球第一套商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化的最新型單光子探測器 (SPD, Single Photon Detector) 特性測試分析設(shè)備SPD2200。光焱科技整合了所有先進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能,助力客戶加速直接飛行時(shí)間(dToF)單光子雪崩二極管(SPAD)產(chǎn)品的開發(fā)周期,提升競爭力。

測試分析

SPD2200具備的全光譜性能測試包含:

- 全光譜光譜響應(yīng) (SR, Spectral Responsivity)

- 全光譜量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)

- 全光譜光子探測率 (PDP, Photon Detection Probability)

- 暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)

- 崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)

db971fac-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

在不同電壓下,SPAD光子探測效率的PDE光譜

dbac1588-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖

dbc58ac2-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析,包含:

- Jitter

- Afterpulsing probability

- Diffusion tail

- SNR

dc0fba0c-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

SPAD的Jitter測量

適用范圍

SPD2200適用各種傳感器測試分析,包含:

- SPAD

- SPD (Single Photon Detector)

- SiPM (Si PhotoMultiplier)

- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)

- dToF Light Sensor

- LiDAR Sensor

- Wafer Level SPAD

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:Enlitech新型單光子探測器測試設(shè)備,加速dToF SPAD產(chǎn)品開發(fā)

文章出處:【微信號:MEMSensor,微信公眾號:MEMS】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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