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      最新型單光子探測(cè)器特性測(cè)試分析設(shè)備SPD2200

      MEMS ? 來(lái)源：麥姆斯咨詢 ? 作者：麥姆斯咨詢 ? 2022-04-01 15:04 ? 次閱讀
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      據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道，光電傳感器表征專家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化的最新型單光子探測(cè)器 （SPD， Single Photon Detector） 特性測(cè)試分析設(shè)備SPD2200。光焱科技整合了所有先進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能，助力客戶加速直接飛行時(shí)間（dToF）單光子雪崩二極管（SPAD）產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)周期，提升競(jìng)爭(zhēng)力。

      測(cè)試分析

      SPD2200具備的全光譜性能測(cè)試包含：

      - 全光譜光譜響應(yīng) （SR， Spectral Responsivity）

      - 全光譜量子效率 （EQE， External Quantum Efficiency）

      - 全光譜光子探測(cè)率 （PDP， Photon Detection Probability）

      - 暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）

      - 崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

      db971fac-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

      在不同電壓下，SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜

      dbac1588-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

      SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖

      dbc58ac2-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

      SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

      SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

      - Jitter

      - Afterpulsing probability

      - Diffusion tail

      - SNR

      dc0fba0c-b16c-11ec-aa7f-dac502259ad0.png

      SPAD的Jitter測(cè)量

      適用范圍

      SPD2200適用各種傳感器測(cè)試分析，包含：

      - SPAD

      - SPD （Single Photon Detector）

      - SiPM （Si PhotoMultiplier）

      - MPPCs （Multi-Pixel Photon Counter）

      - dToF Light Sensor

      - LiDAR Sensor

      - Wafer Level SPAD

      審核編輯 ：李倩

      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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      原文標(biāo)題：Enlitech新型單光子探測(cè)器測(cè)試設(shè)備，加速dToF SPAD產(chǎn)品開(kāi)發(fā)

      文章出處：【微信號(hào)：MEMSensor，微信公眾號(hào)：MEMS】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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