在半導體測試領域，管理成本仍然是最艱巨的挑戰(zhàn)之一，因為自動測試設備 （ATE） 是一項主要的資本支出。降低每個晶圓成本的一種方法，從而獲得競爭優(yōu)勢？增加吞吐量。

為其晶圓廠評估新 ATE 系統(tǒng)的半導體制造商要求每一代產品都具有更高的密度（即更多通道），但要采用相同的外形尺寸，以最大限度地利用其現有的工廠占地面積。有了更多的渠道，他們可以測試更復雜的產品或相同產品的更大容量。

在這種環(huán)境下，ATE 設計人員努力增加每一代的通道數量并不少見。增加測試能力意味著主板——一個帶有很多引腳驅動電子設備的驅動板——將需要大量的電力來運行。當然，從長期性能和可靠性的角度來看，降低設備溫度很重要。這意味著底層技術應該是高效、快速和小型的。

用于 ATE 系統(tǒng)的雙通道引腳電子器件

創(chuàng)建新 ATE 系統(tǒng)的設計人員可以增加通道數量，同時通過將 IC 放在更靠近的板上來保持相同的外形尺寸。這將產生更多的功耗，這可以通過用于空氣冷卻的散熱器或液體冷卻來解決。然而，液體冷卻是一個復雜的解決方案，需要高度專業(yè)化的技能。

或者，設計人員可以仔細查看設備內部的引腳電子器件。提供更高集成度的 IC 將提供所需的功能，而無需增加材料清單 （BOM） 或增加分立元件的設計尺寸。IC 的工藝幾何結構也需要考慮。正在考慮的 IC 可能支持大量通道，但它的制造工藝是否能夠產生設計所需的效率和尺寸？

Maxim 擁有針對 ATE 架構進行優(yōu)化的定制設計晶圓工藝，MAX9979雙通道 1.1Gbps 引腳電子器件就是基于該工藝制造的。MAX9979 在單個 IC 中非常適合存儲器和 SoC 測試儀應用，提供：

驅動器/比較器/有源負載 （DCL）

每通道參數測量單元 （PMU）

內置 16 位電平設置數模轉換器 （DAC）

每個通道包括一個四電平引腳驅動器、窗口比較器、差分比較器、動態(tài)鉗位、一個多功能 PMU、一個有源負載、一個高壓可編程電平和 14 個獨立的電平設置 DAC。該設備是在具有金互連的工藝上設計的——通常不是標準功能，而是支持更高功率密度的工藝。它的雙極晶體管旨在提供對稱開關；因此，上升時間和下降時間非常匹配，因此當信號發(fā)送到被測設備時，該信號的質量在系統(tǒng)中盡可能對稱。

另一個性能優(yōu)勢來自 IC 的電纜下垂補償功能。此功能允許設計人員微調每個通道，以優(yōu)化被測設備 （DUT） 的波形。由于板上有多個通道，并非所有通道都具有相同長度的跟蹤或同軸電纜到 DUT。電纜下垂補償使用雙時間常數來改變波形，以便當波形到達 DUT 時，它會盡可能對稱。這種校準到 DUT 的信號驅動以及每個單獨通道的返回路徑上的相同信號的能力產生更清晰的信號質量。如果無法校正或調整波形，ATE 設計中使用的同軸電纜的選擇就變得更加關鍵。每個測試頭可以使用數百條這樣的電纜。較低的質量，也許更便宜，電纜會導致信號失真。校正波形的能力減輕了這種失真。如果沒有這種能力，獲得高質量信號的主要方法將是使用更高質量、更昂貴的同軸電纜。

要為您的下一個設計評估 MAX9979，請查看MAX9979 評估套件。該套件是完全組裝和測試的 PCB，包括高速數字 I/O 的 SMA 連接、MAX9979 引腳驅動器輸出和用戶可配置的 Windows GUI，提供了一種全面評估 IC 的簡單方法。

審核編輯：郭婷