通過(guò)datasheet我們知道這是一款單通道具有電流檢測(cè)功能的驅(qū)動(dòng)芯片，是高端驅(qū)動(dòng)即上橋臂MOS管驅(qū)動(dòng)，需要外接自舉二極管，IR2121則是低端驅(qū)動(dòng)即下橋臂MOS管驅(qū)動(dòng)，無(wú)需外接二極管。IR2125和IR2121分別配成上橋臂和下橋臂驅(qū)動(dòng)控制，因?yàn)樗麄冇型瑯拥尿?qū)動(dòng)電流可達(dá)1A，而IR2127只有200mA，跟他配對(duì)的下橋臂驅(qū)動(dòng)芯片沒(méi)有找到，所以我用了IR2127既作上橋臂驅(qū)動(dòng)也作為下橋臂驅(qū)動(dòng)。他的典型應(yīng)用如下圖所示；IR2128和IR2127差不多，只是輸出與輸入脈沖方向相反而已。

它是非隔離型，一般應(yīng)用于低壓驅(qū)動(dòng)場(chǎng)合，如果需要應(yīng)用到高壓驅(qū)動(dòng)，必須加隔離電路才行，盡管它的VB，VS耐壓高達(dá)625V.用于電機(jī)驅(qū)動(dòng)的是型號(hào)IR2127，VCC與COM端電壓一般在12V到20V之間。起初設(shè)計(jì)電壓在12.5V左右，在經(jīng)過(guò)自舉二極管后

到VB端的電壓小于VS+12V，導(dǎo)致芯片老是檢測(cè)到硬件過(guò)流信號(hào)，從而不能正常驅(qū)動(dòng)MOS管，后將VCC電壓提升到13.5V后，驅(qū)動(dòng)芯片才正常。CS腳就是用來(lái)檢測(cè)過(guò)流信號(hào)的，原理就是當(dāng)輸入IN腳為高電平時(shí)，芯片正常工作時(shí)輸出HO腳即為高，驅(qū)動(dòng)后面的MOS管導(dǎo)通，當(dāng)流過(guò)MOS管電流ID越大，則Uds=Id*Rd就越大，Uds減去二極管的壓降得到的電壓再經(jīng)過(guò)兩個(gè)電阻分壓即是CS腳的電壓，只要調(diào)整分壓電阻阻值就可以限定最大ID，如果是CS腳電壓大于0.25V，則最大延時(shí)360ns關(guān)閉HO腳輸出，同時(shí)最大延時(shí)510ns置位FAULT腳，注意該腳是開(kāi)漏輸出，外部需要接上拉電阻，正常時(shí)為高電平，過(guò)流報(bào)警后輸出為低電平。大家可以看下驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)部框圖如下所示。

然后我們可以看下芯片邏輯時(shí)序圖，通過(guò)時(shí)序圖我們就知道IR2127和IR2128的區(qū)別了，IR2128輸入為低電平時(shí)輸出為高電平，而IR2127輸入為高則輸出也是高電平，然后看下CS腳，正常時(shí)為電平時(shí)，F(xiàn)AULT腳為高電平，一旦檢測(cè)到過(guò)流則為高電平，F(xiàn)AULT腳也馬上變?yōu)榈碗娖剑瑫r(shí)HO腳輸出關(guān)斷，保護(hù)后面器件不被燒壞。在芯片正常工作時(shí)，輸入信號(hào)觸發(fā)到輸出信號(hào)的生成延時(shí)是非常短的，其中開(kāi)啟延時(shí)最大為ton+tr=200+130=330ns;關(guān)斷延時(shí)最大為toff+tf=200+65=265ns.值得注意的是，該芯片啟動(dòng)消隱時(shí)間波形，這個(gè)很重要，芯片正常啟動(dòng)是CS腳會(huì)拉高一下，同時(shí)FAULT腳也會(huì)同時(shí)變低，啟動(dòng)消隱時(shí)間最大為T(mén)bl=950ns，MCU在檢測(cè)FAULT腳時(shí)需要避開(kāi)這段時(shí)間，否則會(huì)引起系統(tǒng)誤操作。

啟動(dòng)消隱時(shí)間波形

之前說(shuō)過(guò)與該作下橋臂的驅(qū)動(dòng)芯片，官網(wǎng)也沒(méi)有找到，但是datasheet中有提到該芯片既可以做上橋臂也可以作為下橋臂使用（The floating channel can be used to drive an N-channel power MOSFET or IGBT in the high-side or low-side

configuration which operates up to 600 V.），如果用它來(lái)設(shè)計(jì)下橋臂，由于下橋臂無(wú)需自舉二極管，設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)電路時(shí)，其他和上橋臂保持一致，只是將自舉二極管改為0歐姆電阻替代。電路原理設(shè)計(jì)如下所示。

經(jīng)過(guò)實(shí)際電路測(cè)試，改進(jìn)的電路穩(wěn)定可以行，已經(jīng)成功應(yīng)用在產(chǎn)品中。