在這一步驟中，要獲取或構(gòu)建多個組件或子系統(tǒng)，同時組裝原型。大多數(shù)“傳統(tǒng)”的試驗和分析都是在這一階段進(jìn)行的，包括對從供應(yīng)商那里獲得的組件和子系統(tǒng)進(jìn)行連續(xù)取樣，用于 Minitab 中的加速壽命試驗和壽命數(shù)據(jù)回歸。

當(dāng)進(jìn)入制造階段時，可靠性設(shè)計工作應(yīng)主要集中在減少或消除制造過程中可能出現(xiàn)的問題。制造會在以下任何方面引入變化：材料、過程、制造場所、操作人員和污染?？紤]到這些額外的變量，應(yīng)該重新評估產(chǎn)品的可靠性。為了提高穩(wěn)健性，可能需要對設(shè)計進(jìn)行修改。

成功實施這一步驟的關(guān)鍵檢查點包括：
（1）根據(jù)經(jīng)驗設(shè)計 (DOE) 技術(shù)確定的、以結(jié)構(gòu)化方式計劃和運行的實驗，驗證（或確認(rèn)）要求是否得到滿足
（2）增進(jìn)對產(chǎn)品和過程的了解
（3）了解通過分析實驗運行結(jié)果確定的關(guān)鍵使用、設(shè)計和環(huán)境參數(shù)的影響（和相互作用）
（4）識別缺陷（不足）和需要改進(jìn)設(shè)計的領(lǐng)域
（5）對半工業(yè)化生產(chǎn)線的產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗

讓我們看一個例子，我們使用加速壽命試驗來模擬產(chǎn)品在極端壓力水平下的性能，并將結(jié)果推斷到正常使用條件。

加速壽命試驗

1.案例背景

某可靠性工程師想要研究電子設(shè)備的晶體管之間的漏電情況。當(dāng)漏電達(dá)到某個閾值時，電子設(shè)備會失效。為了加快檢驗的失效速度，檢驗設(shè)備的溫度比正常溫度高得多。每兩天檢查設(shè)備的失效情況。工程師執(zhí)行了加速壽命試驗，以估計設(shè)備在正常操作條件 (55° C) 和最壞情況操作條件 (85° C) 下失效所需的時間。工程師想確定B5的壽命（5% 的設(shè)備失效所需的估計時間）。

2.Minitab操作

3.Minitab結(jié)果解釋

基于擬合模型的概率圖可以幫助您確定在加速變量每個水平上的分布、變換以及相等形狀假定 (Weibull) 是否合適。對于這些數(shù)據(jù)來說，這些點近似呈一條直線。因此，模型的假定對于加速變量水平是合適的。

結(jié)果：根據(jù)百分位數(shù)表中的結(jié)果，工程師可以得出以下結(jié)論：
在設(shè)計溫度 (55° C) 下，5% 的設(shè)備將在大約 760 天（略高于 2 年）后故障。
在最惡劣溫度 (85° C)下，5% 的設(shè)備將在大約 81 天后故障。
這些結(jié)果也顯示在下面的關(guān)系圖中。

通過使用更苛刻的工作環(huán)境，在該示例中是升高試驗期間的溫度，工程師能夠迅速獲得壽命數(shù)據(jù)。這些結(jié)果是通過擬合物理上合理的統(tǒng)計模型得出的，以獲得在較低水平、正常水平的操作條件或壓力下的壽命或長期可靠性估計。

現(xiàn)在，產(chǎn)品已經(jīng)進(jìn)入批量生產(chǎn)，制造和裝配過程可能會影響其可靠性性能，此時我們要進(jìn)入最后一步：維持、監(jiān)控和控制可靠性。

審核編輯：符乾江