用戶會出于各種原因而需要測量器件的阻抗。一個典型的情況是工程師們需要對用在其所設(shè)計的電路中的器件的阻抗特性進(jìn)行測量，因?yàn)橥ǔＧ闆r下這些器件的供應(yīng)商只給出了器件阻抗值的額定數(shù)據(jù)。

測量阻抗有幾種不同的技術(shù)和方法，應(yīng)該根據(jù)測量的頻率范圍、要測量的阻抗參數(shù)以及想要顯示的測量結(jié)果來選擇一個具體的測試技術(shù)。

自動平衡電橋技術(shù)在從毫歐到兆歐很寬的阻抗測量范圍內(nèi)有極高的測量精度，與之相適應(yīng)的測量頻率范圍可以從幾 Hz 到 110 MHz。

IV 和 RF-IV 技術(shù)在從毫歐姆到兆歐姆的阻抗測量范圍內(nèi)的測量精度同樣很好，與之相適應(yīng)測量頻率范圍可以從 40 Hz 到 3 GHz 左右。

傳輸 / 反射技術(shù)在非常寬的頻率范圍，從 5 Hz 到 110 GHz 以上，測量 50 歐姆或 75 歐姆附近的阻抗值時，具有非常高的測量精度。

LCR 表和阻抗分析儀的主要區(qū)別之一是它們對測量結(jié)果的顯示方式。 LCR 表用數(shù)字顯示測量結(jié)果，而阻抗分析儀既可以用數(shù)字也可以用圖形顯示測量結(jié)果。

LCR 表或阻抗分析儀所采用的測量技術(shù)和儀表的類型無關(guān)，根據(jù)測量的頻率范圍，它們可以采用 RF-IV、IV 或自動平衡電橋技術(shù)。

器件阻抗的測量結(jié)果還會受到在測量時所選擇的測量信號的大小的影響。

電容值 ( 或材料的介電常數(shù)，即 K值 ) 的測量結(jié)果會依賴于交流測量信號電壓值的大小。

電感值 ( 或材料的磁滯特性 ) 的測量結(jié)果會依賴于交流測量信號電流值的大小。

在測量時實(shí)際施加在被測器件兩側(cè)的交流電壓 VDUT 是和它自身的阻抗、信號源的內(nèi)阻以及信號源的輸出電壓有關(guān)的。

使用儀表的自動電平控制 (ALC)功能可使被測器件 (DUT) 兩側(cè)的電壓保持在一個恒定的值上。如果儀表內(nèi)部沒有 ALC 功能但是有監(jiān)測信號大小的功能，可以利用這個功能給這種儀表編寫一個相當(dāng)于 ALC 功能的控制程序來保證被測器件兩端上的電壓穩(wěn)定。

在現(xiàn)實(shí)世界中沒有器件是純粹的的電阻、純粹的電容、純粹的電感。任何常用的器件通常都會有一些寄生參數(shù) ( 例如由器件的引腳、材料等引起的寄生電阻、寄生電感和寄生電容 ) 存在，表現(xiàn)器件主要特性的部分和寄生參數(shù)部分結(jié)合在一起會使一個簡單的器件在實(shí)際工作中表現(xiàn)得就像一個復(fù)雜的電路一樣。

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審核編輯：湯梓紅