TrueScale Matrix 300mm晶圓探針卡已通過主要汽車制造商的驗證，并已部署到各種測試儀平臺（T2000，V93K DD，J750），可應(yīng)對零缺陷挑戰(zhàn)。

汽車半導(dǎo)體市場正在快速增長，預(yù)計到2016年至2023年，復(fù)合年增長率將在3％至14％之間，到2021年將達到430億美元。在當(dāng)今更現(xiàn)代化的汽車中，半導(dǎo)體芯片的數(shù)量正在變多，部分原因是更多關(guān)鍵的安全系統(tǒng)，更高的燃油效率技術(shù)，導(dǎo)航和通信技術(shù)的發(fā)展，舒適性和娛樂功能以及自主和輔助駕駛技術(shù)的進步。

因此，我們看到雷達，激光雷達和圖像傳感器，RF /mm Wave芯片以及微控制器數(shù)量的飛速增長，以幫助支持這些新的車輛開發(fā)。 挑戰(zhàn)在于，IC制造商需要在自然挑戰(zhàn)的環(huán)境中采用零缺陷需求協(xié)議。畢竟，車輛的設(shè)計使用壽命為10年或更長時間（以您的手機為例），并且要承受嚴酷的汽車使用環(huán)境要求。此外，晶圓測試供應(yīng)商需要在不增加測試成本的情況下擴大測試范圍。在今年早些時候的芯片規(guī)模評估文章“零缺陷世界中的汽車IC生產(chǎn)晶圓測試”中，我司的Amy Leong回應(yīng)了這一挑戰(zhàn)。

晶圓探測是一種“接觸運動”。探針施加在晶圓測試焊盤上的力越大，則在焊盤下方的電路中產(chǎn)生缺陷的機會就越大。為了支持零缺陷制造工藝，探針卡的設(shè)計必須具有盡可能輕的力，以消除焊盤下裂紋的任何可能性，同時保持足夠高的力以確保穩(wěn)定的電接觸和最佳的測試良率。

為了應(yīng)對這一挑戰(zhàn)，我們引入了TrueScale Matrix 300mm全晶片探針卡通過最大化測試吞吐量并提供零缺陷探測過程，可以降低測試成本。艾米在文章中談到了四種功能：

1.最大化了覆蓋整個300mm晶圓的探測面積，從而提供了在測試儀通道允許的情況下測試盡可能多的芯片的機會，而沒有任何面積限制。大多數(shù)備用探針卡僅限于100mm至150mm的探測區(qū)域。

2.它具有專有的觸地優(yōu)化工具，可讓您創(chuàng)建有創(chuàng)造力的模式以最大化吞吐量。與矩形探針卡的“實心墻”圖案相比，“彩虹”圖案提供的觸地得分更低。簡而言之，圓形探測圖案對于圓形晶片更有效。

3.我們專有的TRE?（測試資源增強）技術(shù)可提高晶片測試的吞吐量。 TRE選項可以智能地分割單個測試器資源以測試多個管芯，而不會影響測試質(zhì)量。

4.提供超低力設(shè)計以支持零缺陷制造。探針采用超低力設(shè)計（每個探針的探針力小于2克），以確保在同一探針板位置多次插入探針后，探針板下方的有源電路不會受到干擾。

TrueScale Matrix 300mm晶圓探針卡已獲得主要汽車制造商的驗證，并已部署到各種測試儀平臺（T2000，V93K DD，J750），可幫助制造商應(yīng)對零缺陷挑戰(zhàn)。

審核編輯：符乾江