chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

PCB/PCBA可靠性失效問(wèn)題的原因

gzkuozhi ? 來(lái)源:gzkuozhi ? 作者:gzkuozhi ? 2022-07-19 09:27 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

PCB在實(shí)際可靠性問(wèn)題失效分析中,同一種失效模式,其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的,因此就如同查案一樣,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,方能找到真正的失效原因。避免造成“冤假錯(cuò)案”發(fā)生。

可靠性問(wèn)題的一般分析思路

背景信息收集

背景信息是可靠性問(wèn)題失效分析的基礎(chǔ),直接影響后續(xù)所有失效分析的走向,并對(duì)最終的機(jī)理判定產(chǎn)生決定性影響。因此,失效分析之前,應(yīng)盡可能地收集到失效背后的信息,通常包括但不僅限于:

(1)失效范圍:失效批次信息和對(duì)應(yīng)的失效率

①若是大批量生產(chǎn)中的單批次出問(wèn)題,或者失效率較低時(shí),那么工藝控制異常的可能性更大;

②若是首批/多批次均有問(wèn)題,或者失效率較高時(shí),則不可排除材料和設(shè)計(jì)因素的影響;

(2)失效前處理:失效發(fā)生前,PCB或PCBA是否經(jīng)過(guò)了一系列前處理流程。常見(jiàn)的前處理包括回流前烘烤、有/無(wú)鉛回流焊接、有/無(wú)鉛波峰焊接和手工焊接等,必要時(shí)需詳細(xì)了解各前處理流程所用的物料(錫膏、鋼網(wǎng)、焊錫絲等)、設(shè)備(烙鐵功率等)和參數(shù)(回流曲線、波峰焊參數(shù)、手焊溫度等)信息;

(3)失效情境:PCB或PCBA失效時(shí)的具體信息,有的是在前處理比如說(shuō)焊接組裝過(guò)程中就已失效,比如可焊性不良、分層等;有的則是在后續(xù)的老化、測(cè)試甚至使用過(guò)程中失效,比如CAF、ECM、燒板等;需詳細(xì)了解失效過(guò)程和相關(guān)參數(shù);

失效PCB/PCBA分析

一般來(lái)說(shuō)失效品的數(shù)量是有限的,甚至僅有一塊,因此對(duì)于失效品的分析一定要遵循由外到內(nèi),由非破壞到破壞的逐層分析原則,切忌過(guò)早破壞失效現(xiàn)場(chǎng):

(1)外觀觀察

外觀觀察是失效品分析的第一步,通過(guò)失效現(xiàn)場(chǎng)的外觀形態(tài)并結(jié)合背景信息,有經(jīng)驗(yàn)的失效分析工程師能夠基本判斷出失效的數(shù)個(gè)可能原因,并針對(duì)性地進(jìn)行后續(xù)分析。但需要注意的是,外觀觀察的方式很多,包括目視、手持式放大鏡、臺(tái)式放大鏡、立體顯微鏡和金相顯微鏡等。然而由于光源、成像原理和觀察景深的不同,對(duì)應(yīng)設(shè)備觀察出的形貌需要結(jié)合設(shè)備因素綜合分析,切忌貿(mào)然判斷形成先入為主的主觀臆測(cè),使得失效分析進(jìn)入錯(cuò)誤的方向,浪費(fèi)寶貴的失效品和分析時(shí)間。

(2)深入無(wú)損分析

有些失效單單采用外觀觀察,不能收集到足夠的失效信息,甚至連失效點(diǎn)都找不到,比如分層、虛焊和內(nèi)開(kāi)等,這時(shí)候需借助其他無(wú)損分析手段進(jìn)行進(jìn)一步的信息收集,包括超聲波探傷、3D X-RAY、紅外熱成像、短路定位探測(cè)等。

在外觀觀察和無(wú)損分析階段,需注意不同失效品之間的共性或異性特征,對(duì)后續(xù)的失效判斷有一定借鑒意義。在無(wú)損分析階段收集到足夠的信息后,就可以開(kāi)始針對(duì)性的破壞分析了。

(3)破壞分析

失效品的破壞分析是不可少的,且是最關(guān)鍵的一步,往往決定著失效分析的成敗。破壞分析的方法很多,常見(jiàn)的如掃描電鏡&元素分析、水平/垂直切片、FTIR等,本節(jié)不作贅述。在此階段,失效分析方法固然重要,但更重要的是對(duì)缺陷問(wèn)題的洞察力和判斷力,并對(duì)失效模式和失效機(jī)理有正確清楚的認(rèn)識(shí),方可找到真正的失效原因。

復(fù)現(xiàn)試驗(yàn)

當(dāng)失效率很低且無(wú)法從裸板PCB分析中得到幫助時(shí),有必要對(duì)PCB缺陷進(jìn)行復(fù)現(xiàn)并進(jìn)一步復(fù)現(xiàn)失效品的失效模式,使得失效分析形成閉環(huán)。

裸板PCB分析

當(dāng)失效率很高時(shí),對(duì)于裸板PCB的分析是有必要的,可作為失效原因分析的補(bǔ)充。當(dāng)失效品分析階段得到的失效原因是裸板PCB的某項(xiàng)缺陷導(dǎo)致了進(jìn)一步的可靠性失效,那么若裸板PCB有同樣的缺陷時(shí),經(jīng)過(guò)與失效品相同的處理流程后,應(yīng)體現(xiàn)出與失效品相同的失效模式。若沒(méi)有復(fù)現(xiàn)出相同的失效模式,那只能說(shuō)明失效品的原因分析是錯(cuò)誤的,至少是不全面的。

在面臨著PCB可靠性失效日益增多的今天,失效分析對(duì)于設(shè)計(jì)優(yōu)化、工藝改善、材料選型提供了重要的第一手信息,是可靠性增長(zhǎng)的起點(diǎn)。如需了解更深入的PCB/PCBA板檢測(cè)和失效問(wèn)題,請(qǐng)私信交流??!

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • pcb
    pcb
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4382

    文章

    23638

    瀏覽量

    417739
  • 電路板
    +關(guān)注

    關(guān)注

    140

    文章

    5206

    瀏覽量

    105586
  • PCBA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    24

    文章

    1839

    瀏覽量

    55240
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    PCBA工廠只看設(shè)備?這些“軟實(shí)力”才是可靠性命門(mén)!

    一站式PCBA加工廠家今天為大家講講怎么判斷PCBA工廠可靠性?判斷PCBA工廠可靠性的四個(gè)關(guān)鍵方面。判斷
    的頭像 發(fā)表于 10-15 09:04 ?182次閱讀

    怎么找出PCB光電元器件失效問(wèn)題

    在電子信息產(chǎn)品中,PCB作為元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)年P(guān)鍵樞紐,其質(zhì)量與可靠性對(duì)整機(jī)設(shè)備起著決定性作用。隨著產(chǎn)品小型化及環(huán)保要求的提升,PCB正向高密度、高Tg和環(huán)保方向發(fā)展。然而,受成本和技術(shù)
    的頭像 發(fā)表于 08-15 13:59 ?462次閱讀
    怎么找出<b class='flag-5'>PCB</b>光電元器件<b class='flag-5'>失效</b>問(wèn)題

    基于硅基異構(gòu)集成的BGA互連可靠性研究

    在異構(gòu)集成組件中,互連結(jié)構(gòu)通常是薄弱處,在經(jīng)過(guò)溫度循環(huán)、振動(dòng)等載荷后,互連結(jié)構(gòu)因熱、機(jī)械疲勞而斷裂是組件失效的主要原因之一。目前的研究工作主要集中在芯片焊點(diǎn)可靠性上,且通常球形柵格陣列(Ball
    的頭像 發(fā)表于 07-18 11:56 ?1750次閱讀
    基于硅基異構(gòu)集成的BGA互連<b class='flag-5'>可靠性</b>研究

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    無(wú)需封裝:熱阻低,允許施加更高溫度和大電流密度而不引入新失效機(jī)理;實(shí)時(shí)反饋:與工藝開(kāi)發(fā)流程深度融合,工藝調(diào)整后可立即通過(guò)測(cè)試反饋評(píng)估可靠性影響;行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化:主流廠商均發(fā)布WLR技術(shù)報(bào)告,推動(dòng)其成為工藝
    發(fā)表于 05-07 20:34

    電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性分析

    可靠性是電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的重要指標(biāo),延長(zhǎng)電機(jī)平均故障間隔時(shí)間(MTBF),縮短平均修復(fù)時(shí)間(MTTR)是可靠性研究的目標(biāo)。電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的故障分為硬件故障和軟件故障,分析故障的性質(zhì)和產(chǎn)生原因,有
    發(fā)表于 04-29 16:14

    IGBT的應(yīng)用可靠性失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問(wèn)題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應(yīng)、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問(wèn)題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?1834次閱讀
    IGBT的應(yīng)用<b class='flag-5'>可靠性</b>與<b class='flag-5'>失效</b>分析

    保障汽車(chē)安全:PCBA可靠性提升的關(guān)鍵要素

    汽車(chē)電子PCBA可靠性提升要點(diǎn) 隨著汽車(chē)智能化、網(wǎng)聯(lián)化的快速發(fā)展,汽車(chē)電子在整車(chē)中的占比不斷提升,其重要日益凸顯。作為汽車(chē)電子的核心部件,PCBA(印制電路板組裝)的
    的頭像 發(fā)表于 04-14 17:45 ?413次閱讀

    PCB失效分析技術(shù):保障電子信息產(chǎn)品可靠性

    在現(xiàn)代電子信息產(chǎn)業(yè)中,PCB(印刷電路板)作為元器件的載體和電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~,其質(zhì)量與可靠性水平直接決定了整機(jī)設(shè)備的性能表現(xiàn)。然而,由于成本控制和技術(shù)限制,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中常常出現(xiàn)各種
    的頭像 發(fā)表于 03-17 16:30 ?689次閱讀
    <b class='flag-5'>PCB</b><b class='flag-5'>失效</b>分析技術(shù):保障電子信息產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性</b>

    PCBA應(yīng)變測(cè)試:確保電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵

    PCBA應(yīng)變測(cè)試:確保電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵
    的頭像 發(fā)表于 02-25 17:28 ?739次閱讀
    <b class='flag-5'>PCBA</b>應(yīng)變測(cè)試:確保電子產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性</b>的關(guān)鍵

    一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

    驗(yàn)證產(chǎn)品性能的重要手段,更是提高產(chǎn)品可靠性和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過(guò)對(duì)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,可以提前發(fā)現(xiàn)潛在的故障模式和失效機(jī)制,從而為設(shè)計(jì)優(yōu)化和工藝改進(jìn)提供
    的頭像 發(fā)表于 02-21 14:50 ?1383次閱讀
    一文讀懂芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>試驗(yàn)項(xiàng)目

    PCBPCBA失效分析的流程與方法

    PCB失效分析:步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~PCB(PrintedCircuitBoard,印刷電路板)已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性
    的頭像 發(fā)表于 01-20 17:47 ?1256次閱讀
    <b class='flag-5'>PCB</b>及<b class='flag-5'>PCBA</b><b class='flag-5'>失效</b>分析的流程與方法

    可靠性測(cè)試:HAST與PCT的區(qū)別

    HAST測(cè)試的核心宗旨HAST測(cè)試的核心宗旨宗旨:HAST測(cè)試的主要宗旨是通過(guò)模擬極端環(huán)境條件,加速半導(dǎo)體元器件的失效過(guò)程,以此來(lái)驗(yàn)證元器件在高溫、高濕、高壓條件下的可靠性。這種測(cè)試方法能夠有效縮短
    的頭像 發(fā)表于 12-27 14:00 ?1324次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試:HAST與PCT的區(qū)別

    微電子器件可靠性失效分析程序

    微電子器件可靠性失效分析程序
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?1997次閱讀
    微電子器件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>失效</b>分析程序

    PCB可靠性測(cè)試:開(kāi)啟電子穩(wěn)定之旅

    PCB 可靠性測(cè)試是確保印刷電路板質(zhì)量的一系列檢測(cè)。它主要模擬 PCB 在實(shí)際使用中面臨的各種情況。包括環(huán)境測(cè)試,像檢測(cè)其在高低溫、濕度變化等條件下是否能正常工作,避免腐蝕等問(wèn)題;還有機(jī)械測(cè)試,評(píng)估
    的頭像 發(fā)表于 10-24 17:36 ?1252次閱讀

    電子行業(yè)PCB失效現(xiàn)狀:改進(jìn)措施與激光焊錫技術(shù)(下)

    本文深入分析了國(guó)內(nèi)印制電路板(PCB)產(chǎn)品的失效現(xiàn)狀,并提出了針對(duì)的改進(jìn)建議。通過(guò)對(duì)數(shù)百個(gè)失效案例的統(tǒng)計(jì)分析,我們發(fā)現(xiàn)PCB自身質(zhì)量異常是
    的頭像 發(fā)表于 10-24 11:12 ?767次閱讀
    電子行業(yè)<b class='flag-5'>PCB</b><b class='flag-5'>失效</b>現(xiàn)狀:改進(jìn)措施與激光焊錫技術(shù)(下)