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芯片功能測試推拉力測試機(jī)

力標(biāo)精密設(shè)備 ? 來源:力標(biāo)精密設(shè)備 ? 作者:力標(biāo)精密設(shè)備 ? 2022-11-18 16:53 ? 次閱讀
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在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中,表面貼裝技術(shù)已經(jīng)成為常見的生產(chǎn)工藝。在表面貼裝生產(chǎn)過程中,需要對安裝在印刷電路板上的器件進(jìn)行推力測試,為了測試安裝在印刷電路板上的器件的可靠性,以確認(rèn)其焊接保持力符合要求?,F(xiàn)有的半導(dǎo)體推力測試儀和方法容易導(dǎo)致裝置或印刷電路板報(bào)廢,造成資源浪費(fèi)。 為了解決上述當(dāng)前半導(dǎo)體推力測試儀導(dǎo)致設(shè)備或印刷電路板報(bào)廢從而導(dǎo)致成本增加的技術(shù)問題,技術(shù)人員研發(fā)提供了一種半導(dǎo)體推力測試儀。該半導(dǎo)體推力測試儀包括頂針套,頂針套的一端設(shè)有與內(nèi)部連通的開口,頂針套內(nèi)部中空;彈性組件設(shè)置在頂針套內(nèi);測試頂針具有位于頂針套內(nèi)且可抵靠彈性部的第一端,以及與第一端相對設(shè)置并延伸出頂針套的第二端,測試頂針可移動(dòng)地設(shè)置在頂針套內(nèi),并可沿頂針套的軸向往復(fù)運(yùn)動(dòng);半導(dǎo)體推力測試儀測試頂針的第一端擠壓壓縮彈性元件當(dāng)測試頂針的第二端推動(dòng)被測器件時(shí),測試頂針部分或全部縮入頂針套內(nèi),使測試頂對被測器件的推力等于被測器件的標(biāo)準(zhǔn)焊接保持力,從而實(shí)現(xiàn)被測器件的推力測試。技術(shù)人員還提供了一種推力測試方法,該方法使用第一方面提供的任何推力測試儀來測試被測器件的推力,該方法包括:將半導(dǎo)體推力測試儀的測試套管端沿著被測器件的側(cè)面抵靠在被測器件上,并將被測器件焊接到印刷電路板上;沿測試頂針的軸向推動(dòng)推力測試儀,使半導(dǎo)體推力測試儀的測試頂對被測裝置的推力等于被測裝置的標(biāo)準(zhǔn)焊接保持力;如果被測器件沒有從印刷電路板上脫落,則被測器件的推力測試合格;如果被測器件從印刷電路板上脫落,則被測器件的推力測試失敗。 從上面可以看出,上述半導(dǎo)體推力測試儀及推力測試方法包括:套管,套管內(nèi)部為中空,套管的一端設(shè)有與內(nèi)部連通的開口;彈性組件設(shè)置在頂針套內(nèi);測試頂針可沿頂針套的軸向往復(fù)運(yùn)動(dòng),并可移動(dòng)地設(shè)置在頂針套內(nèi),測試頂針具有位于頂針套內(nèi)且可抵靠彈性組件的第一端,以及相對設(shè)置并延伸出頂針套的第二端。測試頂針的第一端擠壓壓縮彈性元件當(dāng)測試頂針的第二端推動(dòng)被測裝置時(shí),使測試頂針的第二端部分或全部縮入頂針套內(nèi),從而實(shí)現(xiàn)被測裝置的推力測試。推力測試儀用于測試裝置的推力。當(dāng)測試頂針推動(dòng)被測器件時(shí),測試頂針的另一端壓住彈性元件,彈性元件的彈性與測試頭對被測器件的推力相同。當(dāng)彈性元件的彈性達(dá)到被測裝置的推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可以判斷被測裝置的推力合格,從而避免被測裝置報(bào)廢,節(jié)約檢測成本。

審核編輯 黃昊宇

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