由于半導(dǎo)體設(shè)計的復(fù)雜性、規(guī)模和任務(wù)關(guān)鍵型操作的增加,集成電路驗證要求也隨之大幅擴(kuò)展。
對于SPICE 級別的驗證,ML 方法提供了一種強(qiáng)大的手段來克服傳統(tǒng)暴力窮舉蒙特卡羅方法的局限性。
除了以大幅縮短的運(yùn)行時間實現(xiàn) SPICE 驗證之外,還有幾個主要因素決定了 ML 解決方案是否可以投入生產(chǎn):可驗證性、準(zhǔn)確性、通用性、穩(wěn)健性和可用性。
ML 解決方案可以分為 0 級(無 ML)到 4 級(完全產(chǎn)品級就緒)。
為實現(xiàn)更高級別的 ML 能力,所需要的研發(fā)工作量和生產(chǎn)測試相比前一個級別呈指數(shù)式增加。
圖 1. 采用 Solido 機(jī)器學(xué)習(xí)的 3 級 ML 能力。
支持 ML 的解決方案 Solido High-Sigma Verifier 是Solido Variation Designer 的一部分,能夠以少幾個數(shù)量級的仿真運(yùn)行時間提供與完全暴力窮舉法一樣準(zhǔn)確的 4、5、6+ sigma 驗證結(jié)果。
High-Sigma Verifier 使設(shè)計和驗證團(tuán)隊能夠提高驗證精度和覆蓋率,同時顯著縮短設(shè)計計劃時間。
High-Sigma Verifier 是 3 級 ML 算法設(shè)計的一個例子,通過大規(guī)模生產(chǎn)使用和迭代改進(jìn),它正在迅速接近 4 級。
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:在用于 IC 驗證的產(chǎn)品級工程解決方案中使用機(jī)器學(xué)習(xí) (ML) 方法
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