1、軟件概述

◆NS-SourceMeter雙通道源表程控軟件用于實(shí)現(xiàn)吉時(shí)利源表的上位機(jī)控制功能，通過(guò)在軟件上的相應(yīng)操作，控制雙通道源表進(jìn)行配置或者測(cè)量，同時(shí)可以對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)和圖形進(jìn)行保存。

◆NS-SourceMeter源表程控軟件由計(jì)算機(jī)和源表組成，通過(guò)計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)源表的控制，進(jìn)行相應(yīng)的配置后，使用源表測(cè)量相應(yīng)參數(shù)，并進(jìn)行保存和導(dǎo)出。

2、軟件特點(diǎn)

◆系統(tǒng)兼容吉時(shí)利源表中2600 系列（雙通道）；

◆系統(tǒng)為源表提供 USB、RS232、LAN 或者 GPIB 的連接方式；

◆系統(tǒng)可實(shí)時(shí)顯示源表測(cè)試到的數(shù)據(jù)，同時(shí)進(jìn)行圖形繪制；

◆系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)配置信息、測(cè)試數(shù)據(jù)和圖形的導(dǎo)出，配置信息和測(cè)試數(shù)據(jù)可選擇 CSV 格式或者 txt 格式導(dǎo)出。

◆系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)I-V、I-P、I-R、V-P、V-R、R-P、R-t、V/A-t、P-t的圖像。

NS-SourceMeter雙通道源表程控軟件與Kickstart優(yōu)勢(shì)對(duì)比

3、應(yīng)用場(chǎng)景

多種大電流器件、材料、元件和組件進(jìn)行測(cè)試，對(duì)尖端半導(dǎo)體和納米技術(shù)器件以及精細(xì)材料(如石墨烯)進(jìn)行精確測(cè)量。包括LED直流檢定和生產(chǎn)測(cè)試、激光二極管陣列測(cè)試、場(chǎng)效應(yīng)管FET測(cè)試、CMOS集成電路和電子產(chǎn)品測(cè)量靜態(tài)電流（漏電流IDDQ測(cè)試）、三極管測(cè)試等。

4、兼容的部分儀器型號(hào)

可對(duì)吉時(shí)利2600系列雙通道源表全面兼容

◆Keithley2600系列：2602B、2604B、2606B、2612B、2614B、2634B、2636B等

6、軟件功能介紹

6.1、軟件主界面

6.2、掃描

掃描測(cè)試界面，每個(gè)通道可提供獨(dú)立的直流或脈沖輸出與測(cè)量：

源的類(lèi)型分為直流、脈沖，源功能有電壓及電流。

當(dāng)源類(lèi)型選擇直流時(shí)，模式有恒定輸出、線性掃描、對(duì)數(shù)掃描三種方式。需要注意的是：雙通道的類(lèi)型選擇必須保持一致。

當(dāng)類(lèi)型-模式選擇“直流-恒定”時(shí)，需要設(shè)置輸出值（偏置電平）、輸出限制（鉗位值），選擇源范圍及測(cè)量范圍，選擇接地方式為二線法或四線法；

當(dāng)類(lèi)型-模式選擇“直流-掃描”時(shí)，需要設(shè)置掃描類(lèi)型為線性或?qū)?shù)，同時(shí)設(shè)置開(kāi)始值及結(jié)束值，當(dāng)輸入“輸出/掃描點(diǎn)數(shù)”后自動(dòng)計(jì)算出步長(zhǎng)值；

當(dāng)類(lèi)型-模式選擇“脈沖-脈沖串”時(shí)，需要設(shè)置脈沖幅度、脈沖基線等參數(shù)，選擇源范圍及測(cè)量范圍；

當(dāng)類(lèi)型-模式選擇“脈沖-掃描”時(shí)，需要設(shè)置起始幅度及終止幅度，當(dāng)輸入“輸出/掃描點(diǎn)數(shù)”后自動(dòng)計(jì)算出步長(zhǎng)值；

軟件提供保存并調(diào)用參數(shù)的功能，其作用是：可將所有的設(shè)置參數(shù)打包存為一個(gè)文件，當(dāng)再次使用該設(shè)置參數(shù)時(shí)可以直接進(jìn)行調(diào)用，無(wú)需重新設(shè)置參數(shù)。注意：當(dāng)軟件每次啟動(dòng)后，參數(shù)將保持上一次退出時(shí)的狀態(tài)。

設(shè)置完參數(shù)之后，點(diǎn)擊“測(cè)試”模塊即可準(zhǔn)備開(kāi)始測(cè)試，圖像窗口中可同時(shí)顯示雙通道的測(cè)量曲線，并且雙Y軸與X軸的測(cè)量值可自由切換，并且支持對(duì)數(shù)顯示。軟件還可支持截圖功能，點(diǎn)擊“截圖”按鈕即可實(shí)現(xiàn)軟件整體界面截圖。其次測(cè)試完畢后，可使用“ctrl+鼠標(biāo)左鍵”進(jìn)行框選放大局部圖像查看細(xì)節(jié)變化，點(diǎn)擊“恢復(fù)圖像”按鈕可恢復(fù)圖像的全部顯示。

審核編輯黃宇