自旋電子學(xué)經(jīng)過數(shù)十年的發(fā)展，在許多領(lǐng)域都有了卓著的表現(xiàn)。從傳感器，到非易失性磁存儲，再到新材料的特性研究，自旋電子學(xué)不僅是當(dāng)前科學(xué)研究的熱點，也被工業(yè)界廣泛重視。磁疇的直接觀測與記錄，對于材料的研究有著重要的意義；對磁疇運動過程的剖析，不僅直觀的展現(xiàn)了磁性翻轉(zhuǎn)，而且有助于分析物理過程的機理。

相較于傳統(tǒng)的單點磁滯回線測量儀，磁光克爾綜合測試平臺，可以追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬點的實時磁性動態(tài)信息。結(jié)合該測試平臺提供的直流探針，高頻探針，樣品的測試無比便捷。當(dāng)下自旋電子學(xué)或磁學(xué)的研究，已經(jīng)由磁性驅(qū)動的翻轉(zhuǎn)，發(fā)展到了直流電流驅(qū)動、脈沖電流驅(qū)動、微波脈沖驅(qū)動、光驅(qū)動等一系列的激勵源作用下的深度研究。

產(chǎn)品型號: TTT-02-Kerr Microscope

產(chǎn)品優(yōu)勢：

? 高質(zhì)量磁疇成像

? 多激勵源/多功能測試平臺

? 高穩(wěn)定性，操作便捷

托托科技提供的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)按照性能優(yōu)先，穩(wěn)定性優(yōu)先的設(shè)計思路，可以滿足實驗室研究及工業(yè)生產(chǎn)中各種相關(guān)材料的測試需求。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備中提供了磁場激勵、電流激勵等多種選項，是客戶在自旋特性研究中的得力測試平臺。

系統(tǒng)的典型測試結(jié)果

更多的選項可以根據(jù)客戶需求選擇升級。

系統(tǒng)升級模塊：

（基本型）：

1）低溫系統(tǒng)；

2）集成激光激勵；

3）ST-FMR；

4）面內(nèi)任意角度矢量電磁鐵。

（高級型）：

1）矢量成像；

2）低溫+真空+腔內(nèi)探針。

應(yīng)用實例：

01、垂直磁各向異性薄膜顯微磁疇測量

（鐵磁性、亞鐵磁性薄膜磁疇翻轉(zhuǎn)）

(a)為樣品Ta(4nm)/CoFeB (0.7nm)/MgO(2nm)/Ta(2nm)在磁場的驅(qū)動實現(xiàn)磁疇運動和翻轉(zhuǎn)，樹枝狀磁疇，磁矩“1”和“0”信息狀態(tài)清晰可見。彩色環(huán)帶表示磁疇壁，白色小箭頭表示的是奈爾疇壁中磁矩方向，表示磁疇運動方向。

(b)為樣品 CoTb(6nm)/SiN(4nm)在零磁場附近出現(xiàn)迷宮疇以及孤立斯格明子磁泡結(jié)構(gòu) (Skyrmions Bubble)，圖中單個穩(wěn)定的Skyrmions Bubble的尺寸為1μm。為研究基于SK-RM賽道存儲器提供光學(xué)無損傷探測支持。

02、面內(nèi)磁各向異性薄膜顯微磁疇測量

(a)面內(nèi)磁各向異性樣品，縱向-磁光克爾測試裝置示意圖。

(b)為樣品Pt(4nm)/Co (5nm)/Ta(2nm)在磁場的驅(qū)動實現(xiàn)磁疇運動和翻轉(zhuǎn)，磁矩“1”和“0” 信息狀態(tài)清晰可見。

(c)為樣品的磁滯回線，縱坐標(biāo)為歸一化的磁光克爾信號，橫坐標(biāo)為面內(nèi)掃描磁場。

03、電流驅(qū)動的磁性翻轉(zhuǎn)

(a) FePt(10nm)樣品電輸運表征與磁光克爾實現(xiàn)同步測試裝置示意圖。

(b)和(c)電流驅(qū)動磁矩翻轉(zhuǎn)和磁疇運動。沿FePt薄膜生長方向出現(xiàn)分層，呈現(xiàn)階段式翻轉(zhuǎn)，如同神經(jīng)突觸收到多個閾值信息產(chǎn)生信息傳遞。

施加不同方向輔助場Hx，樣品磁疇翻轉(zhuǎn)極性發(fā)生轉(zhuǎn)變，如上圖(b)所示。

磁疇成像輔助測量，有助于實現(xiàn)多角度解釋電輸運信號中的反常信號，以及閾值電流下的磁疇取向與狀態(tài)。

閃光科技與托托科技簽署國內(nèi)授權(quán)代理協(xié)議，雙方在技術(shù)、產(chǎn)品、市場、銷售渠道、服務(wù)等多方面通力合作，優(yōu)勢互補，逐步形成更深入的戰(zhàn)略合作關(guān)系，進(jìn)一步為國內(nèi)客戶提供更為優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

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審核編輯黃宇