在雷電波形監(jiān)測產(chǎn)品中,如果需要監(jiān)測的范圍比較大,比如±500A~±200KA,為了保證采樣精度,通常要分為高低端進(jìn)行采樣,比如500A~10KA為低端,10KA~200KA為高端,由于有負(fù)信號,還需要把負(fù)電平進(jìn)行一個抬升,如下圖所示:
我們將上圖的框圖用電路圖實現(xiàn),如下圖所示:
圖中U1為有源積分電路,U2,U4為放大電路,U3,U5為電平抬升電路。因為ADC是不能采樣負(fù)電平,所以一定要保證V1、V2為正信號。雖然前端已經(jīng)把電平進(jìn)行抬升了,但仍然不能保證V1為正信號。為什么?因為如果信號在低端滿量程后繼續(xù)增大,那么即使抬升1.65V依然還有負(fù)電平。如下圖所示:
灰色的信號是原始信號,有正負(fù)極性,放大40倍,并抬升1.65V,上面已經(jīng)削頂了,下面依然有部分是負(fù)信號。此時,信號依然在正常測量范圍內(nèi)。
當(dāng)然,此時我們不會用低端的采樣值,我們會用直接看高端的采樣值,但是低端的負(fù)電平進(jìn)入ADC后,會導(dǎo)致MCU的其他ACD采樣通道都不準(zhǔn)確,至于為什么會導(dǎo)致這種情況,還不清楚。所以,我們一定要保證所有進(jìn)入ADC通道的信號都是正電平(即使有負(fù)電平,也不能太大)。
所以,最簡單的辦法是在進(jìn)入ADC之前加兩個鉗位二級管,如下圖所示:
這里的二極管要選擇反向漏電流較小的,且正向?qū)妷篤F也小的。因為正常情況下,二極管都工作在反向截止?fàn)顟B(tài),一旦有負(fù)電,在很小的VF下都能導(dǎo)通D1,就能很好的阻止負(fù)信號進(jìn)入ADC中。通常BAT54S是一個不錯的選擇,VF在小電流情況下可以做到0.2V的導(dǎo)通電壓,也就是能把信號能鉗位到-0.2V~3.5V之間。
總結(jié):
1) 進(jìn)入MCU的ADC信號不能有負(fù)信號,如果其中一路有負(fù)信號,可能會影響到其他通道的ADC采樣不準(zhǔn);
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STM32F407 ADC采樣IO口無法實現(xiàn)鉗位的原因?
這個二極管鉗位的作用如何理解。。。
二極管的鉗位作用
有源鉗位轉(zhuǎn)換技術(shù)

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