長度幾何量測量儀器

1、三坐標(biāo)測量機(jī)

Mars系列是移動橋式的三坐標(biāo)測量機(jī)。支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測，也可以對軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測量。并且支持測頭更換架以及影像相機(jī)，同時支持精密轉(zhuǎn)臺等。支持各種測量軟件，包括Rational DMIS、中圖SMT-DMIS、 ARCOCAD等，支持中圖控制器和Pantec控制器。

Mars系列三坐標(biāo)測量機(jī)可用于機(jī)械制造、汽車工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)以及計量檢測等領(lǐng)域，是現(xiàn)代工業(yè)檢測和質(zhì)量控制的重要檢測設(shè)備。

2、長度測量儀

SJ5160-300A超高精度全自動光柵測長機(jī)采用的超高精度光柵式全自動接觸式測量是一種很好的長度測量方式。

儀器具有超高精度、全自動、功能強(qiáng)、電子測力等優(yōu)點(diǎn)，能夠檢定超高精密量具、量規(guī)，如塊規(guī)、環(huán)規(guī)、塞規(guī)、卡規(guī)、螺紋規(guī)。還可以檢測各種高精密工件內(nèi)外尺寸及高精度薄壁零件內(nèi)外徑尺寸等，具有超高精度、人為干擾少、穩(wěn)定性強(qiáng)等特點(diǎn)。

光學(xué)測量儀

1、光學(xué)3D表面輪廓儀

SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。

SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，應(yīng)用于各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。

2、影像測量儀

CH系列全自動影像測量儀是三種覆蓋不同量程的全自動影像測量儀，可實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差等精密測量。支持觸發(fā)測頭和光學(xué)測頭，進(jìn)行高度、平面度測量，實(shí)現(xiàn)3D空間測量。