隨著高速光通信發(fā)展，光器件種類多、迭代快，對(duì)測(cè)量?jī)x要求更高。而在新興平面光波導(dǎo)和硅光芯片領(lǐng)域，其對(duì)儀表測(cè)量精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑戰(zhàn)。昊衡科技專注于高端光學(xué)測(cè)量與傳感測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)和解決方案開發(fā)，擁有OFDR核心技術(shù)，并成功推出國(guó)產(chǎn)多功能光學(xué)矢量分析系統(tǒng)--OCI-V。

圖1. 光矢量分析系統(tǒng)（OCI-V）

OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)，原理是采用線性掃頻光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描，并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關(guān)損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項(xiàng)光學(xué)參數(shù)。系統(tǒng)測(cè)量長(zhǎng)度200m，可工作在C+L或O波段，具有測(cè)量范圍大、波長(zhǎng)范圍寬、覆蓋器件廣、測(cè)量參數(shù)多等優(yōu)勢(shì)。

HCN氣體吸收室測(cè)量

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圖2.OCI-V測(cè)量HCN氣體吸收室

HCN氣室會(huì)對(duì)固定波長(zhǎng)的光進(jìn)行吸收造成損耗，OCI-V測(cè)量不同波段的光通過HCN氣室后的損耗情況。

保偏光纖快慢軸時(shí)延差測(cè)量

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圖3.OCI-V測(cè)量保偏光纖快慢軸

保偏光纖快軸折射率小、光傳輸速度快，慢軸折射率大、光傳輸速度慢。OCI-V精確測(cè)量PMD對(duì)于評(píng)估光纖制備、光器件制造及光通信鏈路非常有意義。

FBG受壓時(shí)偏振相關(guān)損耗測(cè)量03

圖4.OCI-V測(cè)量FBG受壓時(shí)偏振相關(guān)損耗

FBG在沒有壓力時(shí)中心波長(zhǎng)附件光波段的PDL趨近于0，施加壓力后中心波長(zhǎng)附近兩端出現(xiàn)兩個(gè)峰值，隨著壓力逐漸增大，波峰峰值越來(lái)越大，在壓力達(dá)到60KN時(shí)波峰出現(xiàn)最大值。

OCI-V光學(xué)矢量分析系統(tǒng)能夠同時(shí)測(cè)量光學(xué)網(wǎng)絡(luò)損耗、偏振、色散等信息，分析光器件在寬譜、精細(xì)波長(zhǎng)下的損耗和時(shí)延。其功能強(qiáng)大、操作方便，在光器件的研發(fā)、生產(chǎn)全過程中發(fā)揮重要作用，為改善設(shè)計(jì)、優(yōu)化結(jié)構(gòu)和評(píng)估工藝等提供可靠依據(jù)。