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測試光源光通量的積分球測試系統(tǒng)

jf_79332942 ? 來源:jf_79332942 ? 作者:jf_79332942 ? 2023-07-25 15:48 ? 次閱讀
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積分球測試系統(tǒng)可以方便地測量光源光通量和輻射功率,進而用于測試各種照明產(chǎn)品。

什么是積分球:
積分球又稱光通球,是具有高反射性內(nèi)表面的空心球體,用來對處于球內(nèi)或放在球外并靠近窗口處的試樣對光的散射或發(fā)射進行收集的一種高效率器件。積分球內(nèi)壁涂有白色漫反射材料,也就是漫反射系數(shù)接近于1的材料,常用的材料是氧化鎂或者硫酸鋇,一般與膠質(zhì)粘結(jié)劑混合均勻后噴涂在內(nèi)表面。積分球的基本原理是光通過采樣口被積分球收集,在積分球內(nèi)部經(jīng)過多次反射后非常均勻地散射在積分球內(nèi)部。使用積分球來測量光通量時,可使得測量結(jié)果更為可靠,積分球可降低并除去由光線地形狀、發(fā)散角度、及探測器上不同位置地響應(yīng)度差異所造成地測量誤差。

球體在光度學(xué)中有廣泛的應(yīng)用,在大多數(shù)應(yīng)用中,這些通用的光學(xué)元件與其他光電設(shè)備如光度計和輻射計一起使用。在研究實驗室里,積分球可用于測量材料的透射率或反射率。球體也通常用于電子成像設(shè)備的校準和光測量。

積分球反射率測量方法:
將樣品保持在0度端口中,并用入射光束照射,以確定通過180度端口的反射率。球體在空間上整合總反射輻射,并用擋板檢測器進行測量。反射的鏡面輻射可以通過利用樣本保持器來清理,該樣本保持器使用垂直入射來反射任何入射的鏡面輻射。
“鏡面加漫反射”反射率可以使用8入射樣品架來測量。通過測量兩者并取其比值,可以計算出已知標準樣品的反射率。為了避免樣品反射率引起的錯誤,樣品和標準品應(yīng)具有相同的反射率。雙光束系統(tǒng)可以用來消除這種潛在的測量誤差源。探測器安裝在一個90度的端口上。

總流量的測量:
光源(如燈)產(chǎn)生的總光通量是通過將光源置于光學(xué)元件內(nèi)部來測量的,光線被球壁多次反射,直到被光電探測器探測到。這種光度概念在工業(yè)中廣泛用于比較光源的流明輸出,以進行制造質(zhì)量控制。這種配置所需的其他基本元件包括明視覺響應(yīng)檢測器和漫射器。

積分球透射比的測量:
入射到樣品上并穿過樣品的光稱為透光率。如果樣品具有低散射性(如干凈的稀釋溶液),幾乎所有未被吸收的光都將被透射。除了反射率測量之外,使用積分球時要考慮的另一個重要因素是透射率測量。

光譜輻射通量的測量:
為了測量光源產(chǎn)生的光譜輻射通量,積分球與光譜輻射計一起使用。該配置與測量總光通量的配置相同,只是用光譜輻射計代替了光電探測器。此外,這種設(shè)置適用于測量顯色指數(shù)、相關(guān)色溫和色度坐標。

測試成像傳感器
球形端口允許該光學(xué)元件用作均勻的光源漫射體,來自漫射源的均勻輻照度可用于測試成像系統(tǒng),如CCD相機或陣列探測器。這種應(yīng)用的設(shè)置是通過將燈放置在球體內(nèi)部來實現(xiàn)的。燈的選擇取決于所需的輻射度。對于這種配置,不需要檢測器。

激光功率測量:
球體廣泛用于實驗室和工業(yè)中的激光功率測量,這些光學(xué)元件適用于測試高功率和低功率工業(yè)激光器。進行激光功率測量時,正確使用擋板有助于防止直接看到激光熱點??臻g積分使得積分球成為測試激光二極管和其他呈現(xiàn)非對稱和發(fā)散特性的設(shè)備的合適選擇。此外,球體涂層的高反射率有助于保護表面材料免受極端高溫的影響。

測試固態(tài)照明產(chǎn)品:
LED燈和其他固態(tài)照明產(chǎn)品的性能特征是通過測試和評估光源產(chǎn)生的光效和總光通量獲得的,使用積分球可以獲得比色數(shù)據(jù)和總光通量的精確測量。盡管這些光學(xué)元件能夠精確測量上述參數(shù),但是它們不能測量光束的空間分布。為了測量這些光源的性能特征,球體通常與測角光度計一起使用。測角光度計可以精確測量空間分布。

積分球的總的光通量測試:
積分球包括最少兩部分—一部分用于樣品,另部分用于探測器。探測器為輻射通量而校準,但基本是測試球內(nèi)表面照度的。使用積分球測量LED光通量,需要根據(jù)LED的封裝尺寸及類型。

積分球要滿足下面要求以保證所有的曲面都具有相同的照度(測試區(qū)域的照度值將代表整個球的照度值):
探測接口處與球直徑比值最大1:3;
忽略樣品與樣品接口或者輔助燈的光線自吸收;
內(nèi)涂層具有高的反射與漫射系數(shù)(BaSO4);
符合CIE 127:2007以及IES LM-79所定義的其他流明測試條件;

根據(jù)標準,存在三種不同的積分球測試配置:
2π配置:樣品放置在積分球內(nèi)表面—可以用于LEDs這樣沒有反向光線。經(jīng)常用于單顆LED與LED陣列
4π配置:樣品通過接口,放置在積分球內(nèi)部中央—常用于固體照明光源,必須使用輔助燈以補償樣品與連接器的光吸收。
部分光通量測試配置:樣品被安置于樣品接口一定距離處—在接口前一個精確孔徑定義為一個立體角。

LPCE-2高精度光譜輻射計&積分球系統(tǒng)主要測試節(jié)能燈,熒光燈,HID燈(如高壓鈉燈和高壓汞燈),冷陰極熒光燈和LED燈。LED的質(zhì)量應(yīng)通過檢查其光色電參數(shù)進行測試。此系統(tǒng)測試結(jié)果滿足CIE177,CIE-13.3,CIE-84,ANSI-C78.377, GB/T 24824,IESNA-LM-63-2,Optical-Engineering-49-3-033602,(EU) 2019/2015,LM-80和LM-79光度和色度測試要求。LPCE-2系統(tǒng)采用LMS-9000C高精度快速光譜輻射計或LMS-9500C科學(xué)級快速光譜輻射計,一次成型技術(shù)生產(chǎn)的新型帶載臺積分球,及其它相關(guān)設(shè)備。一次成型積分球的測試精度遠遠高于傳統(tǒng)拼接積分球。

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LED CCD快速光色電綜合測試系統(tǒng)

審核編輯 黃宇

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