長鑫存儲技術有限公司授予“晶圓循環(huán)時間的確定方法和裝置”專利,許可公告日為10月3日,許可公告號為cn113536572b。

據專利文摘(摘要),本申請的決定施行如晶片周期時間的方法及裝置提供,獲取多個站點的機臺的實際生產數據,根據多個站點的機臺的實際生產數據,建立隨機數表,該隨機數表中包括各機臺的樣本數據。樣品數據包括晶圓處理時間、機臺宕機概率、宕機修復時間和隨機區(qū)間使用Monte Carlo算法和隨機數表,模擬晶片在各種機臺集團的生產過程模擬器模擬過程經過zhongjing圓機臺每次生成的隨機數隨機數表中的暗號屬于區(qū)間。隨機數用于選擇機器的狀態(tài),在模擬裝置中輸入組裝、晶片個數、模擬數,以獲得晶圓周期的時間。
這種方法可以精確地模擬晶片的周期,并計算出任何一組、晶圓的數量和模擬次數。
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