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如何準(zhǔn)確測(cè)試相位噪聲

QuTG_CloudBrain ? 來源:云腦智庫(kù) ? 2023-10-29 10:55 ? 次閱讀
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相位噪聲是表征CW信號(hào)頻譜純度的非常重要的參數(shù),衡量了信號(hào)頻率的短期穩(wěn)定度。通常所說的相噪為單邊帶(SSB) 相位噪聲,相噪的好壞對(duì)于系統(tǒng)的性能至關(guān)重要!

·對(duì)于終端通信而言,如果接收機(jī)LO的相噪較差,且在信道附近存在較強(qiáng)的單音干擾時(shí),在下變頻過程中因交叉調(diào)制將導(dǎo)致信道內(nèi)的噪聲增加,從而惡化信噪比,嚴(yán)重時(shí)將無法進(jìn)行正常通話!

·對(duì)于衛(wèi)星通信而言,如果發(fā)射機(jī)LO的相噪較差,將直接惡化數(shù)字調(diào)制信號(hào)的質(zhì)量,星座圖模糊,EVM變差,從而影響有效的數(shù)據(jù)傳輸!

·對(duì)于雷達(dá)而言,如果整機(jī)的LO相噪較差,將導(dǎo)致部分目標(biāo)的微弱回波信號(hào)淹沒在強(qiáng)回波信號(hào)的邊帶中,從而無法正常檢測(cè)!

由此可見,相噪性能是保證系統(tǒng)性能的重要前提!

因此,在設(shè)備研制階段,通過合適的測(cè)量手段檢驗(yàn)相噪性能是非常重要的一個(gè)工作環(huán)節(jié)。如何檢驗(yàn)信號(hào)的相噪性能呢?

對(duì)于相位噪聲的測(cè)試,目前業(yè)界常用的方法包括:基于頻譜儀的測(cè)試方法和基于鑒相器的測(cè)試方法。使用頻譜儀測(cè)試相噪又可分為,直接標(biāo)定法和使用專門的相噪選件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。直接標(biāo)定法即手動(dòng)測(cè)試,經(jīng)濟(jì)實(shí)惠,但是操作相對(duì)繁瑣;使用相噪選件自動(dòng)化測(cè)試操作方便,可以直接給出相噪曲線,但是需要購(gòu)買!至于基于鑒相器方法的設(shè)備,屬于更加專業(yè)的相噪測(cè)試設(shè)備,測(cè)試能力更強(qiáng),當(dāng)然也是價(jià)格不菲的。

如果在研發(fā)階段,只是要檢驗(yàn)?zāi)承╊l偏處的相噪,而不要求直接得到相噪曲線,可以考慮使用頻譜儀直接標(biāo)定信號(hào)相噪,直接標(biāo)定法也是下面要重點(diǎn)介紹的內(nèi)容。

本文將首先介紹相噪的定義,然后介紹影響頻譜儀相噪測(cè)試能力的因素,最后將給出手動(dòng)測(cè)試相噪的關(guān)鍵步驟及注意事項(xiàng)。

相位噪聲是如何定義的?

相噪的定義是大家所熟知的,如圖1所示,在距離載波fc一定頻偏處的噪聲功率譜密度與載波功率的比值即為相位噪聲,通常是指單邊帶相位噪聲(SSB PN),單位為dBc/Hz?!癱”可以理解為載波carrier,意思是相對(duì)載波的電平。類似地,在描述諧波失真度時(shí)通常也采用單位dBc。

對(duì)于理想的CW信號(hào),其頻譜為單根譜線,而實(shí)際上由于相位噪聲的存在,使得其頻譜具有圖1所示的邊帶,距離載波越遠(yuǎn),邊帶幅度越小,意味著相位噪聲也越好。

相位噪聲的存在,使得信號(hào)的相位是隨機(jī)波動(dòng)的。之所以信號(hào)具有圖1所示的邊帶,是因?yàn)橄辔辉肼曄喈?dāng)于寬帶噪聲對(duì)信號(hào)進(jìn)行了相位調(diào)制!當(dāng)然,信號(hào)的幅度也是存在波動(dòng)的,相當(dāng)于寬帶噪聲對(duì)信號(hào)進(jìn)行了幅度調(diào)制,這部分噪聲稱為調(diào)幅噪聲。相位噪聲和調(diào)幅噪聲并存,使得信號(hào)具有一定的邊帶。

實(shí)際上,按照上述定義得到的相噪測(cè)試結(jié)果既包含了相位噪聲,也包含了調(diào)幅噪聲,通常調(diào)幅噪聲相對(duì)于相位噪聲要小得多,可以忽略,因此也就將測(cè)試結(jié)果當(dāng)作相位噪聲了?;陬l譜儀的相噪測(cè)試,無論是直接標(biāo)定還是自動(dòng)化測(cè)試,都是這種情形。如果要分離出相位噪聲和調(diào)幅噪聲,只能采用鑒相測(cè)試方法了。

值得一提的是,能夠分離相位噪聲和調(diào)幅噪聲只是鑒相器測(cè)試法的特性之一,鑒相器法的最主要目的是為了改善相噪測(cè)試靈敏度,提高相噪測(cè)試能力!

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圖1. 單邊帶相位噪聲的定義

決定頻譜儀相噪測(cè)試能力的因素有哪些?

曾經(jīng)有過這樣的困惑,頻譜儀怎么會(huì)有相噪的指標(biāo),相噪不是信號(hào)源的指標(biāo)嗎?后來才明白,頻譜儀的相噪其實(shí)是內(nèi)部LO信號(hào)的相噪,而且它決定了頻譜儀近端相噪的測(cè)試能力。頻譜儀自身的相噪越低,則相噪測(cè)試能力越強(qiáng)!

頻譜儀自身的相噪是如何影響其相噪測(cè)試能力的呢?

以圖2為例,假設(shè)RF信號(hào)是理想的,LO信號(hào)具有一定的邊帶,在下變頻過程中,除了將RF信號(hào)變頻至IF外,LO信號(hào)的邊帶也會(huì)一起搬移至IF?;祛l器實(shí)際上起到乘法器的作用,RF信號(hào)與LO信號(hào)相乘實(shí)現(xiàn)下變頻的同時(shí),也會(huì)與LO信號(hào)邊帶包含的頻率成分相乘,從而使得邊帶也變頻至IF附近。有的文獻(xiàn)將此稱為互易混頻,互易混頻使得LO信號(hào)的邊帶搬移至IF。

近端相噪測(cè)試通常只關(guān)注1MHz頻偏范圍內(nèi)的相噪,考慮雙邊帶時(shí),對(duì)應(yīng)的是fc± 1MHz范圍內(nèi)的邊帶。對(duì)于混頻器而言,可以認(rèn)為在2MHz這么窄帶寬內(nèi)的變頻損耗是恒定的,這意味著對(duì)于圖2所示的例子,IF信號(hào)的相噪與LO信號(hào)的相噪是相同的!這個(gè)相噪就是頻譜儀自身的相噪“底噪聲”,一般稱為相噪測(cè)試靈敏度,決定了頻譜儀的相噪測(cè)試能力。

如果待測(cè)信號(hào)的相噪低于頻譜儀自身的相噪,當(dāng)然是測(cè)不出信號(hào)真實(shí)的相噪水平。檢定頻譜儀相噪指標(biāo)時(shí),一般會(huì)選擇一臺(tái)相噪更好的信號(hào)源,相噪測(cè)試結(jié)果能夠反映出頻譜儀自身的水平。

如果要準(zhǔn)確測(cè)試信號(hào)的相噪,則要求頻譜儀自身相噪比待測(cè)信號(hào)好很多,按照經(jīng)驗(yàn),至少優(yōu)異10dB以上,才能保證測(cè)試精度!

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圖2. LO的相噪因互易混頻搬移至IF輸出信號(hào)

以上介紹了影響近端相噪測(cè)試能力的因素,隨著頻偏的不斷增大,LO信號(hào)的相噪也是逐漸降低的,此時(shí)決定儀表相噪測(cè)試能力的因素可能不再是LO的相噪,而是儀表的底噪聲。

如何判斷頻譜儀底噪聲是否影響遠(yuǎn)端相噪測(cè)試呢?

有兩種方法可以嘗試:

(1) 降低信號(hào)功率,觀測(cè)遠(yuǎn)端邊帶是否也跟隨降低,如果沒有變化,說明底噪聲確實(shí)影響遠(yuǎn)端相噪測(cè)試;如果遠(yuǎn)端邊帶也隨之降低,則說明底噪聲帶來的影響很小。

(2) 直接關(guān)閉信號(hào),保證頻譜儀其它設(shè)置不變,對(duì)比此時(shí)的底噪聲與關(guān)閉信號(hào)之前的遠(yuǎn)端邊帶功率的大小。如果底噪聲低于遠(yuǎn)端邊帶功率(建議10dB以上),則對(duì)測(cè)試影響較小;如果底噪聲與遠(yuǎn)端邊帶持平,則必然會(huì)影響測(cè)試結(jié)果!

如果底噪聲影響了遠(yuǎn)端相噪測(cè)試,如何解決呢?

可以在一定程度上增大信號(hào)功率,因?yàn)樾盘?hào)功率越高,邊帶功率也隨之提高,使其高出底噪一定水平,從而保證測(cè)試精度。但不能導(dǎo)致頻譜儀過載,否則將擾亂測(cè)試結(jié)果,必要時(shí),可以使用陷波器抑制載波信號(hào)。

或者選擇底噪聲更低的頻譜儀進(jìn)行測(cè)試!

如何使用直接標(biāo)定法準(zhǔn)確測(cè)試相噪?

了解影響頻譜儀相噪測(cè)試能力的因素之后,下面介紹一下如何使用直接標(biāo)定法測(cè)試信號(hào)的相噪。

這里不涉及頻譜儀具體的操作,只給出關(guān)鍵的測(cè)試步驟及注意事項(xiàng)。

為了提高相噪測(cè)試精度,建議適當(dāng)提高信號(hào)功率,以得到更高的邊帶功率,推薦信號(hào)功率在±5dBm范圍之內(nèi),太強(qiáng)可能導(dǎo)致頻譜儀過載。

直接標(biāo)定法操作步驟(推薦) :

Step 1:設(shè)置合適的中心頻率和Span,使得能夠顯示信號(hào)頻譜并覆蓋需要測(cè)試的頻偏范圍。

Step 2:將頻譜儀射頻前端衰減度設(shè)置為0dB,以降低底噪,提高相噪測(cè)試精度,這一點(diǎn)對(duì)于遠(yuǎn)端相噪測(cè)試尤為重要。

Step 3:將頻譜儀的顯示檢波器類型選擇為RMS檢波器,這個(gè)在之前的文章“如何選擇顯示檢波器”中已有說明,為了得到更加穩(wěn)定的測(cè)試結(jié)果,可以考慮增大掃描時(shí)間。

Step 4:設(shè)置合適的RBW,RBW并不是越小對(duì)測(cè)試越有利,降低RBW并不會(huì)改善遠(yuǎn)端相噪測(cè)試能力,因?yàn)榈自虢档偷耐瑫r(shí),邊帶功率也會(huì)降低,而且RBW太小,速度太慢。但是當(dāng)測(cè)試近端相噪時(shí),比如頻偏100kHz以內(nèi),RBW需要設(shè)置小一點(diǎn),以對(duì)載波信號(hào)充分抑制,否則會(huì)嚴(yán)重影響相噪測(cè)試能力!

近端相噪測(cè)試過程中,可以通過逐步降低RBW來選擇合適的值,降低RBW的過程中,當(dāng)相噪測(cè)試結(jié)果不再降低時(shí),選取此時(shí)的RBW即可。

Step 5:確定載波信號(hào)功率及待測(cè)頻偏處的噪聲功率譜密度,以計(jì)算相位噪聲。

通過Marker功能很容易確定載波信號(hào)功率PC,當(dāng)然也很容易確定待測(cè)頻偏處的功率PSSB,則噪聲功率譜密度可通過下式計(jì)算:

PSD=PSSB- 10lg(RBW) (dBm/Hz)

則相噪測(cè)試結(jié)果為

PN=PSD-PC(dBc/Hz)

目前業(yè)界大部分頻譜儀都支持使用Marker直接測(cè)試功率譜密度,再通過顯示Marker的delta mode便可以直接顯示相噪結(jié)果,這樣就省去了上述計(jì)算步驟,使用非常方便!

以上便是要給大家分享的內(nèi)容,希望對(duì)大家有所幫助~~

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原文標(biāo)題:如何準(zhǔn)確測(cè)試相位噪聲

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