ATE/ATS：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，也稱測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要求進(jìn)行了簡(jiǎn)明扼要的論述，以便測(cè)試工程師了解、掌握。

通常將在計(jì)算機(jī)控制下，能自動(dòng)進(jìn)行各種信號(hào)測(cè)量、數(shù)據(jù)處理、傳輸，并以適當(dāng)方式顯示或輸出測(cè)試結(jié)果的系統(tǒng)稱為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，簡(jiǎn)稱ATS（Automated
Test System），這種技術(shù)我們稱之為自動(dòng)測(cè)試技術(shù)。

在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中，整個(gè)工作都是在預(yù)先編制好的測(cè)試程序統(tǒng)一指揮下完成的，系統(tǒng)中的各種儀器和設(shè)備是智能化的，都可進(jìn)行程序控制。

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（ATS）是一個(gè)不斷發(fā)展的概念，隨著各種高新技術(shù)在檢測(cè)領(lǐng)域的運(yùn)用，它不斷被賦予各種新的內(nèi)容和組織形式。自動(dòng)測(cè)試技術(shù)創(chuàng)始于20世紀(jì)50年代，從20世紀(jì)50年代至21世紀(jì)的今天，大致分為以下三代。

?第一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是根據(jù)測(cè)量任務(wù)專門設(shè)計(jì)的，主要用計(jì)算機(jī)技術(shù)來進(jìn)行邏輯定時(shí)控制，主要?jiǎng)幽苁沁M(jìn)行數(shù)據(jù)自動(dòng)采集和自動(dòng)分析，完成大量重復(fù)數(shù)據(jù)的測(cè)試工作，承擔(dān)繁重的數(shù)據(jù)運(yùn)算和分析任務(wù)。系統(tǒng)中的儀器采用專用接口，因此系統(tǒng)較為復(fù)雜，通用性差，不利于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的推廣應(yīng)用。

?第二代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是盡可能利用現(xiàn)成的儀器設(shè)備，再利用計(jì)算機(jī)來共同組建成所需要的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。為了系統(tǒng)組建方便，第二代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的儀器采用了標(biāo)準(zhǔn)化的通用接口，這樣就可以把任何一個(gè)廠家生產(chǎn)的任何型號(hào)的可程控儀器連接起來形成一個(gè)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。第二代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)示意圖如圖9-1所示。系統(tǒng)的典型方框圖9-2所示。

圖中表明，當(dāng)前的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，通常包括以下幾個(gè)部分。

?（1）控制器

?（2）激勵(lì)信號(hào)源

?（3）測(cè)量?jī)x器

?（4）開關(guān)系統(tǒng)

?（5）適配器

?（6）人機(jī)接口

?（7）檢測(cè)程序

?第三代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
大體說來，它也是由微型計(jì)算機(jī)、通用硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)三部分組成。但是，第三代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要體現(xiàn)以軟件控制、以功能組合方式實(shí)現(xiàn)的合成儀器自動(dòng)測(cè)試技術(shù)，以高速A/D、D/A和DSP芯片為基礎(chǔ)組成通用測(cè)試儀器硬件系統(tǒng)（即通用硬件部分，結(jié)構(gòu)如圖9-3所示），而測(cè)試/測(cè)量任務(wù)的實(shí)現(xiàn)以及系統(tǒng)升級(jí)完全依靠軟件來實(shí)現(xiàn)（即軟件系統(tǒng)部分，如圖9-4所示）。