開(kāi)關(guān)電源下降時(shí)間是指電壓從90%下降到10%的時(shí)間，是開(kāi)關(guān)電源的重要特性參數(shù)，對(duì)于電路穩(wěn)定以及信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性至關(guān)重要，同時(shí)也對(duì)電路設(shè)計(jì)和調(diào)試具有重要意義。

電源下降時(shí)間測(cè)試方法

測(cè)試目的：測(cè)試S.M.P.S. POWER ON時(shí)，各組輸出從90% ~ 10% POINT的下降時(shí)間，通常情況下是 ≥5mS。

測(cè)試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、示波器

測(cè)試條件：

下降時(shí)間測(cè)試條件

測(cè)試方法：

1.依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE，F(xiàn)REQUENCY AND LOAD

2.SCOPE的CH1接Vo，并設(shè)為 TRIGGER SOURCE，LEVEL設(shè)定在Vo的60% ~ 80%較為妥當(dāng)，TRIGGER SLOPE設(shè)定在 "-"，TIME/DIV和VOLTS/DIV則視輸出電壓情況而定。

3.用CURSOR中"TIME"測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓90%至10%的下降時(shí)間

注意事項(xiàng)：測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)，等輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試。

ATECLOUD如何測(cè)試開(kāi)關(guān)電源下降時(shí)間?

1. 連接設(shè)備

通過(guò)LAN通訊總線、測(cè)試夾具以及其它線纜，連接測(cè)試設(shè)備、電源模塊以及邊緣計(jì)算設(shè)備ATEBOX。

2. 登錄ATECLOUD平臺(tái)

3. 建立測(cè)試方案

登錄平臺(tái)后，選擇相應(yīng)的測(cè)試儀器型號(hào)，拖拽指令搭建測(cè)試項(xiàng)目并創(chuàng)建測(cè)試方案。

4. 開(kāi)始測(cè)試

測(cè)試方案搭建完成后，便可在ATECLOUD平臺(tái)的運(yùn)行界面，一鍵運(yùn)行方案，開(kāi)始測(cè)試。

5. 數(shù)據(jù)分析

測(cè)試完成后，平臺(tái)會(huì)自動(dòng)匯總、管理測(cè)試數(shù)據(jù)，并且會(huì)多方位、多層級(jí)分析數(shù)據(jù)。用戶(hù)可通過(guò)該平臺(tái)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。

6. 查看導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告

測(cè)試數(shù)據(jù)也可以以數(shù)據(jù)報(bào)告的形式生成導(dǎo)出，支持word、excel格式。該數(shù)據(jù)報(bào)告模板眾多，也可以自定義，選擇需要的模板和數(shù)據(jù)，一鍵導(dǎo)出，即可得到測(cè)試的具體數(shù)據(jù)報(bào)告文檔。

審核編輯 黃宇