• 電氣性能測(cè)試

j.負(fù)載測(cè)試

什么是負(fù)載？ 其實(shí)像電阻，三極管，電機(jī)，揚(yáng)聲器等耗電等的東西，都可以稱為負(fù)載。

負(fù)載測(cè)試是電子產(chǎn)品硬件測(cè)試中都會(huì)進(jìn)行的一個(gè)測(cè)試步驟，也就是模擬一個(gè)環(huán)境讓整個(gè)電路主板處于滿負(fù)載運(yùn)行的狀態(tài)。

比如說(shuō)電源負(fù)載測(cè)試，通過(guò)組件增加負(fù)載上的電流，一直到電源有過(guò)流保護(hù)，或者使用特定的負(fù)載來(lái)測(cè)量電源的輸出電壓。

從而通過(guò)負(fù)載測(cè)試的結(jié)果來(lái)判斷電壓負(fù)載測(cè)試是否合格，或者統(tǒng)計(jì)出這個(gè)電源負(fù)載的上限是多少。

k.饋電測(cè)試

饋電，指的是供電的意思，意思是被控制裝置向控制點(diǎn)的送電，也可以看成在特定的條件下將電源傳輸?shù)截?fù)載中的過(guò)程。

可以通過(guò)判斷饋電是否異常來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)該電路的安全監(jiān)控。

l.主芯片復(fù)位電平

主芯片復(fù)位通常具有多種方式，比如硬件按鍵復(fù)位或者電平復(fù)位，通過(guò)復(fù)位來(lái)使得主芯片恢復(fù)到初始狀態(tài)，從而確保系統(tǒng)的可靠啟動(dòng)和運(yùn)行。

對(duì)于主芯片的復(fù)位電平測(cè)試，就需要將復(fù)位引腳接到相應(yīng)電平，使其電平保持在某一電平值狀態(tài)一段時(shí)間，看該電平是否會(huì)觸發(fā)芯片的復(fù)位操作。

m.其他

根據(jù)電路板的不同，公司需求的不同，電氣測(cè)試項(xiàng)也會(huì)有所取舍 ，其他的電氣測(cè)試比如說(shuō)Mos狀態(tài)測(cè)試，使用耐壓測(cè)試儀檢測(cè)PCBA電氣強(qiáng)度，接地測(cè)試，PCBA電源放電測(cè)試等等。

電氣性能的測(cè)試項(xiàng)目確實(shí)不少，因?yàn)檫@些就是電路板性能的體現(xiàn)，所以包含的方面會(huì)比較多，上面羅列的是其中一些內(nèi)容，不同企業(yè)也不一定會(huì)全部用上，或者要求的嚴(yán)格度不同，優(yōu)先以所在公司要求為準(zhǔn)。

然后就是PCBA測(cè)試中的信號(hào)波形測(cè)試 ，對(duì)于這一塊內(nèi)容，使用到的關(guān)鍵儀器就是示波器等， 尤其是對(duì)于一些高速信號(hào)，示波器的性能也必須跟上 （帶寬，采樣率啥的），不然測(cè)試結(jié)果就會(huì)不準(zhǔn)確或者壓根就觀察不到這些高速信號(hào)波形。