繼開(kāi)關(guān)電源上升時(shí)間測(cè)試方法科普后，納米軟件將繼續(xù)介紹下降時(shí)間的測(cè)試方法。

開(kāi)關(guān)電源下降時(shí)間是電壓從90%下降到10%的時(shí)間，對(duì)于電路穩(wěn)定以及信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性有非常重要的作用，同時(shí)也對(duì)電路設(shè)計(jì)和調(diào)試具有重要意義。

如何測(cè)試開(kāi)關(guān)電源下降時(shí)間？

測(cè)試目的：測(cè)試S.M.P.S. POWER ON時(shí)，各組輸出從90% ~ 10% POINT的下降時(shí)間，通常情況下是 ≥5mS。

測(cè)試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、示波器

測(cè)試條件：

下降時(shí)間測(cè)試條件

測(cè)試方法：

1.依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE，F(xiàn)REQUENCY AND LOAD

2.SCOPE的CH1接Vo，并設(shè)為 TRIGGER SOURCE，LEVEL設(shè)定在Vo的60% ~ 80%較為妥當(dāng)，TRIGGER SLOPE設(shè)定在 "-"，TIME/DIV和VOLTS/DIV則視輸出電壓情況而定。

3.用CURSOR中"TIME"測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓90%至10%的下降時(shí)間

注意事項(xiàng)：測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)，等輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試。

開(kāi)關(guān)電源下降時(shí)間測(cè)試