上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀, 為車載芯片提供穩(wěn)定和高效的溫度測(cè)試解決方案, 保證車規(guī)產(chǎn)品的高安全性, 高可靠性和高穩(wěn)定性, inTEST 高度適配各類測(cè)試平臺(tái), 協(xié)助企業(yè)生產(chǎn)研發(fā)符合 AEC-Q100 可靠性認(rèn)證的車載芯片.

inTEST ATS-710E車載芯片高低溫測(cè)試解決方案
由于車載電子產(chǎn)品基本覆蓋汽車產(chǎn)品的全生命周期, 因此需要符合汽車功能安全標(biāo)準(zhǔn), 而高低溫沖擊測(cè)試是其用于量產(chǎn)車上安全相關(guān)零部件的必要條件. 美國(guó) inTEST 熱流儀是一種用于車規(guī)級(jí)芯片高低溫測(cè)試的設(shè)備. 它可以快速模擬汽車在使用過(guò)程中可能遇到的各種極端溫度環(huán)境, 從而對(duì)芯片進(jìn)行高溫和低溫測(cè)試.

上海伯東某客戶是一家汽車動(dòng)力系統(tǒng)研發(fā)商, 致力于為整車廠和動(dòng)力系統(tǒng)供應(yīng)商提供發(fā)動(dòng)機(jī)及變速系統(tǒng)關(guān)鍵部件. 目前正在開(kāi)發(fā)和研究潔凈高效的未來(lái)車行技術(shù), 尤其致力于車載電子系統(tǒng)解決方案, 不斷提升電動(dòng)汽車和混合動(dòng)力汽車技術(shù). 客戶使用 inTEST ATS-710E 高低溫沖擊測(cè)試機(jī), 為相關(guān)測(cè)試工作提供 -75°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類車規(guī)產(chǎn)品的高低溫沖擊要求.

ATS-710E-M 溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ) 變溫速率: -55至 +125°C 約 10 S 或更少 +125至 -55°C 約 10 S 或更少 輸出氣流量: 4 至 18 scfm 溫度精度: ±1℃ 通過(guò)美國(guó) NIST 校準(zhǔn) 溫度顯示分辨率: ±0.1℃ 溫度傳感器: T或K型熱電偶 遠(yuǎn)程控制:IEEE 488 , RS232

inTEST ATS-710E 提供 Air Mode 和 DUT Mode 兩種測(cè)試方式. 在實(shí)際測(cè)試中, 如果是單顆待測(cè)器件, 則將熱電偶探頭放置于器件周邊, 越靠近器件越好, 此時(shí), 設(shè)備輸出的氣體溫度將使此熱電偶處的溫度達(dá)到設(shè)定值.

與傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱對(duì)比,上海伯東 inTEST 熱流儀主要優(yōu)勢(shì):
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC (模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board上 的 IC 進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試
6. 對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度

上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 移動(dòng)設(shè)計(jì), 通過(guò)輸出快速, 清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 為芯片溫度測(cè)試提供快速準(zhǔn)確的溫度環(huán)境, 適合模擬芯片在各種溫度測(cè)試和調(diào)節(jié)的應(yīng)用, 廣泛應(yīng)用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等的循環(huán)試驗(yàn) Thermal cycle, 高低溫沖擊測(cè)試 thermal shock, 滿足芯片特性和故障分析的需求.
上海伯東是美國(guó)inTEST中國(guó)總代理.

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