可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測(cè)試方法。隨著對(duì)電源模塊的測(cè)試要求越來越高，用電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊可以提高測(cè)試效率，確保測(cè)試結(jié)果可靠性，滿足測(cè)試要求。

電源模塊可靠性測(cè)試

1.短路測(cè)試

短路測(cè)試是為了檢測(cè)在短路情況下，電源模塊是否可以實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮。短路測(cè)試包括空載到短路測(cè)試(短路時(shí)間1s，放開時(shí)間1s，持續(xù)時(shí)間2小時(shí))、滿載到短路測(cè)試(保持短路狀態(tài)2小時(shí))、短路到啟動(dòng)測(cè)試(重復(fù)測(cè)試10次)。

2.反復(fù)開關(guān)機(jī)測(cè)試

在最大負(fù)載，輸入電源分別為220v、輸入過壓點(diǎn)-5v、輸入欠壓點(diǎn)+5v，合15s，斷開5s，連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，檢測(cè)電源模塊能否正常工作。

3.輸入瞬態(tài)高壓測(cè)試

輸入額定電壓，用示波器記錄高壓循環(huán)次數(shù)，滿負(fù)荷運(yùn)行，疊加電壓跳變繼續(xù)運(yùn)行。

4.輸入電源不穩(wěn)定輸出動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試

輸入電壓調(diào)整到不穩(wěn)定轉(zhuǎn)換，輸出調(diào)整到最大負(fù)載和空載轉(zhuǎn)換，以便連續(xù)工作。

5.功率波形測(cè)試

模擬尖峰、毛刺、諧波電壓輸入，測(cè)試電源性能和參數(shù)，檢查組件和其它問題和答案。

6.電壓測(cè)試

測(cè)試多個(gè)操作過電壓，看看過電壓對(duì)設(shè)備的影響。

7.高低溫測(cè)試

由于組件在高溫和低溫條件下的性能參數(shù)異常，長(zhǎng)期測(cè)試可能會(huì)暴露產(chǎn)品的隱患。

8.絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)

根據(jù)產(chǎn)品的絕緣強(qiáng)度增加值，并繼續(xù)測(cè)試以獲得極限值和異常條件。

9.抗干擾測(cè)試

抗干擾電壓采用EFT設(shè)定為不同的電壓水平，并連續(xù)進(jìn)行抗沖擊試驗(yàn)。

10.輸入低壓試驗(yàn)

測(cè)試電源模塊是否連續(xù)低壓輸入，如果長(zhǎng)時(shí)間處于欠壓狀態(tài)，是否會(huì)影響電源的性能參數(shù)。

電源模塊測(cè)試系統(tǒng)助力可靠性測(cè)試

電源模塊智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試基礎(chǔ)上改善、提升，解決了以下測(cè)試痛點(diǎn)：

A.人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性;

B.測(cè)試產(chǎn)品種類繁多，測(cè)試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應(yīng)未來的變化和需求;

C.記錄測(cè)試數(shù)據(jù)量大，容易出錯(cuò)，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性;

D.長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試，工作量大，需要降低測(cè)試成本;

E.現(xiàn)有軟件系統(tǒng)迭代繁瑣且耗時(shí)，不能持續(xù)兼容新產(chǎn)品;

F.需要滿足特定的測(cè)試需求，如外購配件等;

G.需要符合自身電源模塊測(cè)試方法;

H.需要尋找國(guó)產(chǎn)化替代方案

電源模塊測(cè)試系統(tǒng)兼容性強(qiáng)，兼容多種測(cè)試儀器型號(hào)指令，可測(cè)試58+測(cè)試項(xiàng)目，適用于測(cè)試以下產(chǎn)品：

AC-AC模塊、AC-DC模塊、DC-DC模塊、DC-AC模塊、電源管理芯片、開關(guān)電源、交流穩(wěn)壓電源、電源適配器、LED電源、充電器、高壓電源、醫(yī)療電源等。

審核編輯：湯梓紅