• 支持一體化實驗室建設(shè)：5nm集成電路“虛實聯(lián)動”線下實驗室建設(shè)。
• 支持科研課題與文章發(fā)表
• 支持教育部A類學(xué)科競賽

產(chǎn)業(yè)場景：自動化建造系統(tǒng)、EUA光刻機、商用仿真器14納米級別……

一、人工智能與集成電路應(yīng)用實驗（16學(xué)時）
實驗1 求解回歸問題：多項式回歸與高斯過程回歸方法
實驗2 求解數(shù)據(jù)分類問題：KNN、SVM與隨機森林方法
實驗3 求解圖像分類問題：神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)與深度學(xué)習(xí)方法
實驗4 求解優(yōu)化問題：差分進(jìn)化算法的使用
實驗5 應(yīng)用機器學(xué)習(xí)方法解決微電子器件相關(guān)問題
實驗6 應(yīng)用機器學(xué)習(xí)方法解決半導(dǎo)體工藝相關(guān)問題
實驗7 應(yīng)用機器學(xué)習(xí)方法解決集成電路相關(guān)問題
實驗8 人工智能與集成電路應(yīng)用綜合實驗
課程1：人工智能與機器學(xué)習(xí)基礎(chǔ)
課程2：深度學(xué)習(xí)基礎(chǔ)
課程3：人工智能應(yīng)用于微電子器件
課程4：人工智能應(yīng)用于半導(dǎo)體工藝
課程5：人工智能應(yīng)用于集成電路
課程6：人工智能綜合應(yīng)用

二、先進(jìn)節(jié)點工藝器件聯(lián)合分析實驗（8學(xué)時）
實驗1 電阻和二極管工藝器件聯(lián)合分析實驗
實驗2 JFET和MESFET工藝器件聯(lián)合分析實驗
實驗3 雙極型晶體管工藝器件聯(lián)合分析實驗
實驗4 MOSFET工藝器件聯(lián)合分析實驗

三、集成電路計算機輔助技術(shù)實驗（16學(xué)時）
實驗1 集成電路計算機輔助技術(shù)入門
實驗2 集成電路無源元件器件模型參數(shù)提取實驗
實驗3 JFET與MESFET器件模型參數(shù)提取實驗
實驗4 二極管器件模型參數(shù)提取實驗
實驗5 雙極型晶體管器件模型參數(shù)提取實驗
實驗6 MOSFET器件模型參數(shù)提取實驗
課程1：SPICE仿真與建模
課程2：器件SPICE模型簡介
課程3：BJT的SPICE模型
課程4：MOSFET的SPICE模型
課程5：BSIM4模型

四、集成電路測試與分析實驗（16學(xué)時）
實驗1 集成電路測試基礎(chǔ)與測試設(shè)備使用實驗
實驗2 常用電路性能指標(biāo)的測試方法實驗
實驗3 理想運算放大器及反饋電路測試與分析實驗
實驗4 基準(zhǔn)電流源測試與分析實驗
實驗5 帶隙電壓基準(zhǔn)測試與分析實驗
實驗6 多級CMOS運算放大器測試與分析實驗
實驗7 超低溫漂帶隙電壓基準(zhǔn)測試與分析實驗

以上為四個實驗?zāi)K內(nèi)容，主要用于研究生，能滿足科研需求，亦可以用于本科高階段學(xué)習(xí)使用。

如需其他配置方案，請隨時聯(lián)系我們。

提供一站式微電子與集成電路專業(yè)建設(shè)綜合解決方案。