國產(chǎn)數(shù)字機(jī)，測(cè)試中國芯！新年伊始，國產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備領(lǐng)軍企業(yè)加速科技迎來了振奮人心的一刻，ST2500 數(shù)?；旌?a target="_blank">信號(hào)測(cè)試設(shè)備累計(jì)裝機(jī)量突破500臺(tái)！加速科技憑借其持續(xù)的創(chuàng)新能力、完善的解決方案能力、專業(yè)熱忱的本地化服務(wù)能力，贏得了客戶的認(rèn)可和贊賞，創(chuàng)下了公司發(fā)展史上的最新里程碑。

在這個(gè)值得慶祝的時(shí)刻，感謝所有客戶的信任和支持，加速科技將繼續(xù)發(fā)揮技術(shù)優(yōu)勢(shì)，不斷完善服務(wù)體系，努力為更多行業(yè)客戶提供優(yōu)質(zhì)的測(cè)試解決方案。期待在新的一年里，加速科技與客戶攜手并進(jìn)，共創(chuàng)佳績。

高性能軟硬件系統(tǒng) 彰顯自主創(chuàng)新力

作為加速科技的重要測(cè)試平臺(tái)，ST2500系列高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)具備靈活可定制、高效率、可擴(kuò)展、測(cè)試性價(jià)比高等多方面優(yōu)點(diǎn)。該系統(tǒng)采用40Gbps全新通信架構(gòu)，為測(cè)試機(jī)搭建了低延時(shí)、高速率的信息傳輸機(jī)制，同時(shí)基于FPGA的高速信號(hào)處理技術(shù)，通過高性能FPGA的高并行、低延時(shí)硬件化特征，對(duì)測(cè)試業(yè)務(wù)中的功能算法、業(yè)務(wù)調(diào)度、數(shù)據(jù)交換等進(jìn)行硬件化加速，大幅提升測(cè)試效率。

ST2500系列測(cè)試機(jī)采用全新模塊化架構(gòu)設(shè)計(jì)，測(cè)試機(jī)頭可級(jí)聯(lián)拓展，不同系列板卡相互兼容，可滿足純數(shù)字、“大模大數(shù)”、“大模小數(shù)”等測(cè)試場(chǎng)景。此外，加速科技標(biāo)準(zhǔn)化硬件、邏輯、軟件可重構(gòu)架構(gòu)更是為加速科技測(cè)試機(jī)的穩(wěn)定性和快速定制化提供了有效保障。

標(biāo)桿產(chǎn)品 屢獲客戶青睞

ST2500系列測(cè)試機(jī)自2019年量產(chǎn)推出以來，獲得了行業(yè)眾多知名IC設(shè)計(jì)公司、封測(cè)廠、測(cè)試廠的高度認(rèn)可?？蛻魧?duì)設(shè)備的可靠性、穩(wěn)定性、一致性給予了廣泛好評(píng)，在國產(chǎn)IC測(cè)試市場(chǎng)形成了強(qiáng)有力的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)。

客戶表示，ST2500系列產(chǎn)品作為一個(gè)通用測(cè)試系統(tǒng)，在測(cè)試效率、穩(wěn)定性以及售后服務(wù)等方面，相較于國內(nèi)外其他平臺(tái)有較大優(yōu)勢(shì)。與傳統(tǒng)機(jī)臺(tái)相比，國產(chǎn)測(cè)試機(jī)ST2500測(cè)試效率提升30%以上，實(shí)現(xiàn)更快交付；實(shí)際量產(chǎn)應(yīng)用中，長期跑不宕機(jī)，穩(wěn)定性強(qiáng)，測(cè)試精度高，數(shù)據(jù)一致性好；面對(duì)客戶需求，提供設(shè)備、測(cè)試程序開發(fā)、配套針卡開發(fā)整套解決方案，能夠快速量產(chǎn)導(dǎo)入，這種拎包式服務(wù)，降低了客戶開發(fā)項(xiàng)目的周期與門檻。

一直以來，加速科技始終圍繞客戶需求，不斷尋求突破，經(jīng)過數(shù)年研發(fā)，推出了高性能全自研的新一代數(shù)?；旌细叨藴y(cè)試平臺(tái)Flex10K系列，同時(shí)，ST2500系列也進(jìn)行了產(chǎn)品迭代升級(jí)。Flex10K-L作為Flex10K系列測(cè)試機(jī)型之一，目前已實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)，該測(cè)試設(shè)備優(yōu)秀的系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)，使其可以擴(kuò)展更多類的資源板卡，支持LCD、OLED、TDDI、DDI等驅(qū)動(dòng)芯片的CP/FT測(cè)試。產(chǎn)品基于自主研發(fā)，具備可擴(kuò)展、高精度、高速率等多方面優(yōu)點(diǎn)，能有效降低高分辨率屏顯驅(qū)動(dòng)芯片的測(cè)試成本。

數(shù)載鑄卓越，創(chuàng)新正當(dāng)時(shí)。加速科技將繼續(xù)發(fā)揮其硬核技術(shù)實(shí)力和研發(fā)創(chuàng)新力，持續(xù)精研高效率、高性能、低成本的測(cè)試系統(tǒng)，為客戶提供更具競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的解決方案，助推國產(chǎn)半導(dǎo)體事業(yè)實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新與突破。

審核編輯 黃宇