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基于納米金屬陣列天線的石墨烯/硅近紅外探測(cè)器開發(fā)

MEMS ? 來源:紅外芯聞 ? 2024-01-17 09:54 ? 次閱讀
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金屬納米顆粒低聚體不僅具有等離激元共振效應(yīng)實(shí)現(xiàn)光場(chǎng)亞波長(zhǎng)范圍內(nèi)的局域化和增強(qiáng),還可以通過泄漏光場(chǎng)(leaky field)相互干涉實(shí)現(xiàn)法諾共振和連續(xù)態(tài)中的束縛態(tài)(BIC)從而使得電磁場(chǎng)更強(qiáng)的局域和增強(qiáng)。

據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,近期,南京大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院的科研團(tuán)隊(duì)在《物理學(xué)報(bào)》期刊上發(fā)表了以“基于納米金屬陣列天線的石墨烯/硅近紅外探測(cè)器”為主題的文章。該文章第一作者為張逸飛,通訊作者為王軍轉(zhuǎn)。

本工作采用金納米金屬低聚體超構(gòu)表面作為石墨烯/硅(SOI)近紅外探測(cè)器的天線,實(shí)現(xiàn)了光響應(yīng)度2倍的增強(qiáng)。通過時(shí)域有限差分法(FDTD)仿真和實(shí)驗(yàn)相結(jié)合研究了低聚體超構(gòu)表面光電耦合效率的動(dòng)態(tài)過程,為提高光電探測(cè)效率提供了一種重要的途徑。

器件和納米結(jié)構(gòu)制備

器件制備流程如圖1所示,選用厚度為1 μm的n型輕摻雜(摻雜濃度約3x101? at./cm3)SOI作為襯底,通過光刻圖形化和反應(yīng)耦合等離子體(ICP)刻蝕技術(shù)制備出200 μm x 200 μm的硅島如圖1(a)所示,再通過光刻圖形化和電子束蒸發(fā)技術(shù)(EBE)在硅島上實(shí)現(xiàn)做好一對(duì)電極(5 nm Ti/45 nm Au),如圖1(b),其中一個(gè)電極和硅島接觸,另一個(gè)電極在絕緣層襯底上與后續(xù)轉(zhuǎn)移的石墨烯相接觸;接下來通過電子束曝光的方式(EBL)圖形天線納米顆粒并采用EBE蒸金屬5 nm Ti/45 nm Au并剝離,如圖1(c),最后將化學(xué)氣相沉淀方法生長(zhǎng)的(CVD)石墨烯通過濕法轉(zhuǎn)移的方法轉(zhuǎn)移到硅島上面,并采用刻蝕方法將石墨烯和與硅接觸的電極斷開,這樣整個(gè)石墨烯/硅肖特基器件制備完成如圖1(d)所示,器件顯微鏡照片如圖1(e)所示,石墨烯形狀完好,沒有破裂。

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圖1 納米天線器件制備流程示意圖

圖2(a)為制備的納米天線陣列示意圖,夾角為θ,每個(gè)陣列大小約10 μm,天線正方形邊長(zhǎng)為250 nm,周期為1750 nm,圖2(c)和(d)為θ等于0°和40°的納米天線的掃描電鏡圖片。

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圖2 納米天線陣列SEM表征圖

納米陣列等離激元對(duì)光電探測(cè)增強(qiáng)效果

首先,對(duì)器件進(jìn)行了微區(qū)光電流測(cè)試,測(cè)試的光路圖如圖3(a)所示,850 nm激光通過20倍物鏡聚焦照射在器件上,光斑直徑大小約1 μm,通過偏振片調(diào)節(jié)激光的線偏振方向和納米結(jié)構(gòu)x軸方向一致,如圖2(a)所示x方向(與納米結(jié)構(gòu)中心軸y水平垂直)。研究人員測(cè)試了器件的暗電流,有納米天線和沒有納米天線的暗電流基本一致(如圖3(a)),可見曲線是典型的背靠背肖特基的電流電壓特性曲線,金和硅以及硅和石墨烯都形成了肖特基接觸。隨后,挑選了納米天線夾角為0°的納米顆粒陣列研究光電流增強(qiáng)情況,圖3(d)給出了有無納米天線的器件,在改變激光功率時(shí)光電流變化趨勢(shì),隨著功率從0.03 mW增加到1.86 mW,光電流逐漸增加并趨向飽和達(dá)到1.05 x 10?? A,而沒有天線的石墨烯/硅探測(cè)區(qū)域光電流為5.45 x 10?? A,天線對(duì)光電流增強(qiáng)約2倍,有天線時(shí)光電流響應(yīng)度為56 mA/W,相比商用的PIN結(jié)構(gòu)硅探測(cè)器響應(yīng)度低近一個(gè)數(shù)量級(jí)。在這里主要關(guān)注天線對(duì)探測(cè)性能提高的影響,沒有在器件結(jié)構(gòu)上做進(jìn)一步的優(yōu)化。

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圖3 具有納米天線結(jié)構(gòu)的器件光電流表征

圖4(a)給出了制備出的器件暗場(chǎng)的照片,為了研究顆粒間距以及周期和夾角對(duì)探測(cè)效果的影響,設(shè)計(jì)了三個(gè)區(qū)域的天線,分別為周期為1.2 μm納米顆粒間距為40 nm和100 nm的Ⅰ和Ⅱ區(qū),周期為1.75 μm納米顆粒間距為40 nm的Ⅲ區(qū),每一個(gè)區(qū)域從右到左,由上到下,夾角θ如圖中所標(biāo)注從0°到40°。圖4(b)給出了1 mW 850 nm激光輻照下的光電流掃描圖,從圖中可見有納米天線的探測(cè)區(qū)域光電流明顯高于無納米線天線的區(qū)域,周期為1.2 μm間距為100 nm的納米顆粒陣列區(qū)域整體上光電流更大一些。

當(dāng)研究納米結(jié)構(gòu)天線隨著角度的變化對(duì)光電流強(qiáng)度影響規(guī)律時(shí),發(fā)現(xiàn)角度增大過程中,整體上光電流不斷增大,直到θ為40°達(dá)到最大,隨后減小,最大增幅約為14%。然而,三種結(jié)構(gòu)中一致地出現(xiàn)在θ為20°時(shí),光電流隨夾角變化存在一個(gè)谷,而此時(shí)光電流大小與夾角為0°時(shí)相當(dāng),如圖4(c)所示。

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圖4 不同夾角納米天線陣列的光電流表征

夾角對(duì)天線效果影響以及仿真結(jié)果

為了進(jìn)一步理解光電流隨夾角變化這一現(xiàn)象背后的物理過程,采用Lumerical中時(shí)域有限差分法(FDTD)進(jìn)行仿真工作。圖5(a)分別為該結(jié)構(gòu)夾角θ從0°到40°的透射和吸收譜圖,透射譜可以看到明顯的法諾共振。當(dāng)兩個(gè)納米顆粒靠近時(shí),在光場(chǎng)激勵(lì)下形成兩個(gè)極化子(dipole),類似當(dāng)氫原子靠近時(shí)軌道雜化一樣,兩個(gè)dipole進(jìn)行雜化形成了成鍵和反成鍵態(tài),而多個(gè)顆粒就形成了多體耦合結(jié)構(gòu)(多聚體)。這樣強(qiáng)耦合體系向平面泄露或者輻射光將會(huì)產(chǎn)生干涉形成新的分立的泄露模式,該模式和納米顆粒等離激元模式相耦合產(chǎn)生法諾共振。從仿真結(jié)果看,隨著角度增加,共振峰位以及強(qiáng)度沒有明顯變化;如圖5(b)所示,夾角為16°和20°共振譜形,該譜形具有非對(duì)稱的結(jié)構(gòu),類似法諾共振耦合譜,主峰附近低能量的振蕩峰與多體耦合相關(guān)。

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圖5 納米天線透射光譜和和夾角關(guān)系

結(jié)論和討論

基于石墨烯/硅肖特基探測(cè)器研究了金屬納米結(jié)構(gòu)等離激元天線的夾角對(duì)光場(chǎng)增強(qiáng)的影響,整體上天線對(duì)光響應(yīng)度實(shí)現(xiàn)了兩倍的增強(qiáng)。當(dāng)夾角從0°到90°變化時(shí),光電流先增大,后來趨向飽和,當(dāng)該夾角為40°時(shí),光電流達(dá)到最大值,對(duì)應(yīng)法諾共振最大的透射率,此時(shí)天線不僅匯聚光場(chǎng)能量還定向發(fā)射給探測(cè)器;當(dāng)該夾角為20°時(shí),光電流出現(xiàn)一個(gè)低谷,此時(shí)能量局域于低聚體內(nèi),金屬損耗減弱了等離激元增強(qiáng)效果??梢赃M(jìn)一步推測(cè),泄漏場(chǎng)的干涉有望實(shí)現(xiàn)BIC,從而輻射能量得以消除,將能量集中于結(jié)構(gòu)內(nèi),然而由于金屬材料損耗比較大,又由于襯底介電常數(shù)以及吸收特性,無法進(jìn)一步得到BIC現(xiàn)象。該工作通過時(shí)域有限差分法仿真和實(shí)驗(yàn)相結(jié)合研究了多個(gè)納米顆粒組成的多聚體超構(gòu)表面光電耦合效率的動(dòng)態(tài)過程,為提高光電探測(cè)效率提供了一種重要的途徑。







審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:基于納米金屬陣列天線的石墨烯/硅近紅外探測(cè)器

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