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ENIG Ni(P)鍍層焊接界面P偏析產(chǎn)生機(jī)理

jf_17722107 ? 來(lái)源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2024-02-21 09:12 ? 次閱讀
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P偏析是指在使用ENIG Ni(P)鍍層進(jìn)行回流焊接時(shí),由于Ni和焊料中的Sn之間的冶金反應(yīng),導(dǎo)致Ni(P)層中的P元素在焊接界面附近富集的現(xiàn)象。P偏析會(huì)降低焊接界面的強(qiáng)度和可靠性,增加焊點(diǎn)的脆性和開(kāi)裂的風(fēng)險(xiǎn)。


產(chǎn)生機(jī)理


當(dāng)采用SnPb在Ni(P)層上焊接時(shí),當(dāng)熔融焊料和Ni(P)層接觸時(shí),由于Ni(P)層的Ni和焊料中的Sn發(fā)生冶金反應(yīng)生成的Ni3Sn4金屬間化合物,消耗了靠近焊料層區(qū)域中的Ni,使得該區(qū)域出現(xiàn)了富P層,從而導(dǎo)致P偏析,如圖1所示。

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圖1. SnPb焊料與Ni(P)鍍層焊接時(shí)發(fā)生的P偏析


當(dāng)采用無(wú)鉛焊料SAC在Ni(P)層上焊接時(shí),情況與有鉛焊料基本類(lèi)似,不同的是此時(shí)生成的金屬間化合物為Sn、Cu、Ni三元合金,如圖2所示。

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圖2. SAC焊料與Ni(P)鍍層焊接時(shí)發(fā)生的P偏析


從上述兩種情況可以看出,P偏析的產(chǎn)生機(jī)理主要是由于Ni的溶出和P的富集所導(dǎo)致的。Ni的溶出是由于Ni和Sn之間的冶金反應(yīng)所致,而P的富集是由于P的擴(kuò)散和Ni的消耗所致。P偏析會(huì)導(dǎo)致焊接界面的強(qiáng)度和可靠性的降低,因?yàn)镻是一種脆性元素,它會(huì)使得金屬間化合物的結(jié)構(gòu)變得不穩(wěn)定和易碎,從而增加焊點(diǎn)的脆性和開(kāi)裂的風(fēng)險(xiǎn)。


影響P偏析的因素
主要包括焊料的成分、Ni(P)層的厚度、焊接溫度和時(shí)間等。
1.焊料的成分:焊料的成分會(huì)影響Ni和Sn之間的冶金反應(yīng)的速率和類(lèi)型,從而影響Ni的溶出和P的富集的程度。一般來(lái)說(shuō),Sn的含量越高,Ni的溶出和P的富集越明顯,因?yàn)镾n會(huì)促進(jìn)Ni的擴(kuò)散和消耗。
另一方面,添加一定量的Cu或Ag可以有效地抑制P偏析,因?yàn)樗鼈兛梢孕纬煞€(wěn)定的金屬間化合物,阻礙Ni的擴(kuò)散。圖3表示了焊料合金成分對(duì)富P層和Ni-Sn化合物層厚度的影響。

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圖3. SAC的成分對(duì)富P層厚度變化的影響


從圖中可見(jiàn),Sn3.5Ag二元合金的富P層的生長(zhǎng)比較顯著。而對(duì)添加了Cu的三元合金,經(jīng)歷30min的反應(yīng)后也只有數(shù)百nm的厚度,Cu構(gòu)成了Ni擴(kuò)散的阻擋層。因此,焊料中Cu含量的不同,對(duì)界面層的形成有較大影響。


2.Ni(P)層的厚度:Ni(P)層的厚度會(huì)影響Ni的溶出和P的富集的程度,從而影響P偏析的嚴(yán)重性。一般來(lái)說(shuō),Ni(P)層的厚度越大,P的含量越高,P偏析的程度越嚴(yán)重,因?yàn)镻的擴(kuò)散和Ni的消耗的空間越大。而當(dāng)Ni(P)層的厚度小于3μm時(shí),P偏析的影響可以忽略不計(jì)。
3.焊接溫度和時(shí)間:焊接溫度和時(shí)間會(huì)影響Ni和Sn之間的冶金反應(yīng)的速率和類(lèi)型,從而影響Ni的溶出和P的富集的程度。一般來(lái)說(shuō),焊接溫度和時(shí)間越高,Ni的溶出和P的富集越明顯。

審核編輯 黃宇

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