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普賽斯儀表 | VCSEL窄脈沖LIV測(cè)試解決方案

武漢普賽斯儀表有限公司 ? 2024-06-06 14:26 ? 次閱讀
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VCSEL常見(jiàn)測(cè)試參數(shù)特性分析

VCSEL器件廣泛應(yīng)用于3D人臉識(shí)別和距離傳感。當(dāng)VCSEL陣列用于TOF模組,特別是激光雷達(dá)一類(lèi)的dTOF系統(tǒng)時(shí),VCSEL在窄脈沖情況下的峰值功率、工作電流、工作電壓、轉(zhuǎn)化效率、近遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)特性等參數(shù)對(duì)于芯片供應(yīng)商、封裝服務(wù)商、模組集成商等都非常重要。

VCSEL和VCSEL陣列,包括各種激光二極管標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)的關(guān)鍵電性能技術(shù)參數(shù),常見(jiàn)如激光二極管正向壓降(VF )、KinK點(diǎn)測(cè)試/線(xiàn)性度測(cè)試(dL/dI)、閾值電流(Ith)、輸出光功率等(Po)以斜率效率(Es)等。

LIV測(cè)試是確定VCSEL關(guān)鍵性能參數(shù)的一種快速簡(jiǎn)單的方法,它將兩條測(cè)量曲線(xiàn)組合在一個(gè)圖形中。L/I曲線(xiàn)顯示了激光器的光強(qiáng)度對(duì)工作電流的依賴(lài)性,并用于確定工作點(diǎn)和閾值電流。V/I曲線(xiàn)顯示了施加到激光器的電壓作為工作電流的函數(shù)。通過(guò)LIV(光強(qiáng)-電流-電壓)測(cè)試,可以評(píng)估VCSEL絕大多數(shù)電參數(shù)特性及最佳輸出光功率。

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窄脈沖LIV測(cè)試典型方案

為了滿(mǎn)足VCSEL產(chǎn)業(yè)鏈對(duì)窄脈沖LIV測(cè)試的需求,普賽斯儀表和多應(yīng)用領(lǐng)域的頭部企業(yè)進(jìn)行了深入的探討,結(jié)合產(chǎn)業(yè)需求以及自身技術(shù)沉淀,推出了PL窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng),產(chǎn)品具有輸出電流脈沖窄(ns級(jí))、輸出脈沖電流大(30A)、支持脈寬光峰值功率檢測(cè)、支持激光器電壓測(cè)量、超快上升速度等功能。

系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)

集多表功能于一體:快速脈沖發(fā)生器+程控電流源+峰值取樣光功率計(jì)+脈沖電壓表,具有同步性能好、測(cè)試速度快等優(yōu)點(diǎn);超窄至ns級(jí)的脈沖,占

空比可低至0.01%;

脈沖高保真:脈沖無(wú)過(guò)沖、無(wú)振蕩;最快脈沖上升時(shí)間300A/μs,兼容CW和QCW模式;

更大的測(cè)試電流:針對(duì)30A以上大功率激光器的測(cè)試需求,可以通過(guò)并聯(lián)多達(dá)4臺(tái)普賽斯PL系列設(shè)備,提供最大120A、μs級(jí)脈寬的驅(qū)動(dòng)電流;

上位機(jī)測(cè)試軟件:配置專(zhuān)用上位機(jī)軟件,可直接設(shè)置多項(xiàng)測(cè)試參數(shù),測(cè)試完成后自動(dòng)計(jì)算處理數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試,提高測(cè)試效率。

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PL系列窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成如上圖所示:PL系列脈沖源、測(cè)試夾具、積分球、光纖、光譜儀等,光譜儀用戶(hù)可以根據(jù)自己的需求選擇另購(gòu)。

測(cè)試夾具

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正向電壓(VF)指工作在一定前向驅(qū)動(dòng)電流的條件下(一般為Ith+20mA)的正向電壓值,包括帶隙電壓VBG及等效串聯(lián)電阻的壓降I*RL 。

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閾值電流(I t h )指VCSEL激光器由自發(fā)輻射轉(zhuǎn)換到受激輻射狀態(tài)時(shí)的正向電流值,可以通過(guò)LIV曲線(xiàn)來(lái)測(cè)量。

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光強(qiáng)度(L)測(cè)量對(duì)VCSEL的光輸出進(jìn)行測(cè)試檢驗(yàn)。光強(qiáng)度測(cè)量的輸出一般以mW為單位。需要一個(gè)經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的積分球+光纖+探測(cè)器組成,在VCSEL光譜特性等光學(xué)參數(shù)項(xiàng)目測(cè)量中,測(cè)試機(jī)仍需要電流源為器件供電,推薦使用普賽斯PL系列窄脈沖測(cè)試系統(tǒng)集成使用,PL系列作為恒流電流源也可同時(shí)為光譜儀、其他自動(dòng)化設(shè)備、擴(kuò)展接口等提供I/O接口及合理設(shè)計(jì)的測(cè)試夾具,從而實(shí)現(xiàn)測(cè)試機(jī)的全參數(shù)自動(dòng)化測(cè)試。

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多通道測(cè)試方案

針對(duì)VCSEL測(cè)試系統(tǒng)老化電源的需求,普賽斯豐富的產(chǎn)品線(xiàn)同樣可以完美應(yīng)對(duì)。多通道老化電源,最大可到40CH,各通道可獨(dú)立控制、同步測(cè)試、獨(dú)立

輸出,配置靈活,幫助VCSEL的老化測(cè)試實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)、高效。

wKgZomZhVlaAUqAnAAVOLHZVpAI267.png普賽斯1010C主機(jī)CBI402子卡
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