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DRAM內(nèi)存操作與時序解析

數(shù)字芯片實驗室 ? 來源:數(shù)字芯片實驗室 ? 2024-07-26 11:39 ? 次閱讀
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在數(shù)字時代,DRAM(動態(tài)隨機(jī)存取存儲器)扮演著至關(guān)重要的角色。它們存儲著我們的數(shù)據(jù),也承載著我們的記憶。然而,要正確地操作DRAM并確保其高效運行,了解其背后的時序和操作機(jī)制是必不可少的。

1. DRAM操作的挑戰(zhàn)

DRAM的操作復(fù)雜性主要來自于其時序要求。DRAM是一種異步系統(tǒng)。只要信號以正確的順序應(yīng)用,并且信號持續(xù)時間和信號之間的延遲滿足特定限制,DRAM就能正常工作??刂艱RAM操作的主要信號包括:

行地址選通(RAS):RAS信號是低電平有效。要啟用RAS,需要從高電壓過渡到低電壓,并且電壓必須保持低電平直到RAS不再需要。在完整的內(nèi)存周期中,RAS必須保持有效狀態(tài)的最小時間是tRAS。此外,RAS在再次激活之前必須保持非活動狀態(tài)的最小時間是tRP。

列地址選通(CAS):CAS用于鎖定列地址并啟動讀或?qū)懖僮?。CAS也是低電平有效。內(nèi)存規(guī)格列出了CAS必須保持活動狀態(tài)的最小時間tCAS。對于大多數(shù)內(nèi)存操作,CAS在再次激活之前也必須保持非活動狀態(tài)的最小時間tCP。

寫使能(WE):寫使能信號用于選擇讀操作或?qū)懖僮鳌E信號是低電平有效。

2. 讀操作

讀取DRAM中的數(shù)據(jù)時,需要通過地址輸入引腳提供行和列地址來選擇特定的DRAM存儲單元。選中的DRAM單元上的電荷隨后由靈敏放大器檢測,并發(fā)送到數(shù)據(jù)輸出引腳。

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讀操作的時序步驟如下:

在RAS信號變低之前,行地址必須應(yīng)用于內(nèi)存設(shè)備的地址輸入引腳。

RAS信號從高變低,并保持低電平一段時間(tRAS)。當(dāng)RAS變低時,由行地址指定的內(nèi)存行被打開,選中行的單元電荷開始流向位線。

在CAS信號變低之前,列地址必須應(yīng)用于內(nèi)存設(shè)備的地址輸入引腳。

在CAS信號轉(zhuǎn)換之前,WE信號必須設(shè)置為高電平以進(jìn)行讀操作,并在CAS轉(zhuǎn)換后保持高電平。

經(jīng)過規(guī)定的RAS到CAS延遲時間(tRCD)后,CAS信號從高變低,并保持低電平一段時間(tCAS)。這確保了選中單元的電荷在位線上,并被靈敏放大器正確檢測。

數(shù)據(jù)出現(xiàn)在內(nèi)存設(shè)備的數(shù)據(jù)輸出引腳上,這個過程稱為CAS延遲(tCL)。

讀周期完成前,CAS和RAS必須返回到非活動狀態(tài)。新的讀或?qū)懺L問只能在規(guī)定的行預(yù)充電時間(tRP)后開始。

3. 寫操作

寫入DRAM存儲單元時,同樣需要選擇行和列地址,并將數(shù)據(jù)呈現(xiàn)在數(shù)據(jù)輸入引腳上。靈敏放大器根據(jù)要存儲的是1還是0,對存儲單元的電容器進(jìn)行充電或放電。

2b49df8c-4ae3-11ef-b8af-92fbcf53809c.jpg

寫操作的時序步驟如下:

在RAS信號變低之前,行地址必須應(yīng)用于內(nèi)存設(shè)備的地址輸入引腳。

RAS信號從高變低,并保持低電平一段時間(tRAS)。當(dāng)RAS變低時,由行地址指定的內(nèi)存行被打開。

數(shù)據(jù)在CAS信號變低之前必須應(yīng)用于數(shù)據(jù)輸入引腳。

在RAS信號變低后和CAS信號變低之前,列地址必須應(yīng)用于內(nèi)存設(shè)備的地址輸入引腳。

為了進(jìn)行寫操作,WE信號必須設(shè)置為低電平。

經(jīng)過規(guī)定的RAS到CAS延遲時間(tRCD)后,CAS信號從高變低,并保持低電平一段時間(tCAS)。

4. 刷新操作

由于DRAM存儲單元是電容器,其電荷會隨時間逐漸流失。如果電荷丟失,數(shù)據(jù)也會丟失。為了防止數(shù)據(jù)丟失,必須定期刷新DRAM,即恢復(fù)每個存儲單元上的電荷。DRAM的刷新是逐行進(jìn)行的,刷新頻率取決于制造內(nèi)存芯片的工藝和存儲單元的設(shè)計。大多數(shù)現(xiàn)代DRAM每64毫秒需要刷新一次。

刷新DRAM時,通常使用所謂的CAS-before-RAS刷新序列。這個過程包括以下步驟:

CAS信號從高變低,同時WE信號保持高電平(相當(dāng)于讀操作)。

經(jīng)過規(guī)定延遲后,RAS信號從高變低。

內(nèi)部計數(shù)器確定要刷新的行,并在地址引腳上應(yīng)用行地址。

通過這些步驟,DRAM能夠保持其數(shù)據(jù)的完整性,確保我們的信息安全存儲。

5. 重要時序參數(shù)總結(jié)

行激活時間(tRAS):RAS信號需要保持低電平的最小時間,以讀取或?qū)懭氪鎯ξ恢谩?/p>

CAS延遲(tCL):從正確列已打開的DRAM讀取第一個比特所需的時間。

行地址到列地址延遲(tRCD):激活RAS到激活CAS所需的最短時間。

隨機(jī)訪問時間(tRAC:從沒有激活行的DRAM讀取第一個比特所需的時間。

行預(yù)充電時間(tRP):數(shù)據(jù)檢索成功后,需要關(guān)閉用于訪問數(shù)據(jù)的行。

行周期時間(tRC):與單次讀或?qū)懼芷谙嚓P(guān)的時間,tRC = tRAS + tRP。

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原文標(biāo)題:DRAM內(nèi)存操作與時序解析

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