晶發(fā)電子專注17年晶振生產(chǎn),晶振產(chǎn)品包括石英晶體諧振器、振蕩器、貼片晶振、32.768Khz時(shí)鐘晶振、有源晶振、無(wú)源晶振等，產(chǎn)品性能穩(wěn)定,品質(zhì)過(guò)硬,價(jià)格好,交期快.國(guó)產(chǎn)晶振品牌您值得信賴的晶振供應(yīng)商。

在電子電路的設(shè)計(jì)與應(yīng)用中，晶體諧振器(晶振)的頻率穩(wěn)定性至關(guān)重要。然而，晶振在工作過(guò)程中可能會(huì)因溫度變化而出現(xiàn)頻率不穩(wěn)定的現(xiàn)象，這可能是由于晶振本身的品質(zhì)問(wèn)題，也可能是振蕩電路的設(shè)計(jì)或匹配問(wèn)題。

晶振因溫度變化導(dǎo)致頻率不穩(wěn)定的原因

1.晶振本身品質(zhì)不良

晶振的品質(zhì)不良是導(dǎo)致其受熱后頻率不穩(wěn)定的常見(jiàn)原因。晶振的電阻在高溫區(qū)域可能會(huì)出現(xiàn)跳變，尤其是突然增大時(shí)，會(huì)導(dǎo)致晶振停振。此外，石英晶體本身存在“溫漂”現(xiàn)象，即溫度變化時(shí)晶振的頻率會(huì)出現(xiàn)漂移，但這通常不會(huì)導(dǎo)致停振。晶振停振的真正原因可能與晶振的制程有關(guān)，如石英晶片制程不達(dá)標(biāo)或封裝前內(nèi)部存在雜質(zhì)。幸運(yùn)的是，這些不良品通常可以在生產(chǎn)過(guò)程中通過(guò)高低溫測(cè)試被排除。

2.振蕩電路出現(xiàn)問(wèn)題

晶振受熱起振的問(wèn)題，如通過(guò)手觸摸或熱吹風(fēng)機(jī)加熱后晶振才能正常工作，通常與“頻偏”有關(guān)。這種現(xiàn)象可能是由于晶振外圍負(fù)載電容的變化，導(dǎo)致晶振瞬間向中心頻率靠近。晶振本身精度不足、負(fù)載電容不匹配或電路板上的雜散電容過(guò)多，都可能導(dǎo)致晶振無(wú)法在正?；蜃罴褷顟B(tài)下工作。

特殊情況分析

有時(shí)候，晶振在受熱后能夠正常工作，但這并不意味著晶振本身不良。一個(gè)典型的例子是，當(dāng)IC的引腳存在暗腳時(shí)，溫度升高可能導(dǎo)致斷路引腳受熱膨脹，從而短暫導(dǎo)通電路。在這種情況下，更換IC是解決問(wèn)題的關(guān)鍵。

總結(jié)

晶振的頻率穩(wěn)定性受多種因素影響，包括晶振自身的品質(zhì)和振蕩電路的設(shè)計(jì)與匹配。在設(shè)計(jì)和應(yīng)用晶振時(shí)，必須考慮到溫度變化對(duì)晶振性能的影響，并通過(guò)適當(dāng)?shù)臏y(cè)試和電路優(yōu)化來(lái)確保晶振的穩(wěn)定性。正確的晶振選型和電路匹配，就如同確保汽車安全行駛在道路中央，避免因外界因素導(dǎo)致的不穩(wěn)定現(xiàn)象。通過(guò)細(xì)致的排查和測(cè)試，可以揭示問(wèn)題的真正原因，從而采取有效的解決措施。

審核編輯 黃宇