在電磁兼容性（EMC）測(cè)試中，輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射是兩種重要的測(cè)試方法，它們分別用于評(píng)估電子設(shè)備在工作時(shí)對(duì)外界電磁環(huán)境的影響和其本身對(duì)外界電磁環(huán)境的耐受能力。

一、EMC輻射發(fā)射與傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的區(qū)別

1. 測(cè)試目標(biāo)

• 輻射發(fā)射測(cè)試 ：主要用來(lái)評(píng)估電子設(shè)備在工作過(guò)程中，通過(guò)空間向外界輻射的電磁能量或電磁波的強(qiáng)度。這種測(cè)試關(guān)注設(shè)備是否會(huì)產(chǎn)生過(guò)量的電磁輻射，從而可能干擾其他電子設(shè)備的正常運(yùn)行或違反相關(guān)法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。
• 傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試 ：則是用來(lái)評(píng)估電子設(shè)備對(duì)外界電磁干擾的敏感程度以及其內(nèi)部的抗干擾能力。在傳導(dǎo)測(cè)試中，設(shè)備被連接到各種線(xiàn)纜和天線(xiàn)等外部電磁干擾源中，以測(cè)試其在受到干擾時(shí)的工作狀態(tài)是否正常。

2. 測(cè)試方法

• 輻射發(fā)射測(cè)試 ：通常將被測(cè)設(shè)備放置在一個(gè)半無(wú)限大的輻射場(chǎng)中，通過(guò)測(cè)量設(shè)備在不同頻率下輻射出的電磁能量來(lái)評(píng)估其輻射水平。測(cè)試頻率范圍廣泛，涵蓋低頻到高頻的多個(gè)頻段。測(cè)試時(shí)，根據(jù)測(cè)試頻率的不同，可能需要采用不同的測(cè)試布置和極化方式。
• 傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試 ：主要通過(guò)將設(shè)備連接到電源線(xiàn)和信號(hào)線(xiàn)等外部電磁干擾源中，測(cè)試設(shè)備在這些線(xiàn)路上的電壓或電流變化，以評(píng)估其傳導(dǎo)發(fā)射水平。測(cè)試頻率也覆蓋一定的范圍，但主要集中在電源線(xiàn)和其他信號(hào)線(xiàn)的頻率范圍內(nèi)。

3. 測(cè)試結(jié)果應(yīng)用

• 輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果 ：用于評(píng)估設(shè)備是否會(huì)對(duì)周?chē)h(huán)境產(chǎn)生過(guò)量的電磁輻射，以及是否滿(mǎn)足相關(guān)法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的要求。測(cè)試結(jié)果對(duì)于產(chǎn)品的市場(chǎng)準(zhǔn)入和認(rèn)證至關(guān)重要。
• 傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試結(jié)果 ：則更多地關(guān)注設(shè)備內(nèi)部的抗干擾能力和電磁兼容性設(shè)計(jì)。測(cè)試結(jié)果可以幫助制造商優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)，減少電磁干擾對(duì)設(shè)備性能的影響。

二、EMC傳導(dǎo)測(cè)試不過(guò)的原因

EMC傳導(dǎo)測(cè)試不過(guò)可能由多種原因造成，以下是一些常見(jiàn)的原因分析：

1. 不合適的設(shè)計(jì)

設(shè)備在電路設(shè)計(jì)、PCB布局、信號(hào)線(xiàn)布置等方面存在缺陷，導(dǎo)致電磁輻射和傳導(dǎo)干擾超過(guò)了限值。例如，電源線(xiàn)和信號(hào)線(xiàn)布局不合理，相互之間或與其他高功率線(xiàn)路靠得太近，容易產(chǎn)生電磁耦合和干擾。

2. 電源濾波不足

電源線(xiàn)濾波器設(shè)計(jì)不當(dāng)或選擇不適當(dāng)，導(dǎo)致設(shè)備在電源線(xiàn)上產(chǎn)生噪聲，進(jìn)而影響其他設(shè)備的正常運(yùn)行。濾波器的性能直接關(guān)系到設(shè)備對(duì)電源線(xiàn)上電磁干擾的抑制能力。

3. 接地問(wèn)題

接地系統(tǒng)設(shè)計(jì)不良或接地線(xiàn)路連接不正確，導(dǎo)致設(shè)備無(wú)法有效地排除干擾噪聲和維持電勢(shì)平衡。接地不良不僅會(huì)影響設(shè)備的傳導(dǎo)發(fā)射性能，還可能影響設(shè)備的輻射發(fā)射性能。

4. 電磁屏蔽不完善

設(shè)備的外殼或電磁屏蔽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不當(dāng)，無(wú)法有效地阻止外界電磁場(chǎng)的干擾進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部或限制設(shè)備的電磁輻射。電磁屏蔽是EMC設(shè)計(jì)中的重要組成部分，對(duì)于降低電磁干擾和輻射具有關(guān)鍵作用。

5. 信號(hào)線(xiàn)干擾

信號(hào)線(xiàn)布局不當(dāng)或與電源線(xiàn)、高功率線(xiàn)路等靠近，導(dǎo)致信號(hào)線(xiàn)受到干擾并傳導(dǎo)到其他設(shè)備。信號(hào)線(xiàn)干擾是傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試中的常見(jiàn)問(wèn)題之一，需要通過(guò)合理的布線(xiàn)和屏蔽措施來(lái)解決。

6. 不合適的材料選擇

使用不符合EMC要求的材料，如電磁屏蔽材料、抗干擾材料等，無(wú)法提供必要的電磁屏蔽和抑制干擾。材料選擇對(duì)于EMC性能具有重要影響，需要根據(jù)具體的應(yīng)用場(chǎng)景和測(cè)試要求來(lái)選擇合適的材料。

7. 設(shè)備老化或損壞

設(shè)備在使用過(guò)程中可能發(fā)生老化、機(jī)械損壞或元器件失效，導(dǎo)致電磁兼容性性能下降。設(shè)備老化是不可避免的，但可以通過(guò)定期的維護(hù)和保養(yǎng)來(lái)延緩其老化過(guò)程。

8. 測(cè)試條件不準(zhǔn)確

測(cè)試時(shí)未正確設(shè)置環(huán)境條件、電源條件或測(cè)試設(shè)備，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確或不符合要求。測(cè)試條件的準(zhǔn)確性對(duì)于測(cè)試結(jié)果具有重要影響，需要嚴(yán)格按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范進(jìn)行測(cè)試。

三、結(jié)論

EMC輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試是評(píng)估電子設(shè)備電磁兼容性的重要手段。它們各自具有不同的測(cè)試目標(biāo)和測(cè)試方法，但都是為了確保設(shè)備在正常工作時(shí)不會(huì)對(duì)周?chē)h(huán)境產(chǎn)生過(guò)量的電磁輻射或受到外部電磁干擾的影響。當(dāng)EMC傳導(dǎo)測(cè)試不過(guò)時(shí)，需要從多個(gè)方面進(jìn)行分析和排查原因，以便采取相應(yīng)的措施來(lái)解決問(wèn)題。這些措施可能包括優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、改進(jìn)PCB布局、加強(qiáng)電源濾波和接地設(shè)計(jì)、完善電磁屏蔽結(jié)構(gòu)、選擇合適的材料以及確保測(cè)試條件的準(zhǔn)確性等。通過(guò)這些措施的實(shí)施，可以有效提高設(shè)備的電磁兼容性性能，滿(mǎn)足相關(guān)法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)的要求。