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瀚海微SD NAND之SD 協(xié)議(32)1.8V信令的驅(qū)動強度和總線時序

呂輝 ? 來源:jf_40298777 ? 作者:jf_40298777 ? 2024-09-26 10:31 ? 次閱讀
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輸出驅(qū)動強度

4級驅(qū)動強度為了保持主機系統(tǒng)的靈活設(shè)計,輸出驅(qū)動可以看到大范圍的主機負載。

4種可選驅(qū)動強度使主機系統(tǒng)能夠調(diào)整驅(qū)動強度,以優(yōu)化特定的主機負載。

這使SD卡能夠靈活地支持不同的系統(tǒng)負載和系統(tǒng)目標,同時提供非常好的信號完整性性能。

為UHS-I卡1.8V信號電平定義了4種可選擇的驅(qū)動強度類型。

同時也為主機輸出驅(qū)動的設(shè)計提供參考。

主機應該選擇最合適的卡的驅(qū)動強度來驅(qū)動其特定的PCB。

I/O驅(qū)動強度類型

卡輸出驅(qū)動的負載取決于主機的PCB設(shè)計。

驅(qū)動器看到的等效電容負載由傳輸線阻抗、傳輸線上的信號傳播延遲和信號的上升/下降時間決定。

當上升/下降時間大于傳輸線上若干波反射時間時,認為負載是“集中的”,否則認為負載是“分布的”。

對集總系統(tǒng)的插卡輸入、傳輸線輸入和主機輸入的總電容負荷進行了估計。

相反,對于分布式系統(tǒng),估計距離源一定距離的路徑上的集總元素的和。

其余的路徑電容對驅(qū)動器是不可見的。

因此,在這種情況下,通常主控制器輸入電容不會被驅(qū)動程序看到。

出于測試的目的,將傳輸線負載轉(zhuǎn)換為等效集總負載,其上升/下降時間與傳輸線情況相同。

為每種驅(qū)動類型定義兩個估計電容負載,以定義UHS50和UHS104卡的驅(qū)動特性。

驅(qū)動類型B

類型B是默認的驅(qū)動強度,適用于固定阻抗的分布式系統(tǒng),傳輸線為50歐姆,在所有可用頻率下。因此,它被定義為50歐姆標稱驅(qū)動器。該驅(qū)動程序可以支持UHS104卡的總CL約15pF, UHS50卡的總CL約30pF。驅(qū)動強度B是參考驅(qū)動程序定義的所有其余的驅(qū)動力量。

驅(qū)動程序類型A

類型 A是x1.5驅(qū)動,定義為33歐姆名義驅(qū)動,并支持高達208 MHz的操作。

驅(qū)動程序類型С

類型C是x0.75驅(qū)動程序,它是最弱的驅(qū)動,它支持208 MHz的操作,和被定義為66歐姆名義司機。

驅(qū)動程序類型D

類型 D驅(qū)動程序是一個x0.5驅(qū)動,最好是系統(tǒng)速度并不是關(guān)鍵,但更重要的是低噪音/低電磁干擾。D型產(chǎn)生最慢的上升/下降時間。使用一個非常緩慢的上升時間,系統(tǒng)通常將被認為是一個集中負載系統(tǒng)。

D型定義為100歐姆標稱驅(qū)動器,最大工作頻率取決于主機設(shè)計。

wKgZomb0xxOAb6-6AADMlrKv-Hc240.png

注:標稱阻抗由輸出驅(qū)動器在0.9V時的I-V特性定義。

I/O驅(qū)動器AC特性介紹

I/O設(shè)計器的設(shè)計目標。輸出驅(qū)動器在所有最大到最小延遲條件下的特性最下方的輸出測試電路。

升/降時間表

要求下圖為UHS104和UHS50卡默認驅(qū)動強度(B型)的要求。

A、C、D型驅(qū)動器的I-V曲線(電流-電壓特性)約為x1.5。

x0.75和x0.5從默認驅(qū)動程序類型B

wKgZomb0xyiAUYgvAAC8fe7gbhw626.png

注:1.典型的上升/下降時間值是設(shè)計目標。

2.任何在最小值和最大值之間的實際上升/下降時間都符合本規(guī)范。

輸出上升時間在VoL(0.45V)到voH (1.4V)之間測量,輸出下降時間在VoH(1.4V)到VoL(0.45V)之間測量。

應用說明:上圖也可用于確定主機輸出驅(qū)動的驅(qū)動強度。

其中一種驅(qū)動能力應根據(jù)主機系統(tǒng)的電容負載進行測量。

當選擇D型驅(qū)動器時,最大頻率由主機系統(tǒng)決定。

上升/下降時間比的設(shè)計目標

6.7.1.3.1中進行的所有測量都滿足下圖所述上升時間與下降時間之間的允許差值。

最壞的Rrf通常發(fā)生在不平衡工藝條件下的快N通道和慢P通道或慢N通道和快P通道。

wKgZomb0x02AUAoVAABaZgYGhxI203.png

輸出驅(qū)動測試電路

wKgZomb0x2KACqZjAABs_a4e6lU543.png

注:

1.對于相同的溫度和電壓,在整個溫度和電壓范圍內(nèi)指定上升時間與下降時間的比值。

2.對于給定的溫度和電壓組合,它表示由于工藝變化而引起的上升和下降時間的最大差異。

術(shù)語定義如下:

CL:每條線路的系統(tǒng)總有效電容。 (傳輸線轉(zhuǎn)換為等效集總負載)

CDIE:卡芯capacitance

CPKG:卡封裝電容

Ccard = CDIE + CPKG

CL= CCARD + CEQ

卡電容范圍定義如下:

wKgZomb0x3WATRYuAABOERYeoqk559.png




審核編輯 黃宇

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