一、踩坑過(guò)程

最近用STM32F334做數(shù)字電源，用到了高速ADC采集電壓電流。設(shè)計(jì)的參考電壓VREF為3.3V，輸入信號(hào)經(jīng)運(yùn)放跟隨后直接接入單片機(jī)的采樣通道。一開(kāi)始測(cè)試一切正常，但隨著輸入信號(hào)增加到2.5V左右，采集到的電壓值突然嚴(yán)重偏大（比如實(shí)際2.5V，ADC采集到的電壓為2.6V）。
首先排除軟件問(wèn)題，因?yàn)殡妷狠^低時(shí)采集到的數(shù)據(jù)一切正常。然后檢查硬件問(wèn)題，確認(rèn)輸入信號(hào)正常，確認(rèn)參考電壓正常，甚至排除了通道間相互干擾的可能性，最終問(wèn)題依舊。也懷疑過(guò)單片機(jī)自身的缺陷，但根據(jù)多年的踩坑經(jīng)驗(yàn)，大概率還是自己的硬件設(shè)計(jì)或者軟件有不完善的地方。

對(duì)比以往的經(jīng)驗(yàn)，所用到的ADC的采樣率都很低（基本上小于1kHz），而這次采樣率很高（達(dá)到300kHz）。因此初步懷疑，這次和以往的不同應(yīng)該有什么沒(méi)注意到的問(wèn)題。由于需要快速采樣，本次的ADC時(shí)鐘到達(dá)72MHz，采樣時(shí)間設(shè)為了最小1.5個(gè)周期，單次采樣時(shí)間0.149us左右。配置代碼如下

ADC_StructInit(&ADC_InitStructure); ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = ADC_ContinuousConvMode_Disable; //單次觸發(fā)模式 ADC_InitStructure.ADC_Resolution = ADC_Resolution_12b; ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConvEvent = ADC_ExternalTrigConvEvent_7; //HRTIM_ADCTRG1 event ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigEventEdge = ADC_ExternalTrigEventEdge_RisingEdge; ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right; ADC_InitStructure.ADC_OverrunMode = ADC_OverrunMode_Disable; ADC_InitStructure.ADC_AutoInjMode = ADC_AutoInjec_Disable; ADC_InitStructure.ADC_NbrOfRegChannel = 4; ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure); /* ADC1 regular channel configuration */ ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_1, 1, ADC_SampleTime_1Cycles5); //VISENS ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_2, 2, ADC_SampleTime_1Cycles5); //IOSENS ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_3, 3, ADC_SampleTime_1Cycles5); //VOSENS1 ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_4, 4, ADC_SampleTime_1Cycles5); //VOSENS2

懷疑采樣時(shí)間太快，導(dǎo)致采集出錯(cuò)，因此將采樣時(shí)間設(shè)大。設(shè)大后有明顯效果，采集到的值誤差變小，基本判定此處有玄機(jī)。于是仔細(xì)看了下手冊(cè)關(guān)于采樣時(shí)間的的描述

描述中明確提到，需要有足夠的采樣時(shí)間，確保輸入信號(hào)對(duì)內(nèi)嵌的保持電容充電并達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。之后把采樣時(shí)間設(shè)置到最大，采樣的結(jié)果好了很多，但卻沒(méi)有完全解決問(wèn)題。明顯這已經(jīng)不能真正解決問(wèn)題了，因?yàn)椴蓸訒r(shí)間已經(jīng)超出我能接受的范圍。同時(shí)還有一個(gè)疑惑，如果充電時(shí)間太短導(dǎo)致電壓未達(dá)到實(shí)際值，采樣結(jié)果應(yīng)該偏小才對(duì)，為啥會(huì)偏大呢？看來(lái)是有必要把ADC的相關(guān)問(wèn)題系統(tǒng)徹底的研究一下了。首先應(yīng)該深入了解下單片機(jī)內(nèi)ADC的基本原理，在網(wǎng)上找到了一篇文章https://blog.csdn.net/Zhuo3364/article/details/142112282，看完后才真正解開(kāi)了我的疑惑。問(wèn)題就出在輸入信號(hào)的處理上。由于我直接運(yùn)放跟隨后接入ADC，在低速采樣時(shí)有足夠時(shí)間來(lái)穩(wěn)定電壓，所以不會(huì)有問(wèn)題。但在高速時(shí)，采樣開(kāi)關(guān)開(kāi)啟的瞬間，放大器會(huì)產(chǎn)生尖峰。又由于采集時(shí)間很短，尖峰還未消除，采集開(kāi)關(guān)已經(jīng)關(guān)閉，因此實(shí)際采樣到的值會(huì)偏大。至此問(wèn)題算是真的找到了，下面將ADC采樣電路的設(shè)計(jì)要點(diǎn)總結(jié)一下。

二、ADC設(shè)計(jì)要點(diǎn)總結(jié)

1、基準(zhǔn)源的設(shè)計(jì)

首先基準(zhǔn)電壓肯定要穩(wěn)，而且應(yīng)該要有一定的驅(qū)動(dòng)能力。有一篇關(guān)于基準(zhǔn)的文章https://www.bilibili.com/read/cv35121342/值得仔細(xì)研讀。

2、輸入信號(hào)的設(shè)計(jì)

輸入信號(hào)為什么要處理

關(guān)于輸入信號(hào)，很多新手都會(huì)犯一個(gè)錯(cuò)誤，就是直接把電阻分壓的信號(hào)接入ADC采樣，如下圖示意。為什么說(shuō)這是個(gè)錯(cuò)誤呢，經(jīng)歷過(guò)的人就知道這樣采樣得到的值也會(huì)有偏差，嚴(yán)重時(shí)跟設(shè)計(jì)完全不符。

這個(gè)問(wèn)題在于，ADC本身有一定的輸入阻抗，但阻抗并不高，有些甚至只有幾kΩ。這樣直接接入信號(hào)，ADC的輸入阻抗就會(huì)起到分壓的作用。如下圖，ADC的輸入阻抗Rz和R2并聯(lián)后再和R1分壓，因此實(shí)際分壓比就和設(shè)計(jì)的完全不同了，采樣到的值自然會(huì)和設(shè)計(jì)值差別很大。所以輸入信號(hào)應(yīng)該要做適當(dāng)?shù)奶幚怼?/p>

常規(guī)的處理，就是輸入信號(hào)加個(gè)跟隨器，因?yàn)榉糯笃鞯妮斎胱杩箍梢哉J(rèn)為是無(wú)窮大的，所以不存在上述分壓的問(wèn)題。這基本上可以滿足絕大部分低速采樣的需求，但對(duì)于高速采樣，只跟隨不濾波也會(huì)有問(wèn)題，這也是本次踩坑的點(diǎn)所在。

找了一個(gè)專(zhuān)用的ADC手測(cè)仔細(xì)研究了下，里面重點(diǎn)就強(qiáng)調(diào)了輸入信號(hào)抗混疊的處理。其實(shí)就是對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行低通濾波。

下面這張圖片也很好的顯示了輸入信號(hào)加RC濾波和不加的區(qū)別，這也是為什么我這次踩坑的原因。從不加RC的曲線可以看到，采樣瞬間放大器輸出信號(hào)產(chǎn)生了一個(gè)尖峰，如果采樣周期很短，尖峰還未消除，就完成了采樣，那么采樣到的值肯定偏大。而加了RC的曲線則是平穩(wěn)上升到實(shí)際的值。

三、反思 很多時(shí)候我們以為自己懂了，其實(shí)沒(méi)懂，只是湊巧沒(méi)出問(wèn)題而已。知其然后還是應(yīng)該要知其所以然，面對(duì)問(wèn)題方能處變不驚，游刃有余。