chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

從原理到檢測(cè)設(shè)備:全方位解讀球柵陣列(BGA)測(cè)試流程

科準(zhǔn)測(cè)控 ? 來(lái)源:科準(zhǔn)測(cè)控 ? 作者:科準(zhǔn)測(cè)控 ? 2025-01-09 10:39 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

近期,小編接到一些來(lái)自半導(dǎo)體行業(yè)的客戶咨詢,他們希望了解如何進(jìn)行球柵陣列(BGA)測(cè)試,包括應(yīng)該使用哪些設(shè)備和具體的操作方法。

球柵陣列(BGA)作為電子封裝技術(shù)的一種,具有高密度、高可靠性和優(yōu)良的電性能等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片、微電子器件等領(lǐng)域.然而,在BGA的生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中,可能會(huì)出現(xiàn)各種質(zhì)量問(wèn)題,如焊球共面性不良、焊球拉脫力不足等,這些問(wèn)題會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品的性能和可靠性。

因此,對(duì)BGA進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試和質(zhì)量控制至關(guān)重要。本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹球柵陣列(BGA)的測(cè)試方法,以確保其質(zhì)量和可靠性。

一、測(cè)試原理

球柵陣列(BGA)測(cè)試原理主要涉及對(duì)BGA封裝芯片的焊球共面性和焊球拉脫力進(jìn)行綜合評(píng)估。焊球共面性測(cè)試通過(guò)測(cè)量焊球頂點(diǎn)與基準(zhǔn)平面之間的距離差值,確保焊球與基板接觸良好,避免焊接缺陷;而焊球拉脫力測(cè)試則通過(guò)施加垂直于器件表面的拉力,測(cè)量焊球與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度,以評(píng)估焊接質(zhì)量和可靠性。通過(guò)這兩種測(cè)試方法,可以全面檢測(cè)BGA封裝芯片的質(zhì)量,確保其在電子設(shè)備中的穩(wěn)定性和可靠性,并根據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行工藝優(yōu)化、材料控制和設(shè)備維護(hù)等質(zhì)量控制措施,提高產(chǎn)品的性能和可靠性。

二、檢測(cè)內(nèi)容

1、焊球共面性測(cè)試

1) 測(cè)試目的

焊球共面性測(cè)試的目的是測(cè)定BGA焊球的共面度,即焊球頂點(diǎn)與基準(zhǔn)平面之間的距離差值.共面度是衡量BGA焊接質(zhì)量和可靠性的重要指標(biāo)之一,共面度不良會(huì)導(dǎo)致焊接時(shí)焊球與基板接觸不良,進(jìn)而引發(fā)焊接缺陷,如虛焊、短路等,影響電子器件的性能和可靠性.

2)檢測(cè)設(shè)備

a、Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)
image.png

Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)是用于為微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測(cè)試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測(cè)試及其失效分析領(lǐng)域的專用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器,常見(jiàn)的測(cè)試有晶片推力、金球推力、金線拉力等,采用高速力值采集系統(tǒng)。根據(jù)測(cè)試需要更換相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模組,系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別模組量程。可以靈活得應(yīng)用到不同產(chǎn)品的測(cè)試,每個(gè)工位獨(dú)立設(shè)置安全高度位及安全限速,防止誤操作對(duì)測(cè)試針頭造成損壞。且具有測(cè)試動(dòng)作迅速、準(zhǔn)確、適用面廣的特點(diǎn)。適用于半導(dǎo)體IC封裝測(cè)試LED 封裝測(cè)試、光電子器件封裝測(cè)試、PCBA電子組裝測(cè)試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類院校教學(xué)和研究。

b、設(shè)備特點(diǎn)
image.png

采用Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行焊球共面性測(cè)試.Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)是一種高精度的動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器,能夠準(zhǔn)確測(cè)量焊球共面度,設(shè)備測(cè)量準(zhǔn)確度應(yīng)在規(guī)定偏差的±10%以內(nèi),能夠滿足BGA焊球共面性測(cè)試的精度要求.

C、測(cè)試方法

樣品準(zhǔn)備:將待測(cè)BGA器件小心放置在測(cè)試平臺(tái)上,確保焊球朝上,避免對(duì)焊球造成損傷.

基準(zhǔn)平面建立:選擇三個(gè)具有到植球面最大垂直距離的焊球頂點(diǎn),這三個(gè)點(diǎn)形成基準(zhǔn)平面.由焊球形成的三角形基準(zhǔn)平面應(yīng)包括器件重心,如果構(gòu)建的基準(zhǔn)平面不包括器件重心,則使用下一個(gè)和植球面具有最大垂直距離的焊球來(lái)構(gòu)建有效的基準(zhǔn)平面 .

測(cè)量共面度:使用Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)的測(cè)量工具,測(cè)量每個(gè)焊球頂點(diǎn)和基準(zhǔn)平面之間的距離,記錄最大測(cè)量差值,即為共面度。

2、焊球拉脫力測(cè)試

1) 測(cè)試目的

焊球拉脫力測(cè)試的目的是測(cè)量BGA焊球的抗拉脫能力,即焊球在受到垂直于器件表面的拉力作用下,焊球與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度.焊球拉脫力是評(píng)估BGA焊接質(zhì)量和可靠性的重要指標(biāo)之一,拉脫力不足會(huì)導(dǎo)致焊球在受到外力作用時(shí)脫落,影響電子器件的正常工作 .

2)測(cè)試設(shè)備

同樣采用Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行焊球拉脫力測(cè)試.Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)配備有校準(zhǔn)的負(fù)載單元和傳感器,能夠提供并記錄施加于焊球的拉力,并對(duì)負(fù)載提供規(guī)定的移動(dòng)速率,滿足焊球拉脫力測(cè)試的需求.

3)測(cè)試方法

a、樣品制備:在測(cè)試前,應(yīng)對(duì)焊球進(jìn)行目檢,以保證它們的形狀完好,無(wú)焊劑殘留或污染物.如果在不去除鄰近焊球的情況下,拉力爪不能夾住焊球,這時(shí)應(yīng)使用工具,如鋒利的刀片,去除臨近的焊球。

b、安裝拉力爪:根據(jù)受試焊球的尺寸選擇合適的拉力爪,并設(shè)置相應(yīng)的拉力爪的鎖定壓力.合適的拉力爪是指使焊球產(chǎn)生形變的程度小。

c、施加拉力:選擇并安裝和焊球直徑相匹配的拉力爪,并在Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)上夾住受試樣品,以使焊球可以在垂直于樣品表面的方向上被拉起.啟動(dòng)測(cè)試機(jī),逐漸增加拉力,直至引線斷裂或焊點(diǎn)脫落,記錄此時(shí)的最大拉力值。

d、記錄與分析:記錄失效數(shù)據(jù),包括失效時(shí)的最大拉力值和失效的分離模式.根據(jù)記錄的拉力值和失效模式,對(duì)比相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求,判斷焊球拉脫力是否滿足規(guī)范。

3、測(cè)試結(jié)果分析與質(zhì)量控制

1)數(shù)據(jù)分析

完成測(cè)試后,整理并分析所有樣品的測(cè)試數(shù)據(jù),進(jìn)行綜合評(píng)估.對(duì)于焊球共面性測(cè)試,分析共面度數(shù)據(jù)的分布情況,找出共面度不良的樣品,并分析其可能的原因,如焊接工藝參數(shù)不當(dāng)、焊球質(zhì)量不穩(wěn)定等.對(duì)于焊球拉脫力測(cè)試,分析拉脫力數(shù)據(jù)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差,建立有代表性的基于平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差的失效判據(jù)。

2)質(zhì)量控制措施

工藝優(yōu)化:根據(jù)測(cè)試結(jié)果,對(duì)焊接工藝參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,如調(diào)整焊接溫度、時(shí)間、壓力等,以提高焊球共面性和拉脫力.對(duì)于共面性不良的樣品,可以調(diào)整焊接設(shè)備的精度和穩(wěn)定性,確保焊球的均勻性和一致性。

材料控制:加強(qiáng)對(duì)焊球材料的質(zhì)量控制,確保焊球的成分、尺寸和形狀符合要求.對(duì)于拉脫力不足的樣品,可以更換焊球材料或改進(jìn)焊球的表面處理工藝,以提高焊球與基板之間的結(jié)合強(qiáng)度。

設(shè)備維護(hù):定期對(duì)Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行維護(hù)和校準(zhǔn),確保設(shè)備的精度和穩(wěn)定性,避免因設(shè)備故障導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的偏差。

通過(guò)以上測(cè)試方法和質(zhì)量控制措施,可以有效地檢測(cè)和控制球柵陣列(BGA)的質(zhì)量,提高產(chǎn)品的可靠性和性能,滿足電子行業(yè)對(duì)高質(zhì)量電子器件的需求。

以上就是小編介紹的有關(guān)于球柵陣列(BGA)測(cè)試相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)?lái)幫助!如果您還想了解更多關(guān)于推拉力測(cè)試機(jī)怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書(shū),原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻,推拉力測(cè)試儀操作規(guī)范、使用方法和測(cè)試視頻,焊接強(qiáng)度測(cè)試儀使用方法和鍵合拉力測(cè)試儀等問(wèn)題,歡迎您關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言,【科準(zhǔn)測(cè)控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測(cè)試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問(wèn)題及解決方案。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • BGA
    BGA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    581

    瀏覽量

    50644
  • 檢測(cè)設(shè)備
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    719

    瀏覽量

    17747
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    BGA芯片陣列封裝植球技巧,助力電子完美連接

    紫宸激光焊錫應(yīng)用ApplicationofVilaserSoldering高效節(jié)能綠色環(huán)保行業(yè)領(lǐng)先BGA(BallGridArray,陣列封裝)芯片植
    的頭像 發(fā)表于 11-19 16:28 ?131次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>芯片<b class='flag-5'>陣列</b>封裝植球技巧,助力電子完美連接

    深入了解BGA芯片X-ray檢測(cè)設(shè)備的核心優(yōu)勢(shì)與應(yīng)用-智誠(chéng)精展

    隨著電子制造向更高密度、更復(fù)雜的封裝技術(shù)邁進(jìn),BGA(陣列)芯片的質(zhì)量控制變得尤為關(guān)鍵。傳統(tǒng)的檢測(cè)方法因其視覺(jué)限制,難以全面揭示芯片內(nèi)部
    的頭像 發(fā)表于 10-23 11:55 ?128次閱讀

    如何選擇最適合的BGA芯片X-ray檢測(cè)設(shè)備廠家

    BGA焊點(diǎn)開(kāi)裂、虛焊、連錫等問(wèn)題的重要工具。如何挑選合適的X-ray檢測(cè)設(shè)備廠家,關(guān)系到生產(chǎn)良率和質(zhì)量控制的可靠性。 一、明確檢測(cè)需求 在選擇廠家前,首先要清楚自身的
    的頭像 發(fā)表于 09-11 14:45 ?445次閱讀
    如何選擇最適合的<b class='flag-5'>BGA</b>芯片X-ray<b class='flag-5'>檢測(cè)</b><b class='flag-5'>設(shè)備</b>廠家

    理到應(yīng)用:全方位解讀晶振在電子系統(tǒng)中的奧秘

    晶振,即晶體振蕩器,是電子系統(tǒng)中不可或缺的關(guān)鍵元件。它通過(guò)利用晶體的壓電效應(yīng)產(chǎn)生穩(wěn)定的振蕩頻率,為電子設(shè)備提供精準(zhǔn)的時(shí)間基準(zhǔn)。理到應(yīng)用,晶振在電子系統(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色。 晶振的工作原理 1
    的頭像 發(fā)表于 06-30 10:29 ?522次閱讀

    一文詳解陣列封裝技術(shù)

    在集成電路封裝技術(shù)的演進(jìn)歷程中,陣列封裝(Ball Grid Array,BGA)憑借卓越性能與顯著優(yōu)勢(shì)脫穎而出,成為當(dāng)今高集成度芯片的主流封裝形式,廣泛應(yīng)用于各類高端IC產(chǎn)品。自
    的頭像 發(fā)表于 05-21 10:05 ?2186次閱讀
    一文詳解<b class='flag-5'>球</b><b class='flag-5'>柵</b><b class='flag-5'>陣列</b>封裝技術(shù)

    PCBA加工廠中X-RAY檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用與重要性

    ? ??在PCBA(印刷電路板組裝)的加工過(guò)程中,由于大量高精度電路板集成了眾多的BGA陣列)和IC(集成電路)芯片,這些封裝的核心部件的內(nèi)部焊接狀態(tài)往往難以直接
    的頭像 發(fā)表于 05-07 10:29 ?658次閱讀

    BGA封裝焊推力測(cè)試解析:評(píng)估焊點(diǎn)可靠性的原理與實(shí)操指南

    成為評(píng)估焊接質(zhì)量的重要手段。科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹BGA推力測(cè)試的原理、標(biāo)準(zhǔn)、儀器及測(cè)試流程,幫助工程師和研究人員掌握科學(xué)的
    的頭像 發(fā)表于 04-18 11:10 ?1391次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>封裝焊<b class='flag-5'>球</b>推力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>解析:評(píng)估焊點(diǎn)可靠性的原理與實(shí)操指南

    X-Ray檢測(cè)助力BGA焊接質(zhì)量全面評(píng)估

    BGA焊接質(zhì)量評(píng)估的挑戰(zhàn) BGA是一種高密度封裝技術(shù),其底部排列著眾多微小的焊,焊接后焊被封裝材料覆蓋,傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè)難以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部缺陷。這
    的頭像 發(fā)表于 04-12 16:35 ?640次閱讀

    捷多邦案例看X-Ray檢測(cè)BGA焊接評(píng)估中的作用

    在電子制造業(yè),BGA陣列)焊接的質(zhì)量直接影響著產(chǎn)品的性能和可靠性。為了確保BGA焊接的優(yōu)質(zhì),越來(lái)越多的企業(yè)開(kāi)始采用X-Ray
    的頭像 發(fā)表于 04-11 18:22 ?591次閱讀

    羅徹斯特電子針對(duì)BGA封裝的重新植解決方案

    BGA的更換及轉(zhuǎn)換, 以實(shí)現(xiàn)全生命周期解決方案的支持 當(dāng)BGA封裝的元器件含鉛轉(zhuǎn)變?yōu)榉蟁oHS標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品時(shí),或者當(dāng)已存儲(chǔ)了15年的BGA
    的頭像 發(fā)表于 03-04 08:57 ?1904次閱讀
    羅徹斯特電子針對(duì)<b class='flag-5'>BGA</b>封裝的重新植<b class='flag-5'>球</b>解決方案

    理到外觀,全方位解讀BNC插頭75Ω和50Ω的區(qū)分要點(diǎn)

    外觀上看,75Ω的BNC插頭中心針相對(duì)較細(xì)。這是因?yàn)橐曨l信號(hào)傳輸對(duì)電流承載能力要求較低,細(xì)的中心針足以滿足其傳輸需求。而50Ω的BNC插頭中心針稍粗,這是為了適
    的頭像 發(fā)表于 01-20 09:57 ?1716次閱讀
    <b class='flag-5'>從</b>原<b class='flag-5'>理到</b>外觀,<b class='flag-5'>全方位</b><b class='flag-5'>解讀</b>BNC插頭75Ω和50Ω的區(qū)分要點(diǎn)

    貼片材料焊推力測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)到檢測(cè)結(jié)果分析

    最近,有從事半導(dǎo)體行業(yè)的朋友,通過(guò)官網(wǎng)向小編咨詢,貼片材料焊推力測(cè)試要用哪種設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,電子設(shè)備的微型化和集成化
    的頭像 發(fā)表于 12-19 11:22 ?1150次閱讀
    貼片材料焊<b class='flag-5'>球</b>推力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>:<b class='flag-5'>從</b><b class='flag-5'>設(shè)備</b>校準(zhǔn)到<b class='flag-5'>檢測(cè)</b>結(jié)果分析

    BGA芯片焊接全攻略:準(zhǔn)備到實(shí)戰(zhàn)的詳盡指南

    BGA(Ball Grid Array,陣列)芯片焊接是電子維修和制造中一項(xiàng)重要的技術(shù),它要求精確的操作和高超的技巧。本文將詳細(xì)介紹BGA
    的頭像 發(fā)表于 12-16 15:59 ?5276次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>芯片焊接全攻略:<b class='flag-5'>從</b>準(zhǔn)備到實(shí)戰(zhàn)的詳盡指南

    BGA芯片底填膠如何去除?

    BGA芯片底填膠如何去除?BGA(BallGridArray,陣列)芯片底填膠的去除是一個(gè)相對(duì)復(fù)雜且需要精細(xì)操作的過(guò)程。以下是一些去除
    的頭像 發(fā)表于 12-13 14:04 ?1540次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>芯片底填膠如何去除?

    BGA芯片封裝:現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)不可或缺的技術(shù)瑰寶

    隨著電子技術(shù)的迅猛發(fā)展,集成電路(IC)的封裝技術(shù)也在不斷創(chuàng)新與進(jìn)步。在眾多封裝技術(shù)中,BGA(Ball Grid Array,陣列)封裝技術(shù)憑借其高密度、高性能和可靠性,成為現(xiàn)代
    的頭像 發(fā)表于 12-13 11:13 ?5127次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>芯片封裝:現(xiàn)代電子產(chǎn)業(yè)不可或缺的技術(shù)瑰寶