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MOS管電路及選型

張飛實(shí)戰(zhàn)電子官方 ? 2025-04-09 19:33 ? 次閱讀
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1.外圍電路

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1.1.柵極電阻

R51的柵極電阻可以控制MOS管的GS結(jié)電容的充放電速度。對(duì)于MOS管而言,開(kāi)通速度越快,開(kāi)通損耗越小。但是速度太快容易引起震蕩,震蕩波形(GS之間,這個(gè)震蕩與MOS管的米勒效應(yīng)有關(guān))如下左圖所示,而正常不震蕩的波形如下右圖所示。所以實(shí)際使用中希望開(kāi)通速度盡量快,但是又不能發(fā)生震蕩。此時(shí)需要根據(jù)實(shí)際調(diào)試的波形確定R51的阻值。


此外開(kāi)通太快引起容易產(chǎn)生EMC的問(wèn)題,此時(shí)因?yàn)閐u/dt很大,開(kāi)通快dt小,那么DS開(kāi)通過(guò)程中DS兩端的壓差在變小,如果Vbus的電壓高,那么電壓的變化du很大,所以du/dt很大。

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1.2.GS電容放電電阻

R54的電阻是給GS電容提供放電回路,這個(gè)電阻的取值一般在10-50K之間。在板子沒(méi)有上電的時(shí)候,有這個(gè)電阻GS之間就不會(huì)提供靜電荷,尤其在搬運(yùn)過(guò)程中,GS電容之間很容易積累電荷,或者靜電作用到MOS管的G極,此時(shí)給GS電容充電可能會(huì)導(dǎo)致MOS管誤導(dǎo)通。那么一旦上電后可能導(dǎo)致同一橋臂的MOS管同時(shí)導(dǎo)通造成短路。


1.3.C45電容

調(diào)整GS電容的充放電時(shí)間,因?yàn)楹虶S電容并聯(lián)

給米勒電容提供泄放回路,如下圖所示。MOS管的GD之間存在一個(gè)結(jié)電容稱為米勒電容,下管導(dǎo)通時(shí)Vbus會(huì)有一部分電流流過(guò)這個(gè)米勒電容。米勒電容和C45串聯(lián),可以間接減少米勒電容(電容越串越?。?,改善米勒效應(yīng)的影響。

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2.MOS選型

2.1.耐壓

一般選擇Vbus電壓的1.5-2倍。


2.2.額定電流

一般選擇負(fù)載額定電流的5-7倍,余量需要留大一些,因?yàn)橐紤]到電機(jī)堵轉(zhuǎn)、負(fù)載突變等情況。


PS:


1.可以兩個(gè)或者幾個(gè)MOS管并聯(lián)使用,在電動(dòng)車(chē)和汽車(chē)行業(yè)等大功率場(chǎng)合下可以這樣使用,此時(shí)多個(gè)MOS管并聯(lián)可能比一個(gè)大功率的MOS管要便宜。并聯(lián)使用時(shí),可以使用一個(gè)預(yù)驅(qū)動(dòng)芯片同時(shí)驅(qū)動(dòng)多個(gè)MOS管。此外MOS管并聯(lián)使用還需要考慮分流的問(wèn)題,有的時(shí)候MOS管的參數(shù)不一致,導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)間不一樣,所以并聯(lián)之后可能要讓開(kāi)關(guān)速度變慢。


2.MOS管耐壓不夠時(shí),理論上可以串聯(lián)使用,但是不建議這樣用。


2.3.封裝

MOS管的封裝實(shí)際就是考慮溫升問(wèn)題,因?yàn)镸OS是大功率發(fā)熱器件。經(jīng)驗(yàn)是在MOS管滿負(fù)荷工作時(shí),表面溫度不要超過(guò)120度。這個(gè)溫度就是個(gè)經(jīng)驗(yàn)值。


2.4.Rdson

MOS管一共有四類損耗,分別是打開(kāi)損耗、關(guān)斷損耗、導(dǎo)通損耗、續(xù)流損耗,前兩個(gè)損耗是開(kāi)關(guān)過(guò)程中的損耗,是MOS管經(jīng)過(guò)放大區(qū)產(chǎn)生的損耗;后兩種是開(kāi)關(guān)結(jié)束之后的正常工作損耗。對(duì)于Rdson,對(duì)應(yīng)導(dǎo)通損耗,這個(gè)阻值越大,相同電流的情況下導(dǎo)通損耗就越大,所以Rdson對(duì)導(dǎo)通損耗起到?jīng)Q定作用。因此Rdson越小越好,但是越小價(jià)格也越貴。


此外,溫度越高,Rdson越大;Vgs電壓越高,Rdson越小。并且當(dāng)GS電壓超過(guò)10V以上,Rdson減小就不明顯了,所以MOS管的驅(qū)動(dòng)電壓經(jīng)常選擇12V或者15V,注意是驅(qū)動(dòng)電壓,也就是GS之間的電壓。

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2.5.Vgs閾值電壓

一般Vgs的閾值電壓都是正負(fù)20V,如下圖所示,使用時(shí)不能超過(guò)這個(gè)閾值,否則可能導(dǎo)致MOS管損壞。


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MOS管的開(kāi)通閾值一般在2-4V之間,一般選擇12-15V的驅(qū)動(dòng)電壓,0V關(guān)斷。對(duì)于大功率或者要求較高的場(chǎng)合,也可以選擇負(fù)壓關(guān)斷,如下圖所示。大功率情況下關(guān)斷快可以減小關(guān)斷損耗,降低米勒效應(yīng)的影響。此外負(fù)壓關(guān)斷的關(guān)斷速度快,可以迅速越過(guò)放大區(qū),不易發(fā)生震蕩。

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2.6.快開(kāi)管和慢開(kāi)管

快管通常Qg小,Rdson大,慢管相反。這個(gè)涉及到半導(dǎo)體的工藝,一般為了降低Rdson,晶圓面積就要做大,結(jié)果寄生電容相應(yīng)變大,同理Qg也會(huì)變大。


Qg,Gate charge,門(mén)級(jí)電荷總和,一般管子的同流能力越強(qiáng),Qg越大,速度也越慢。一般耐壓高的MOS開(kāi)得快,大電流的MOS開(kāi)的慢。

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原文鏈接:

https://blog.csdn.net/qq_42731705/article/details/118736770

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