拓展面向下一代功率半導(dǎo)體的晶圓檢測(cè)系統(tǒng)業(yè)務(wù)
HORIBA集團(tuán)旗下負(fù)責(zé)半導(dǎo)體業(yè)務(wù)的韓國(guó)子公司HORIBA STEC KOREA, LTD.(韓國(guó)龍仁市),近日完成了對(duì)半導(dǎo)體市場(chǎng)晶圓檢測(cè)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)商、制造商及銷售商EtaMaxCo., Ltd.(韓國(guó)水原市,以下簡(jiǎn)稱"EtaMax")的收購(gòu)。股權(quán)轉(zhuǎn)讓已于2025年4月3日完成交割。
HORIBA集團(tuán)將通過(guò)將多年自主研發(fā)的光譜技術(shù)與EtaMax的軟件技術(shù)及其在化合物半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)相結(jié)合,擴(kuò)充晶圓檢測(cè)系統(tǒng)產(chǎn)品線并提升綜合解決方案能力。此舉將助力提升化合物半導(dǎo)體晶圓制造的良品率與質(zhì)量控制水平。
收購(gòu)背景
隨著全球電動(dòng)汽車(chē)和人工智能發(fā)展對(duì)數(shù)據(jù)中心需求的激增,被稱為"下一代功率半導(dǎo)體"的化合物半導(dǎo)體應(yīng)用正在加速普及。盡管這類半導(dǎo)體具備高性能與高耐久性優(yōu)勢(shì),但晶圓缺陷導(dǎo)致的制造良率損失仍是行業(yè)痛點(diǎn),市場(chǎng)對(duì)高精度、高效率檢測(cè)設(shè)備的需求日益迫切。
在集團(tuán)中長(zhǎng)期經(jīng)營(yíng)計(jì)劃MLMAP2028重點(diǎn)布局的"材料與半導(dǎo)體"領(lǐng)域,HORIBA集團(tuán)制定了到2028年實(shí)現(xiàn)2350億日元銷售額的目標(biāo)。為實(shí)現(xiàn)"以先進(jìn)材料和半導(dǎo)體領(lǐng)域的創(chuàng)新解決方案引領(lǐng)市場(chǎng),推動(dòng)可持續(xù)發(fā)展社會(huì)"的愿景,強(qiáng)化化合物半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)系統(tǒng)的研發(fā)能力,提供提升半導(dǎo)體制造全流程的綜合性分析解決方案至關(guān)重要。
業(yè)務(wù)特色與發(fā)展目標(biāo)
EtaMax主要開(kāi)發(fā)基于光致發(fā)光*1分析技術(shù)的晶圓檢測(cè)系統(tǒng),在化合物半導(dǎo)體晶圓均勻性評(píng)估、微觀缺陷類型判定等多元化應(yīng)用場(chǎng)景中具有顯著優(yōu)勢(shì)。
本次收購(gòu)將充分發(fā)揮HORIBA集團(tuán)的全球網(wǎng)絡(luò)優(yōu)勢(shì)推動(dòng)業(yè)務(wù)擴(kuò)展。通過(guò)將EtaMax的軟件技術(shù)與集團(tuán)核心的拉曼光譜*2、橢圓偏振光譜*3等分析技術(shù)深度融合,加速新產(chǎn)品研發(fā)并提升系統(tǒng)解決方案能力,從而為化合物半導(dǎo)體晶圓量產(chǎn)過(guò)程中的良率提升和品質(zhì)管理提供有力支持。
HORIBA集團(tuán)將持續(xù)創(chuàng)新,致力于滿足半導(dǎo)體制造流程中客戶多樣化的分析與檢測(cè)需求。
EtaMax公司概況
公司名稱 | EtaMax |
成立時(shí)間 | 2008年 |
所在地 | 韓國(guó)京畿道水原市勸善區(qū)產(chǎn)業(yè)路155番街280-17 (郵編16648) |
法定代表人 | 代表理事JungHyundon(???) |
員工人數(shù) | 40名(截至2024年12月31日) |
主營(yíng)業(yè)務(wù) | 晶圓檢測(cè)系統(tǒng)的研發(fā)、制造與銷售 |
HORIBA STEC KOREA公司概況
公司名稱 | HORIBA STEC KOREA, Ltd. |
成立時(shí)間 | 1994年 |
所在地 | 韓國(guó)京畿道龍仁市器興區(qū)數(shù)碼谷路98 (郵編16878) |
法定代表人 | CEO/President TeruhiroTamura |
員工人數(shù) | 112名(截至2024年12月31日) |
主營(yíng)業(yè)務(wù) | 氣體/液體流量控制系統(tǒng)的生產(chǎn)、銷售及售后服務(wù) |
*1光致發(fā)光光譜技術(shù):通過(guò)特定波長(zhǎng)光照射樣品,測(cè)量其釋放的熒光,獲取缺陷及雜質(zhì)等信息的檢測(cè)方法
*2拉曼光譜技術(shù):通過(guò)分析樣本受光照射后產(chǎn)生的拉曼散射光,評(píng)估分子結(jié)構(gòu)與特性的分析手段
*3橢圓偏振光譜技術(shù):通過(guò)測(cè)量入射光與反射光的偏振態(tài)變化,測(cè)定樣品厚度與光學(xué)常數(shù)等的分析方法
-
半導(dǎo)體
+關(guān)注
關(guān)注
336文章
29564瀏覽量
251967 -
晶圓
+關(guān)注
關(guān)注
53文章
5294瀏覽量
131133 -
檢測(cè)系統(tǒng)
+關(guān)注
關(guān)注
3文章
986瀏覽量
44933
原文標(biāo)題:HORIBA收購(gòu)韓國(guó)EtaMax
文章出處:【微信號(hào):gh_7a13ca88cc4f,微信公眾號(hào):HORIBA半導(dǎo)體事業(yè)部】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——晶圓測(cè)溫系統(tǒng)和晶圓校準(zhǔn)測(cè)量產(chǎn)品適配場(chǎng)景廣,覆蓋全工藝鏈 #晶圓測(cè)溫 #晶圓檢測(cè)

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——晶圓校準(zhǔn)片提升效率的“隱形冠軍” #晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)溫

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——AVLS無(wú)線校準(zhǔn)測(cè)量晶圓系統(tǒng)發(fā)現(xiàn)制造設(shè)備微小振動(dòng)和水平偏差 #晶圓制造過(guò)程 #晶圓檢測(cè) #晶圓

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——定制新品絕緣 TC Wafer 晶圓測(cè)溫系統(tǒng)#晶圓制造過(guò)程 #晶圓測(cè)溫 #晶圓檢測(cè)

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——4寸5點(diǎn)TCWafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)#晶圓測(cè)溫 #晶圓測(cè)試 #晶圓檢測(cè) #晶圓制造過(guò)程

Wafer Shaped Auto Teaching Sensor晶圓型中心校準(zhǔn)片#晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)溫
半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)與直線電機(jī)的關(guān)系


瑞樂(lè)半導(dǎo)體——高真空CF饋通TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng) #晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)溫 #晶圓制造過(guò)程

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——專業(yè)品質(zhì)值得信賴#晶圓測(cè)溫 #晶圓制造過(guò)程 #半導(dǎo)體? #晶圓檢測(cè)
wafer晶圓厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數(shù)據(jù)測(cè)量的設(shè)備
晶圓隱裂檢測(cè)提高半導(dǎo)體行業(yè)效率


瑞樂(lè)半導(dǎo)體——12寸TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)#晶圓測(cè)溫 #晶圓檢測(cè) #晶圓測(cè)試 #晶圓制造

WD4000晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng):半導(dǎo)體晶圓復(fù)雜結(jié)構(gòu)的量測(cè) #半導(dǎo)體設(shè)備 #晶圓檢測(cè)

瑞樂(lè)半導(dǎo)體——On Wafer無(wú)線測(cè)溫系統(tǒng)在刻蝕設(shè)備測(cè)溫突破140度 #晶圓測(cè)溫 #晶圓測(cè)試 #晶圓檢測(cè)
晶圓表面污染及其檢測(cè)方法

評(píng)論