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德明利兼容性實(shí)驗(yàn)室:構(gòu)建面向多平臺(tái)生態(tài)的全棧驗(yàn)證體系

德明利 ? 2025-06-04 10:02 ? 次閱讀
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存儲(chǔ)設(shè)備的兼容情況影響終端系統(tǒng)的運(yùn)行效率與穩(wěn)定性,德明利兼容性實(shí)驗(yàn)室通過(guò)構(gòu)建多維度驗(yàn)證體系,為四大產(chǎn)品線提供系統(tǒng)兼容性、互操作性、能效和性能優(yōu)化的關(guān)鍵測(cè)試。

一、多元生態(tài)下的適配性難題

隨著AIoT技術(shù)普及,存儲(chǔ)設(shè)備需適配的操作系統(tǒng)、硬件架構(gòu)及終端場(chǎng)景呈多樣化。

  • 生態(tài)復(fù)雜:不同品牌、型號(hào)及處理器,測(cè)試方法難以覆蓋隱性兼容性問(wèn)題。
  • 接口多樣性:需支持多接口協(xié)議適配,確保不同硬件平臺(tái)的即插即用能力。
  • 效率滯后:人工測(cè)試覆蓋率低,用例設(shè)計(jì)耗時(shí)長(zhǎng)、故障定位周期長(zhǎng)。

二、構(gòu)建全棧驗(yàn)證與智能化測(cè)試體系

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全場(chǎng)景硬件/軟件適配能力

實(shí)驗(yàn)室配備全系軟硬件測(cè)試平臺(tái),覆蓋服務(wù)器、PC、移動(dòng)終端等全品類(lèi)硬件,搭建主流操作系統(tǒng)(Windows/Linux/Android/iOS)與異構(gòu)架構(gòu)(x86/ARM)的仿真環(huán)境,支持同時(shí)運(yùn)行超1000種配置測(cè)試用例,大幅提升兼容性問(wèn)題識(shí)別率,縮短故障日志定位響應(yīng)時(shí)間。

多維度兼容性驗(yàn)證體系

  1. 關(guān)鍵性能優(yōu)化測(cè)試:通過(guò)頻繁重啟、隨機(jī)壓力測(cè)試及異常斷電測(cè)試等,確保高負(fù)載、極端環(huán)境下數(shù)據(jù)完整性和功能穩(wěn)定性。
  2. 兼容性平臺(tái):目前擁有主流嵌入式處理器、信創(chuàng)全棧生態(tài),及全平臺(tái)操作系統(tǒng)與硬件架構(gòu),確保使用的組件和平臺(tái)經(jīng)過(guò)嚴(yán)格篩選

智能化測(cè)試工具

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  1. 自研可擴(kuò)展架構(gòu)的智能化測(cè)試平臺(tái):實(shí)驗(yàn)室集成先進(jìn)的自動(dòng)化腳本和智能分析工具,通過(guò)2000余項(xiàng)的SSD自動(dòng)化測(cè)試用例、高效的內(nèi)存自動(dòng)化腳本及創(chuàng)新的卡盤(pán)監(jiān)控自動(dòng)化方案等,提升存儲(chǔ)產(chǎn)品的性能驗(yàn)證、兼容性測(cè)試效率及大規(guī)模設(shè)備管理能力。
  2. 實(shí)現(xiàn)資源動(dòng)態(tài)“按需分配”:支持從測(cè)試用例自動(dòng)生成測(cè)試數(shù)據(jù)到報(bào)告一鍵輸出的全流程自動(dòng)化操作。

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德明利兼容性實(shí)驗(yàn)室構(gòu)建超千項(xiàng)測(cè)試用例體系,能有效支撐全場(chǎng)景適配性驗(yàn)證能力,目前技術(shù)方案已落地多家行業(yè)客戶,不斷融合新興硬件與操作系統(tǒng)的覆蓋范圍,為客戶提供更流暢、更穩(wěn)定的產(chǎn)品體驗(yàn)。

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