隨著電動(dòng)汽車技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)高壓電路系統(tǒng)及元器件的測(cè)試要求也日益嚴(yán)格。高壓零部件是電動(dòng)汽車動(dòng)力系統(tǒng)的重要組成部分,依據(jù)ISO 21498-2標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)設(shè)計(jì)的先進(jìn)測(cè)試設(shè)備,為高壓電性能部件的測(cè)試提供了全面解決方案。凌世自主研發(fā)的高壓電性能測(cè)試系統(tǒng),依據(jù)ISO 21498-2開發(fā)設(shè)計(jì),應(yīng)用于電動(dòng)汽車B類電路系統(tǒng)及元器件測(cè)試,同時(shí)擴(kuò)展兼容LV 123及VW 80300等車廠標(biāo)準(zhǔn)高壓電性能部件的試驗(yàn)要求。
ISO 21498-2 2024版與2021版區(qū)別
2024版增加了電源短路測(cè)試
2024版在紋波疊加測(cè)試時(shí)增加了電流限制值,更明確了紋波電流監(jiān)控要求
2024版取消了電池的高低溫阻抗,只明確了50mΩ阻抗要求
2024版在紋波騷擾測(cè)試時(shí)增加了5V最高等級(jí),在紋波抗擾度時(shí)增加了6V最低等級(jí)
2024版中,人工電源網(wǎng)絡(luò)的電容變成可選項(xiàng)
2024版中,對(duì)于產(chǎn)生的紋波測(cè)試,增加了EMI接收機(jī)測(cè)試方法
ISO 21498-2 電氣性能測(cè)試
| 章節(jié) | 測(cè)試項(xiàng)目描述 | 測(cè)試類型 | 需要用到設(shè)備 |
| 6.2 | 運(yùn)行電壓范圍內(nèi)直流供電變化 | 性能測(cè)試 | 可編程高壓電源 |
| 6.3 | 產(chǎn)生的電壓斜率 | 騷擾測(cè)試 | 可編程高壓電源,人工網(wǎng)絡(luò)及其它附件 |
| 6.4 | 電壓斜率抗擾度 | 性能測(cè)試 | 可編程高壓電源 |
| 6.5 | 產(chǎn)生的電壓紋波 | 騷擾測(cè)試 | 可編程高壓電源,人工網(wǎng)絡(luò),及其它附件 |
| 6.6 | 電壓紋波抗擾度 | 性能測(cè)試 | 可編程高壓電源,紋波疊加發(fā)生器 |
| 6.7 | 過電壓 | 性能測(cè)試 | 可編程高壓電源 |
| 6.8 | 欠電壓 | 性能測(cè)試 | 可編程高壓電源 |
| 6.9 | 電壓偏移 | 性能測(cè)試 | 可編程高壓電源 |
| 6.10 | 產(chǎn)生的拋負(fù)載電壓 | 騷擾測(cè)試 | ----- |
| 6.11 | 拋負(fù)載電壓抗擾度 | 性能測(cè)試 | 可編程高壓電源 |
6.2 運(yùn)行電壓范圍內(nèi)直流供電變化
測(cè)試目的:考察元器件在運(yùn)行能力范圍內(nèi)電壓改變過程中的性能,模擬實(shí)際電池運(yùn)行狀態(tài)。


凌世設(shè)備連接示意圖
6.3 產(chǎn)生的電壓斜率
測(cè)試目的:評(píng)估產(chǎn)生的電壓斜率,證實(shí)其在規(guī)定的最大速率。


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6.4 電壓斜率抗擾度
測(cè)試目的:模擬電源輸入時(shí)元器件的電壓斜率變化,并驗(yàn)證其承受能力。


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6.5 產(chǎn)生的電壓紋波
測(cè)試目的:該測(cè)試提供了標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)配置和試驗(yàn)方法使電壓等級(jí)B下元器件產(chǎn)生的電壓紋波具有可比性,關(guān)注10Hz~150kHz頻段范圍內(nèi)的電壓紋波。


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6.6 電壓紋波抗擾度
測(cè)試目的:驗(yàn)證在電壓等級(jí)B下疊加10Hz~150kHz紋波時(shí)元器件的穩(wěn)定運(yùn)行。


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6.7 過電壓
測(cè)試目的:評(píng)估元器件在直流電壓超過上限運(yùn)行電壓時(shí)的承受能力,驗(yàn)證元器件在過壓范圍內(nèi)是否具備自我保護(hù)及承受能力。

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6.8 欠電壓
測(cè)試目的:評(píng)估元器件在直流電壓下降至低于下限運(yùn)行電壓時(shí)的承受能力,驗(yàn)證被試元器件在欠壓情況下是否能夠正常運(yùn)行。


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6.9 電壓偏移
測(cè)試目的:用于評(píng)估當(dāng)高壓零部件與接地參之間的絕緣電阻降低時(shí)候,高壓零部件受試件的接地參考耐用性。此測(cè)試考慮到了最糟糕情況,即兩條電源線中其中一條與底盤搭接在一起。


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6.10 產(chǎn)生的拋負(fù)載電壓
測(cè)試目的:驗(yàn)證電壓等級(jí)B下的元器件是否有能力在拋負(fù)載情況發(fā)生時(shí)限制過電壓。由于在拋負(fù)載過程中產(chǎn)生的電壓變化率可能會(huì)影響連接到B級(jí)高壓系統(tǒng)的其他部件,電壓變化率是本測(cè)試的重要的要素,需要記錄下來。


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6.11 拋負(fù)載電壓抗擾度
測(cè)試目的:驗(yàn)證電壓等級(jí)B下的元器件是否有能力承受由于拋負(fù)載帶來的過電壓和電壓快速上升


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