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電磁兼容EMI輻射發(fā)射與抗擾度測量的小方盒--TEM小室

深圳市華瑞高電子技術有限公司 ? 2025-06-13 09:34 ? 次閱讀
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電子產品的輻射干擾無一例外地要在昂貴的屏蔽室或者暗室中測試,但是當你把一個只有手指大小的汽車電子部件放在龐大的屏蔽室內用巨大的天線對準部件進行測試的時候,你是否會突然覺得場面有點滑稽呢?你是否會突發(fā)奇思妙想:我可以把這些部件放在一個小方盒里,盒內帶上天線,不就是在縮小版的屏蔽室或者暗室內測試了嗎?

唉!恭喜你,深圳市華瑞高電子有限公司幫您實現(xiàn)了!這個“縮小版的屏蔽室或者暗室”的小方盒就是TEM小室。產品輻射干擾用TEM小室測試的結果,在9KHz-2500MHz內直接被標準GB/T18655-2018認可(GB/T18655-2018 6.6 零部件/模塊的輻射發(fā)射--TEM小室法),無需大暗室測試驗證;高于該頻率的輻射干擾測試,可以參考標準規(guī)定的方法換算到大暗室測試結果。如果僅用于產品的EMC整改,TEM小室的測試結果足以準確反映EUT整改前后的EMI變化幅度。

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深圳市華瑞高電子技術有限公司出品的HTM-3A和HTM-8A小方盒--TEM小室,將工作頻率范圍擴展到現(xiàn)有設備之外,同時允許對集成電路進行高達3GHz和8GHz頻率的輻射發(fā)射與抗擾度測試。將半導體芯片安裝在固定到位的測試夾具板上,安裝好后,可以根據(jù)GB/T42968.2、IEC61967-2和IEC61967-8、SAE1752-3和IEC62132-8進行3GHz和8GHz的測量。

同時我們的HTM-3A和HTM-8A小方盒--TEM小室配置為可容納IEC61967-2中規(guī)定的標準100mm*100mm的測試夾具板,HTM-3A小方盒--TEM小室可以完美的替代美國FCC的FCC-TEM-JM7D,HTM-8A小方盒--TEM小室可以完美的替代美國FCC的FCC-TEM-JM7C。

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深圳市華瑞高電子技術有限公司最新推出的EMI輻射測量小方盒-TEM小室可以用來測量來自被測件EUT或集成電路PCB的輻射敏感度和傳導抗擾度的試驗,其頻率最高可以達到8GHz。其駐波比可以到達1.2,傳輸衰減比小于0.3dB。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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