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技術(shù) | ADC/DAC芯片測(cè)試研討會(huì)筆記請(qǐng)查收!

德思特測(cè)試測(cè)量 ? 2025-06-24 14:39 ? 次閱讀
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?6月19日,《ADC/DAC芯片測(cè)試前沿:德思特ATX系統(tǒng)高效方案與實(shí)戰(zhàn)攻略》線上研討會(huì)圓滿結(jié)束。感謝大家的觀看與支持!

在直播間收到一些觀眾的技術(shù)問(wèn)題,我們匯總了熱點(diǎn)問(wèn)題并請(qǐng)講師詳細(xì)解答,在此整理分享給大家,請(qǐng)查收!

基本知識(shí)儲(chǔ)備:ADC/DAC芯片測(cè)什么?

Q:你們可以做哪些類型的ADC芯片測(cè)試?你們可以測(cè)的ADC分辨率位數(shù)多高?

主要支持三類主流ADC芯片:Pipeline型、逐次逼近型(SAR型)和Sigma-Delta型。測(cè)試覆蓋范圍以8-18位分辨率的芯片為主,對(duì)22位左右的芯片也能進(jìn)行靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試。24位芯片需滿足AWG信號(hào)源性能限制(如信號(hào)精度、噪聲水平等),但實(shí)際測(cè)試仍以8-18位芯片為主流。

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Q:可以測(cè)多高速率的ADC?

測(cè)試速率取決于數(shù)字I/O模塊(DIO)的工作模式。DIO支持高速模式和低速模式,其中高速模式下可測(cè)試更新速率達(dá)200MHz的芯片。

德思特方案解讀:all in one的ATX測(cè)試系統(tǒng)如何提高測(cè)試效率?

Q:是否支持測(cè)試多量程段可選的ADC?

支持。量程切換需通過(guò)DIO模塊控制芯片的特定引腳發(fā)送指令(如SPI命令)。若不同量程需改變硬件連接(如輸入路徑),測(cè)試板需設(shè)計(jì)繼電器電路,由DIO模塊控制繼電器完成量程切換。

Q:針對(duì)ADC的測(cè)試速度大概是每顆多久?

完整測(cè)試流程約10-15秒(不含芯片安裝和連接時(shí)間)。具體時(shí)間取決于測(cè)試循環(huán)次數(shù)和采樣點(diǎn)數(shù),例如高精度測(cè)試需多次采樣平均結(jié)果。

Q:建議多久執(zhí)行一次校正?

自校準(zhǔn):通過(guò)軟件(ATView 7006)執(zhí)行,推薦每3個(gè)月或環(huán)境溫濕度劇變時(shí)進(jìn)行,操作前需預(yù)熱設(shè)備1小時(shí)以上。

返廠校準(zhǔn):需聯(lián)系廠商,每年1次以保證測(cè)量精度。若自校準(zhǔn)結(jié)果異?;驕y(cè)試數(shù)據(jù)明顯偏移,也建議返廠校準(zhǔn)。

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Q:是否可以將各模塊定制為PXI平臺(tái)版本?

不可行。原因有二:(1)PXI標(biāo)準(zhǔn)電源的紋波及干擾可能降低模塊精度(本系統(tǒng)背板為低噪聲定制設(shè)計(jì));(2)模塊間高速觸發(fā)依賴專用背板的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)互聯(lián),PXI總線無(wú)法滿足實(shí)時(shí)性需求。

Q:DIO模塊中的FPGA有何作用?是否參與數(shù)據(jù)采集?

FPGA核心功能是生成時(shí)序和時(shí)鐘信號(hào),不參與實(shí)際數(shù)據(jù)采集。例如低速FPGA(如Xilinx Artix-7)用于存儲(chǔ)時(shí)序,高速FPGA(如Kintex-7)用于時(shí)鐘管理;數(shù)據(jù)采集由DIO模塊的專用電路(如比較器、緩存)完成。

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德思特ATX測(cè)試系統(tǒng)實(shí)操演示

Q:測(cè)試系統(tǒng)與測(cè)試板之間的連接線纜,是采用哪種形式 / 哪種標(biāo)準(zhǔn) / 哪種接口?

(1)數(shù)字I/O連接:采用68針卡扣式D型線纜(可靠防脫落);

(2)時(shí)鐘/觸發(fā)信號(hào):使用SMB接口(標(biāo)準(zhǔn)同軸連接器);

(3)電源/參考電壓/AWG輸出:采用4PIN LEMO接口(支持0B/1B系列線纜,可選直角或彎角);

(4)高速差分信號(hào)(如AWG 2180):每個(gè)通道獨(dú)立使用SMA接口。

Q:1/2LSB correction選項(xiàng)有什么用

該功能用于適配不同理論轉(zhuǎn)換曲線的ADC芯片:

啟用條件:若ADC的零點(diǎn)偏移(Offset)位于轉(zhuǎn)換階梯中點(diǎn)(非理想居中位置),需勾選以校正Offset誤差;

禁用條件:若零點(diǎn)偏移恰好在Code范圍正中央(理想狀態(tài)),則無(wú)需啟用。

Q:ATView 軟件是否支持二次開(kāi)發(fā)?

支持通過(guò)腳本實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制。軟件雖未內(nèi)置遠(yuǎn)程控制接口,但所有操作(如參數(shù)配置、測(cè)試執(zhí)行)均可通過(guò)腳本編程調(diào)用,滿足定制化測(cè)試流程需求。

Q:由AWG22轉(zhuǎn)為AWG20觀察測(cè)試結(jié)果是否有差異,怎樣的差異

AWG22在動(dòng)態(tài)參數(shù)(如THD、SFDR)上性能優(yōu)于AWG20約3-5dB,因其信號(hào)純度更高,更適合高精度動(dòng)態(tài)測(cè)試。

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