在日常生活跟生產(chǎn)中，金屬表面突然出現(xiàn)棕紅色銹斑；塑料外殼析出白色粉末；PCB板面殘留難以擦除的暗色油漬；透明液體中漂浮著細(xì)小絮狀物……這些“異物”形態(tài)各異、來源復(fù)雜，既可能源于原材料的不純，也可能來自工藝副產(chǎn)物、環(huán)境污染或儲存過程中的交叉污染。

若不能快速、準(zhǔn)確地識別其化學(xué)本質(zhì)，就難以鎖定污染源，更談不上對癥下藥。

由于異物性質(zhì)復(fù)雜，目前行業(yè)尚未形成統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，檢測手段的選擇需依據(jù)異物特性與分析目的精準(zhǔn)確定。

1.肉眼、顯微鏡觀察

肉眼與顯微鏡觀察是異物分析的基礎(chǔ)步驟。肉眼可初步判斷異物的宏觀形貌與顏色特征，為后續(xù)分析提供方向。

顯微鏡觀察則能進(jìn)一步放大細(xì)節(jié)，清晰呈現(xiàn)異物微觀結(jié)構(gòu)，有助于判斷異物的形態(tài)、尺寸、分布及與基體的相互作用關(guān)系。

例如，觀察異物是否具有晶體結(jié)構(gòu)、表面是否存在劃痕或裂紋等特征，這些信息對于縮小異物成分范圍具有重要意義。

2. 有機(jī)物分析：FTIR測試

實(shí)驗(yàn)室擁有專業(yè)的顯微傅里葉紅外光譜儀（FTIR）測試設(shè)備和技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能夠確保 FTIR 測試的準(zhǔn)確性和可靠性。

FTIR 主要用于有機(jī)物的官能團(tuán)表征。其原理是基于分子中不同官能團(tuán)對特定紅外光的吸收特性，通過檢測吸收光譜來識別官能團(tuán)。

適用對象：塑料、橡膠、膠黏劑、溶劑殘留等常見有機(jī)體系。

限制：

對無機(jī)填料、金屬雜質(zhì)靈敏度低；無法直接給出元素信息。

3.無機(jī)物分析：SEM/EDS

SEM/EDS 是一種強(qiáng)大的元素分析工具。其優(yōu)勢在于能夠分析從硼（B）到鈾（U）的元素，并且對樣品尺寸適應(yīng)性強(qiáng)，可檢測毫米級甚至納米級的顆粒。

形態(tài)：

顆粒、片狀、纖維、膜層。

元素：

B-U（除H、He、Li）。對F、Na、Mg、Al等輕元素檢測限優(yōu)于XRF。

典型陷阱：

Br與Al Kα峰重疊→需改變加速電壓或做線掃描排除。碳含量過高時，定量歸一化會“稀釋”其他元素，需配合有機(jī)元素分析儀（OEA）測H、C、N、S。

結(jié)語

由于異物成分復(fù)雜多樣，單一分析手段往往難以全面準(zhǔn)確地確定其成分和性質(zhì)。在實(shí)際分析中，通常需要綜合運(yùn)用多種手段。對于有機(jī)物，可先采用 FTIR 進(jìn)行官能團(tuán)表征，初步推測成分，再結(jié)合其他有機(jī)分析儀器進(jìn)行進(jìn)一步確認(rèn)；對于無機(jī)物，可利用 SEM/EDS 分析元素組成，若需要進(jìn)一步確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)等信息，可結(jié)合其他方法如 XRD 等。