1. 浪涌測試（Surge Test）

1.1 測試目的

模擬 雷擊、電網(wǎng)切換、大功率設(shè)備啟停 等高能量瞬態(tài)干擾，驗證電源模塊的耐高壓沖擊能力。

1.2 測試波形

組合波（1.2/50μs 電壓波 + 8/20μs 電流波）

1.2/50μs：電壓波（開路狀態(tài)）

8/20μs：電流波（短路狀態(tài)）

測試等級：通常 ±0.5kV ~ ±4kV（線-線或線-地）

1.3 測試方法

直接耦合：通過耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN）注入電源輸入端口。

測試模式：

差模（線-線）：測試L-N之間的抗浪涌能力。

共模（線-地）：測試L/GND、N/GND之間的抗浪涌能力。

1.4 常見失效

保險絲熔斷

MOV（壓敏電阻）炸裂

MOSFET/二極管擊穿

PCB燒毀

1.5 防護設(shè)計

TVS二極管（瞬態(tài)抑制二極管）

氣體放電管（GDT）

共模電感（CMC）

X/Y電容濾波

1.6 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61000-4-5（通用標(biāo)準(zhǔn)）

GB/T 17626.5（中國國標(biāo)）

2. 脈沖群測試（EFT/Burst Test）

2.1 測試目的

模擬 繼電器、電機、開關(guān)電源 等設(shè)備快速通斷時產(chǎn)生的高頻脈沖群干擾，驗證電源的抗快速瞬變能力。

2.2 測試波形

5/50ns 快速脈沖群（單脈沖寬度）

重復(fù)頻率：5kHz 或 100kHz

測試等級：通常 ±0.5kV ~ ±4kV（電源線/信號線）

2.3 測試方法

容性耦合鉗（CCP） 耦合到電源線或信號線。

直接注入法（適用于低阻抗電路）。

2.4 常見失效

MCU復(fù)位、死機

ADC采樣異常

通信誤碼（如UART、I2C出錯）

PWM控制信號抖動

2.5 防護設(shè)計

RC濾波電路（電源入口）

磁珠（Ferrite Bead）

共模扼流圈

屏蔽電纜

2.6 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61000-4-4（通用標(biāo)準(zhǔn)）

GB/T 17626.4（中國國標(biāo)）

3. ESD測試（靜電放電測試）

3.1 測試目的

模擬 人體或設(shè)備接觸時產(chǎn)生的靜電放電，驗證電源模塊的抗靜電能力。

3.2 測試波形

上升時間極快（0.7~1ns）

放電模式：

接觸放電（Contact Discharge）：金屬部件直接放電（±2kV ~ ±8kV）。

空氣放電（Air Discharge）：非金屬部件間接放電（±2kV ~ ±15kV）。

3.3 測試方法

直接對金屬外殼、接口、按鍵等可接觸部位放電。

測試等級：

工業(yè)級：±4kV（接觸）、±8kV（空氣）

消費級：±2kV（接觸）、±4kV（空氣）

3.4 常見失效

MCU死機或復(fù)位

顯示屏花屏

通信接口損壞（如USB、HDMI失效）

Latch-up（閂鎖效應(yīng)）導(dǎo)致芯片燒毀

3.5 防護設(shè)計

ESD保護二極管（TVS陣列）

低阻抗接地設(shè)計

屏蔽外殼

增加去耦電容

3.6 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61000-4-2（通用標(biāo)準(zhǔn)）

GB/T 17626.2（中國國標(biāo)）

4. 三種測試對比總結(jié)

測試類型

模擬場景

波形特點

能量等級

主要失效模式

防護措施

浪涌測試 雷擊、電網(wǎng)切換 1.2/50μs（電壓波）
8/20μs（電流波） 高能量（kV/kA級） 保險絲熔斷、MOV炸裂 TVS、GDT、共模電感

脈沖群測試 繼電器、開關(guān)干擾 5/50ns 脈沖群（5kHz/100kHz） 中能量（百伏級） MCU復(fù)位、通信錯誤 RC濾波、磁珠

ESD測試 人體/設(shè)備靜電 0.7~1ns 快速放電 低能量（kV級，ns級） 芯片Latch-up、接口損壞 ESD二極管、良好接地

5. 結(jié)論

浪涌測試 關(guān)注 高能量沖擊，需重點防護 MOV、TVS、GDT。

脈沖群測試 關(guān)注 高頻干擾，需優(yōu)化 濾波和屏蔽。

ESD測試 關(guān)注 靜電防護，需加強 TVS和接地設(shè)計。

能量等級：浪涌 > 脈沖群 > ESD。

時間尺度：浪涌（ms）> 脈沖群（μs）> ESD（ns）。

設(shè)計側(cè)重：浪涌需高能泄放路徑，脈沖群需高頻濾波，ESD需低阻抗接地。

這三類測試共同確保電源模塊在復(fù)雜電磁環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性，是產(chǎn)品認(rèn)證（如CE、UL、FCC）的必測項目。

審核編輯 黃宇