在電子設(shè)備的散熱設(shè)計(jì)中,熱阻(Thermal Resistance)是一個(gè)至關(guān)重要的物理量,它定量描述了材料或系統(tǒng)對(duì)熱量傳遞的阻礙能力。從本質(zhì)上看,熱阻是熱傳遞路徑上的“阻力標(biāo)尺”,其作用可類比于電路中的電阻——電阻限制電流,熱阻則限制熱流。
定義與公式:
熱阻定義為物體兩端溫度差(ΔT,單位:℃或K)與通過(guò)它的熱功率(P,單位:瓦特,W)的比值,數(shù)學(xué)表達(dá)式為:Rθ = ΔT / P。熱阻越大表示熱越不容易傳導(dǎo),因此物體溫度就會(huì)越高。
這一公式揭示了熱阻的核心意義:?jiǎn)挝粺峁β氏庐a(chǎn)生的溫差。例如,若某散熱器的熱阻為0.5℃/W,當(dāng)芯片功耗為10W時(shí),散熱器兩端溫差將達(dá)5℃。
一、熱阻參數(shù)解析
常見(jiàn)熱阻參數(shù)包括:結(jié)到外殼的熱阻(RθJC),結(jié)到環(huán)境熱阻(RθJA),結(jié)到板熱阻(RθJB),外殼到散熱器熱阻(RθCS),結(jié)到頂部熱阻(RθJT)。
圖1:芯片熱阻模型示意圖
結(jié)到外殼的熱阻
RθJC, Junction-to-Case Thermal Resistance
定義:芯片內(nèi)部發(fā)熱結(jié)(Junction)與封裝外殼(Case)之間的熱阻,反映封裝內(nèi)部的導(dǎo)熱能力。
計(jì)算公式:RθJC = (Tj-Tc)/PH
測(cè)試條件:通常在標(biāo)準(zhǔn)冷卻條件(如強(qiáng)制風(fēng)冷)下測(cè)量,外殼需與散熱器緊密接觸。
影響因素:基板材料(陶瓷/塑料/金屬)、TIM(導(dǎo)熱界面材料)性能、芯片與基板的連接工藝(如焊線、倒裝焊)。
典型值:陶瓷封裝(如QFN)可能低至1-5℃/W,塑料封裝(如LQFP)可能高達(dá)10-30℃/W。
結(jié)到環(huán)境熱阻
RθJA, Junction-to-Ambient Thermal Resistance
定義:芯片結(jié)到周圍環(huán)境的總熱阻,綜合反映封裝、PCB、散熱器及空氣對(duì)流的散熱能力。
計(jì)算公式:RθJA=(Tj-TA) /PH
測(cè)試條件:分為自然對(duì)流(RθJA-NA)和強(qiáng)制風(fēng)冷(RθJA-FA),結(jié)果差異顯著。
影響因素:PCB銅箔面積、散熱孔設(shè)計(jì)、空氣流動(dòng)速度、封裝高度(如BGA比QFN更易散熱)。
典型值:小封裝(如SOT-23)可能高達(dá)200-500℃/W,大功率封裝(如TO-220)可能低至10-30℃/W。
結(jié)到板熱阻
RθJB, Junction-to-Board Thermal Resistance
定義:芯片結(jié)到PCB板(Board)的熱阻,反映熱量通過(guò)封裝底部傳導(dǎo)至PCB的能力。
計(jì)算公式:RθJB=(Tj-TB )/PH
測(cè)試條件:芯片底部與PCB緊密接觸,測(cè)量點(diǎn)位于PCB下方特定距離(如1mm或2mm)。
影響因素:封裝底部金屬層厚度、PCB銅箔面積和層數(shù)、焊盤(pán)設(shè)計(jì)。
典型值:帶散熱焊盤(pán)的QFN封裝可能低至10-20℃/W,無(wú)焊盤(pán)的SOP封裝可能高達(dá)50℃/W以上。
應(yīng)用場(chǎng)景:優(yōu)化PCB散熱設(shè)計(jì),尤其適用于無(wú)散熱器的密閉空間設(shè)備。
外殼到散熱器熱阻
RθCS, Case-to-Sink Thermal Resistance
定義:封裝外殼與散熱器之間的熱阻,反映接觸界面的導(dǎo)熱效率。
計(jì)算公式:RθCS=(TC-TCS )/PH
影響因素:接觸壓力、導(dǎo)熱膏/墊的材質(zhì)與厚度、表面粗糙度。
典型值:優(yōu)質(zhì)導(dǎo)熱膏(如硅脂)可將RθCS降至0.1-0.5℃/W,而空氣間隙可能導(dǎo)致RθCS超過(guò)1℃/W。
應(yīng)用場(chǎng)景:指導(dǎo)散熱器安裝工藝,避免因接觸不良導(dǎo)致散熱失效。
結(jié)到頂部熱阻
RθJT, Junction-to-Top Thermal Resistance
定義:芯片結(jié)到封裝頂部的熱阻,反映熱量通過(guò)封裝頂部散出的效率。
計(jì)算公式:RθJT=(Tj-Tt)/PH
應(yīng)用場(chǎng)景:適用于頂部散熱設(shè)計(jì)(如加裝散熱片或風(fēng)扇),常見(jiàn)于高功率LED或功率模塊。
典型值:金屬頂蓋封裝(如TO-247)可能低至5-10℃/W,塑料封裝可能高達(dá)50℃/W以上。
其中:
Tj:結(jié)溫;
TA:環(huán)境溫度;
TB:PCB板溫度;
TC:外殼溫度;
TCS:散熱器溫度;
Tt:封裝頂部溫度;
PH:總功耗。
二、案例分析
我們以公司的一個(gè)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和熱仿真結(jié)果作為真實(shí)案例,做一個(gè)熱阻分析。這款DDR4芯片采用9片die堆疊設(shè)計(jì),采用兩半(4個(gè)die和5個(gè)die)進(jìn)行堆疊。
圖2:DDR4芯片封裝示意圖
下圖是多芯片堆疊的熱仿真結(jié)果。本次仿真采用Ansys Icepak進(jìn)行模擬,旨在評(píng)估BGA321封裝在不同熱路徑下的熱阻性能。仿真條件如下:環(huán)境溫度25℃,功率6.75W,PCB類型2s2p,散熱方式為自然對(duì)流。
圖3:RθJA
在JA環(huán)境中,最高溫在5個(gè)芯片堆疊的芯片上表面,環(huán)境溫度為25℃,功耗為6.75W,計(jì)算可得熱阻JA為17.55℃/W。RθJA反映了芯片到環(huán)境空氣的整體散熱能力,在自然對(duì)流條件下RθJA的典型值為20~100℃/W。該芯片RθJA小于典型值,說(shuō)明熱量更容易散熱到環(huán)境當(dāng)中,芯片有很好的環(huán)境散熱性能。
圖4:RθJB
在JB環(huán)境中,最高溫在5個(gè)芯片堆疊的芯片上表面,環(huán)境溫度為25℃,功耗為6.75W,計(jì)算得熱阻JB為11.61℃/W。RθJB表示芯片通過(guò)封裝底部向PCB傳遞熱量的能力,在自然對(duì)流條件下,RθJB典型值為5~20℃/W。該芯片RθJB在在典型值范圍內(nèi),說(shuō)明芯片通過(guò)PCB板散熱的能力較好,即芯片熱量向電路板傳遞的效率更高,可以適用于高功率場(chǎng)景。
圖5:RθJC
在JC環(huán)境中,最高溫在5個(gè)芯片堆疊的芯片底面,環(huán)境溫度為25℃,功耗為6.75W,計(jì)算得熱阻JC為3.65℃/W。RθJC是芯片到封裝外殼的熱阻,在自然對(duì)流條件下,RθJC典型值為1~10℃/W。該芯片RθJC在典型范圍內(nèi),說(shuō)明芯片通過(guò)封裝外殼散熱的性能較好,封裝導(dǎo)熱性好,便于安裝散熱器和導(dǎo)熱墊。
三、熱性能優(yōu)化建議
如需進(jìn)一步降低結(jié)溫,優(yōu)化散熱路徑,下列方法可供參考:
通過(guò)改進(jìn)PCB設(shè)計(jì),例如使用高導(dǎo)熱材料或者增加散熱層。也可以通過(guò)提高PCB覆銅率來(lái)提高PCB面熱導(dǎo)率,如提高覆銅率至80%,PCB面內(nèi)熱導(dǎo)率可以提升至150W/m*K,預(yù)計(jì)可以降溫6℃~8℃。
優(yōu)化塑封料:隨著塑封料熱導(dǎo)率的增加,DDR 模組的最高溫度會(huì)逐漸降低。當(dāng)前塑封料熱導(dǎo)率較低,為1W/m*K,根據(jù)傅里葉熱傳導(dǎo)定律,計(jì)算出當(dāng)前塑封料熱阻為4.8℃/W,占系統(tǒng)總熱阻的27%??梢試L試將塑封料熱導(dǎo)率提升至5W/m*K,預(yù)計(jì)結(jié)溫可以降級(jí)5℃左右。
優(yōu)化散熱路徑。當(dāng)前RθJC為3.65℃/W,說(shuō)明封裝頂部是高效散熱路徑??梢蕴砑禹敳可崞?,或者采用高導(dǎo)熱界面材料,來(lái)進(jìn)一步優(yōu)化散熱降低結(jié)溫。
四、結(jié)論
在電子散熱設(shè)計(jì)中,熱阻是衡量芯片散熱性能的核心指標(biāo),直接影響設(shè)備的可靠性與壽命。通過(guò)對(duì) RθJA(結(jié)到環(huán)境)、RθJB(結(jié)到板)、RθJC(結(jié)到外殼)等關(guān)鍵參數(shù)的解析,我們可以精準(zhǔn)評(píng)估芯片的散熱路徑效率,并針對(duì)性地優(yōu)化設(shè)計(jì)。較低 RθJA 表明芯片整體散熱性能優(yōu)異,熱量能高效傳遞至環(huán)境;較低 RθJB 反映 PCB 導(dǎo)熱能力強(qiáng),適合依賴電路板散熱的場(chǎng)景;較低 RθJC 則說(shuō)明封裝內(nèi)部導(dǎo)熱路徑高效,便于外接散熱器提升散熱能力。
通過(guò)優(yōu)化 PCB 設(shè)計(jì)(如增加覆銅率、使用高導(dǎo)熱材料)、改進(jìn)封裝工藝(如提升塑封料導(dǎo)熱率)以及增強(qiáng)散熱路徑(如加裝散熱器),可顯著降低芯片結(jié)溫,確保其在高溫、高負(fù)載下的穩(wěn)定運(yùn)行。精準(zhǔn)的熱阻分析與優(yōu)化,是提升電子設(shè)備性能與可靠性的關(guān)鍵一步。
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封裝
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熱阻
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原文標(biāo)題:解讀DDR4堆疊模組的熱仿真報(bào)告與散熱優(yōu)化
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