chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

如何平衡IGBT模塊的開(kāi)關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗

青島佳恩半導(dǎo)體有限公司 ? 來(lái)源:青島佳恩半導(dǎo)體有限公司 ? 2025-08-19 14:41 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

IGBT模塊的開(kāi)關(guān)損耗(動(dòng)態(tài)損耗)與導(dǎo)通損耗(靜態(tài)損耗)的平衡優(yōu)化是電力電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)的核心挑戰(zhàn)。這兩種損耗存在固有的折衷關(guān)系:降低導(dǎo)通損耗通常需要提高載流子濃度,但這會(huì)延長(zhǎng)關(guān)斷時(shí)的載流子抽取時(shí)間,增加開(kāi)關(guān)損耗;反之,優(yōu)化開(kāi)關(guān)速度可能犧牲導(dǎo)通特性。以下是針對(duì)實(shí)際應(yīng)用的平衡優(yōu)化策略,結(jié)合最新技術(shù)進(jìn)展和實(shí)踐案例。

一、損耗機(jī)制與折衷關(guān)系

物理機(jī)制分析

導(dǎo)通損耗:主要由飽和壓降(VCE(sat))和電流決定,公式為:

Pcon=VCE(sat)×IC×D
其中 D 為占空比。降低 VCE(sat) 需增加漂移區(qū)載流子濃度,但會(huì)加劇關(guān)斷時(shí)的“拖尾電流”效應(yīng)。

開(kāi)關(guān)損耗:包括開(kāi)通損耗(Eon)和關(guān)斷損耗(Eoff),與開(kāi)關(guān)頻率(fsw)成正比:
Psw=(Eon+Eoff)×fsw
高載流子濃度會(huì)導(dǎo)致反向恢復(fù)電荷(Qrr)增加,延長(zhǎng)關(guān)斷時(shí)間。

折衷曲線

典型折衷曲線顯示:

VCE(sat) 每降低 0.1V,Eoff 可能增加 10%~20%。

優(yōu)化目標(biāo):

將工作點(diǎn)移至折衷曲線左下方

(低VCE(sat) 和低 Eoff),如圖示:

E_off損耗

| 傳統(tǒng)IGBT

| ?

|

|

| ? 優(yōu)化后IGBT (如HS3系列)

|

|___________→ V_CE(sat)

二、結(jié)構(gòu)優(yōu)化技術(shù)

溝槽柵與載流子存儲(chǔ)層

溝槽柵精細(xì)化:

縮小臺(tái)面寬度(如從 40nm 降至 20nm),提高電流密度,降低 VCE(sat) 12%~15%(如華軒陽(yáng)650V IGBT)。

載流子存儲(chǔ)層:

在發(fā)射極下方添加高濃度摻雜層(如三菱CSTBT技術(shù)),提升載流子濃度,VCE(sat) 降低 20% 且不顯著增加 Eoff。

屏蔽柵與虛擬陪柵技術(shù)

屏蔽柵結(jié)構(gòu):分離柵極與集電極的電場(chǎng)耦合,減少密勒電容(Cgc),使 Eon+Eoff 降低 26%(日立車(chē)規(guī)模塊)。

虛擬陪柵:浮動(dòng)或接地的非功能柵極,進(jìn)一步優(yōu)化電容分布,平衡短路耐受能力與開(kāi)關(guān)速度。

新型材料與集成結(jié)構(gòu)

逆導(dǎo)型IGBT(RC-IGBT):

集成反并聯(lián)二極管,減少封裝體積和熱阻,適用于電動(dòng)汽車(chē)(如富士M653模塊),但需解決電壓回跳問(wèn)題。

超級(jí)結(jié)IGBT:

通過(guò)交替P/N柱優(yōu)化電場(chǎng)分布,實(shí)現(xiàn) 200℃ 高溫下?lián)p耗折衷,目前處于研發(fā)階段。

三、驅(qū)動(dòng)策略優(yōu)化

柵極參數(shù)精確控制

驅(qū)動(dòng)電壓:

開(kāi)通電壓 +15V 確保完全導(dǎo)通,關(guān)斷電壓 -8V~-15V 防止誤觸發(fā),VGE(th) 溫度漂移需補(bǔ)償(-11mV/℃)。

柵極電阻(Rg):

低 Rg(<5Ω):加快開(kāi)關(guān)速度,降低損耗,但增加 dV/dt 和 EMI 風(fēng)險(xiǎn)。

高 Rg(>10Ω):減少 EMI,但開(kāi)關(guān)損耗上升 20%~30%。

智能驅(qū)動(dòng)與軟開(kāi)關(guān)技術(shù)

分段驅(qū)動(dòng):

開(kāi)通初期高電流加速導(dǎo)通,后期降電流抑制過(guò)沖。

軟開(kāi)關(guān)(ZVS/ZCS):

通過(guò)諧振電路實(shí)現(xiàn)零電壓/零電流開(kāi)關(guān),降低 Eon/Eoff 30%~50%,尤其適用于光伏逆變器(如 T 型三電平拓?fù)洌?/p>

死區(qū)時(shí)間優(yōu)化

死區(qū)時(shí)間過(guò)短導(dǎo)致橋臂直通,過(guò)長(zhǎng)則增加體二極管導(dǎo)通損耗。動(dòng)態(tài)調(diào)整死區(qū)時(shí)間(基于負(fù)載電流和溫度),可降低損耗 5%~10%。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • IGBT
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1284

    文章

    4169

    瀏覽量

    258361
  • 開(kāi)關(guān)損耗
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    69

    瀏覽量

    13825
  • 導(dǎo)通損耗
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    11

    瀏覽量

    1866

原文標(biāo)題:IGBT模塊的開(kāi)關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗在實(shí)際應(yīng)用中如何平衡優(yōu)化

文章出處:【微信號(hào):JNsemi,微信公眾號(hào):青島佳恩半導(dǎo)體有限公司】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試方案

    MOSFET/IGBT開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對(duì)開(kāi)關(guān)損耗的測(cè)量還停留在人工計(jì)算的感性認(rèn)知上,PFC MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)摸
    發(fā)表于 10-19 10:39 ?2595次閱讀

    IGBT損耗和溫度估算

    、Eoff 和 Erec ) 進(jìn) 行準(zhǔn)確測(cè)量,建立了一種通用的功率器件導(dǎo)損耗開(kāi)關(guān)損耗模型。在考慮 IGBT 芯片間熱偶合影響基礎(chǔ)上 提出了一種結(jié)溫估算數(shù)學(xué)模型。搭建三相電感結(jié)溫測(cè)
    發(fā)表于 03-06 15:02 ?3887次閱讀

    功率MOSFET的開(kāi)關(guān)損耗:關(guān)斷損耗

    的影響更明顯。(3)降低米勒電壓,也就是降低閾值開(kāi)啟電壓同時(shí)提高跨導(dǎo),也可以提高開(kāi)關(guān)速度,降低開(kāi)關(guān)損耗。但過(guò)低的閾值電壓會(huì)使MOSFET容易受到干擾誤導(dǎo)通,而跨導(dǎo)和工藝有關(guān)。
    發(fā)表于 03-06 15:19

    全SiC功率模塊開(kāi)關(guān)損耗

    是基于技術(shù)規(guī)格書(shū)中的規(guī)格值的比較,Eon為開(kāi)關(guān)導(dǎo)損耗,Eoff為開(kāi)關(guān)關(guān)斷損耗、Err為恢復(fù)損耗
    發(fā)表于 11-27 16:37

    開(kāi)關(guān)損耗更低,頻率更高,應(yīng)用設(shè)備體積更小的全SiC功率模塊

    。右圖為SiC-MOSFET+SiC-SBD組成的全SiC模塊BSM300D12P2E001(1200V/300A)與IGBT+FRD的模塊在同一環(huán)境下實(shí)測(cè)的開(kāi)關(guān)損耗結(jié)果比較。Eon是
    發(fā)表于 12-04 10:14

    開(kāi)關(guān)損耗包括哪幾種

    一、開(kāi)關(guān)損耗包括開(kāi)通損耗和關(guān)斷損耗兩種。開(kāi)通損耗是指功率管從截止到導(dǎo)通時(shí)所產(chǎn)生的功率損耗;關(guān)斷
    發(fā)表于 10-29 07:10

    導(dǎo)損耗和關(guān)斷損耗的相關(guān)資料推薦

    和計(jì)算開(kāi)關(guān)損耗,并討論功率MOSFET導(dǎo)通過(guò)程和自然零電壓關(guān)斷過(guò)程的實(shí)際過(guò)程,以便電子工程師了解哪個(gè)參數(shù)起主導(dǎo)作用并了解MOSFET. 更深入地MOSFET開(kāi)關(guān)損耗1,通過(guò)過(guò)程中的MOSFET
    發(fā)表于 10-29 08:43

    準(zhǔn)確測(cè)量開(kāi)關(guān)損耗的幾個(gè)方式

    阻,在開(kāi)關(guān)管會(huì)給出該指標(biāo),如圖3所示Ts表示開(kāi)關(guān)周期t1、t2表示導(dǎo)通狀態(tài)的開(kāi)始時(shí)間與結(jié)束時(shí)間 圖3導(dǎo)通電阻與電流的關(guān)系四、開(kāi)關(guān)損耗
    發(fā)表于 11-18 07:00

    MOSFET開(kāi)關(guān)損耗分析

    為了有效解決金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)在通信設(shè)備直流-48 V緩啟動(dòng)應(yīng)用電路中出現(xiàn)的開(kāi)關(guān)損耗失效問(wèn)題,通過(guò)對(duì)MOSFET 柵極電荷、極間電容的闡述和導(dǎo)通過(guò)程的解剖,定位了MOSFET 開(kāi)關(guān)損耗的來(lái)源,進(jìn)而為緩
    發(fā)表于 01-04 14:59 ?43次下載

    開(kāi)關(guān)損耗原理分析

    一、開(kāi)關(guān)損耗包括開(kāi)通損耗和關(guān)斷損耗兩種。開(kāi)通損耗是指功率管從截止到導(dǎo)通時(shí)所產(chǎn)生的功率損耗;關(guān)斷
    發(fā)表于 10-22 10:51 ?11次下載
    <b class='flag-5'>開(kāi)關(guān)損耗</b>原理分析

    全SiC功率模塊開(kāi)關(guān)損耗

    全SiC功率模塊與現(xiàn)有的IGBT模塊相比,具有1)可大大降低開(kāi)關(guān)損耗、2)開(kāi)關(guān)頻率越高總體損耗
    發(fā)表于 02-08 13:43 ?1427次閱讀
    全SiC功率<b class='flag-5'>模塊</b>的<b class='flag-5'>開(kāi)關(guān)損耗</b>

    IGBT導(dǎo)損耗開(kāi)關(guān)損耗

    從某個(gè)外企的功率放大器的測(cè)試數(shù)據(jù)上獲得一個(gè)具體的感受:導(dǎo)損耗60W開(kāi)關(guān)損耗251。大概是1:4.5 下面是英飛凌的一個(gè)例子:可知,六個(gè)管子的總功耗是714W這跟我在項(xiàng)目用用的那個(gè)150A的
    發(fā)表于 02-23 09:26 ?18次下載
    <b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>導(dǎo)</b>通<b class='flag-5'>損耗</b>和<b class='flag-5'>開(kāi)關(guān)損耗</b>

    全SiC功率模塊開(kāi)關(guān)損耗

    全SiC功率模塊與現(xiàn)有的功率模塊相比具有SiC與生俱來(lái)的優(yōu)異性能。本文將對(duì)開(kāi)關(guān)損耗進(jìn)行介紹,開(kāi)關(guān)損耗也可以說(shuō)是傳統(tǒng)功率模塊所要解決的重大課題
    發(fā)表于 02-24 11:51 ?1108次閱讀
    全SiC功率<b class='flag-5'>模塊</b>的<b class='flag-5'>開(kāi)關(guān)損耗</b>

    ?IGBT模塊損耗特性介紹

    IGBT元件的損耗總和分為:通態(tài)損耗開(kāi)關(guān)損耗開(kāi)關(guān)損耗分別為開(kāi)通損耗(EON)和關(guān)斷
    的頭像 發(fā)表于 01-12 09:07 ?4431次閱讀
    ?<b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>的<b class='flag-5'>損耗</b>特性介紹

    IGBT模塊的功率損耗詳解

    IGBT模塊關(guān)斷截止時(shí),I(t)≈0,損耗的功率可忽略。為了便于分析,將IGBT損耗分為導(dǎo)
    的頭像 發(fā)表于 05-31 09:06 ?1.7w次閱讀
    <b class='flag-5'>IGBT</b><b class='flag-5'>模塊</b>的功率<b class='flag-5'>損耗</b>詳解