潮熱試驗簡介

潮熱試驗是一種可靠性試驗，主要用于評估電子元器件在濕度和溫度變化條件下的性能。

在這個試驗中，元器件會暴露在特定的濕度和溫度條件下，以模擬真實環(huán)境中的潛在應(yīng)力。潮熱試驗有多種形式，其中一種是恒定潮熱試驗，它要求被試樣品在相對濕度為90%～100%的范圍內(nèi)，在一定時間內(nèi)使溫度從25℃上升到65℃，并保持3h以上；然后再在相對濕度為80%～100%的范圍內(nèi)，用一定的時間使溫度從65℃下降到25℃，再進行一次這樣的循環(huán)，之后在任意濕度的情況下將溫度下降到-10℃，并保持3h以上，最后恢復(fù)到溫度為25℃，相對濕度等于或大于80%的狀態(tài)。這一過程大約需要24h，而且通常一次耐濕試驗，上述交變潮熱的大循環(huán)要進行10次。

聲掃（SAT）技術(shù)簡介

聲掃（SAT）是一種高分辨率的顯微成像儀器，它利用聲波在材料中的傳播特性來檢測材料的內(nèi)部缺陷。

聲波會在材料界面、內(nèi)部缺陷或材料變化的地方發(fā)生反射，對材料不具有破壞性。SAT可以在液體或固體材料中自由傳輸，能夠聚焦，并沿直線傳輸。

SAT的優(yōu)勢在于它能夠在不需要破壞樣品的情況下提供深入的內(nèi)部信息，這對于檢測分層的空氣、裂紋和虛焊等缺陷非常有用。

超聲波掃描顯微鏡（SAT）

塑封器件的可靠性評價

對于塑封器件的可靠性評價主要方面是缺陷暴露技術(shù)，而缺陷在器件使用前很難通過常規(guī)的篩選來發(fā)現(xiàn)，一旦器件經(jīng)過焊接或?qū)嶋H工作時就會顯露出來，造成組件的故障。潮氣的入侵是與時間相關(guān)的，時間越長，外界潮氣濕度越大，則塑封器件內(nèi)潮氣達到飽和的時間越短。同時這種失效還會受到溫度、濕度共同作用的影響，因此采取溫度、濕度綜合應(yīng)力，開展加速試驗。在電子元器件的篩選過程中，MSL+SAT是一種常用的方法，它結(jié)合了潮熱試驗和聲掃技術(shù)的優(yōu)點。通過MSL+SAT，可以有效地評估元器件在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力，以及內(nèi)部結(jié)構(gòu)的完整性。這種方法尤其適用于評估塑封器件的可靠性，因為塑封器件可能會受到潮氣和溫度變化的影響，而這些影響可能會導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)的損壞或性能衰退。通過聲掃技術(shù)，可以非破壞性地檢測器件內(nèi)部是否存在分層或其他異常情況，從而提高篩選的準確性和效率。

但同時依據(jù)標準EIA/JESD22-A110-A，96h的130C，85%RH HAST相當于1000h雙85RH潮熱試驗，500h的高溫潮熱試驗可以用50h的HAST等效替代。經(jīng)過高溫潮熱或HAST試驗后的塑封器件經(jīng)過焊接工藝后取下，進行聲學掃描檢查，分析其引線框架與封裝材料、芯片與封裝材料的分層情況，做出此批器件是否通過高溫潮熱試驗的判斷。綜上所述，潮熱試驗+聲掃高可靠用途的篩選（MSL+SAT）是一種有效的電子元器件篩選方法。它不僅可以評估元器件在惡劣環(huán)境條件下的性能，還可以深入檢測元器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，從而確保最終產(chǎn)品的可靠性和安全性。這種方法在電子行業(yè)等對產(chǎn)品質(zhì)量要求較高的領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。