Texas Instruments SN74LV165A/SN74LV165A-Q1并行負載8位移位寄存器是并行負載、8位移位寄存器,設(shè)計采用2V至5.5V VCC 運行。器件計時時,數(shù)據(jù)通過串行輸出QH傳輸。借助八個獨立的直接數(shù)據(jù)輸入并行訪問每個級,通過移位/負載 (SH/LD) 輸入的低電平實現(xiàn)。SN74LV165A器件具有時鐘抑制功能和互補串行輸出 (QH)。Texas Instruments SN74LV165A/SN74LV165A-Q1完全適合使用Ioff 的局部掉電應(yīng)用。器件斷電時,Ioff 電路禁用輸出,避免電流回流流經(jīng)器件造成破壞。SN74LV165A-Q1器件符合面向汽車應(yīng)用的AEC-Q100標準。該器件的一個典型應(yīng)用是增加微控制器的輸入端數(shù)量。
數(shù)據(jù)手冊:
*附件:SN74LV165A 的產(chǎn)品評估板.pdf
*附件:SN74LV165A-Q1 的產(chǎn)品評估板.pdf
特性
功能框圖
SN74LV165A 8位并行輸入串行輸出移位寄存器評估板技術(shù)解析
一、產(chǎn)品核心特性
SN74LV165A是德州儀器(TI)推出的高性能8位并行輸入串行輸出移位寄存器,評估板設(shè)計充分展現(xiàn)了以下關(guān)鍵特性:
- ?寬電壓兼容性?:支持2V至5.5V供電,兼容3.3V/5V混合電壓系統(tǒng)
- ?高速性能?:5V供電時最大傳播延遲僅9.9ns,時鐘頻率最高達165MHz
- ?雙模式操作?:
- 并行加載模式(SH/LD=Low)
- 串行移位模式(SH/LD=High)
- ?節(jié)能設(shè)計?:
- 靜態(tài)電流典型值5μA
- 支持Ioff部分斷電模式
二、評估板硬件設(shè)計
1. 接口配置
- ?并行輸入端口?:8位獨立數(shù)據(jù)輸入(A-H)帶ESD保護
- ?控制信號接口?:
- SH/LD(引腳1):加載/移位控制
- CLK(引腳2):上升沿觸發(fā)時鐘
- CLK INH(引腳15):時鐘抑制輸入
- ?串行輸出?:
- QH(引腳9):標準輸出
- QH(引腳7):反相輸出
2. 電源管理設(shè)計
三、典型應(yīng)用場景
1. 微控制器IO擴展
?連接方案?:
- 并行端口連接外設(shè)信號
- CLK接MCU SPI_SCK
- QH接MCU MISO
- SH/LD由GPIO控制
2. 工業(yè)傳感器陣列
- 級聯(lián)多片實現(xiàn)16/24位輸入擴展
- 采用菊花鏈連接(QH→下級SER)
- 典型接線距離:<30cm@10MHz
四、性能測試數(shù)據(jù)
1. 開關(guān)特性(5V供電)
參數(shù) | 條件 | 典型值 | 最大值 |
---|---|---|---|
CLK→QH傳播延遲 | CL=15pF | 6ns | 11.5ns |
SH/LD→QH傳播延遲 | CL=50pF | 7.7ns | 13.5ns |
最大時鐘頻率 | CL=15pF | 165MHz | - |
2. 電源特性
- 動態(tài)功耗電容:37.5pF@5V
- 熱阻(SOIC封裝):θJA=86.2°C/W
五、布局優(yōu)化建議
- ?信號完整性?:
- 時鐘走線長度匹配誤差<5mm
- 并行輸入總線等長處理
- ?熱設(shè)計?:
- SOIC封裝需保證銅面積≥50mm2
- 環(huán)境溫度>85℃時降額使用
- ?EMC對策?:
- 時鐘線串聯(lián)22Ω電阻
- 未用輸入接10kΩ上拉/下拉
六、故障排查指南
?常見問題?:輸出數(shù)據(jù)異常
- 檢查SH/LD信號質(zhì)量(上升時間<100ns/V)
- 測量電源紋波(<50mVpp)
- 驗證CLK INH電平狀態(tài)
?測試點定義?:
- TP1:CLK信號測試點
- TP2:QH輸出監(jiān)測點
- TP3:VCC紋波測量點
該評估板完整展現(xiàn)了SN74LV165A在?工業(yè)控制?和?消費電子?中的應(yīng)用優(yōu)勢,其汽車級溫度范圍(-40至125°C)特別適合需要ASIL-B功能安全等級的車載系統(tǒng)設(shè)計。
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8 位并聯(lián)負載移位寄存器SN74LV165A數(shù)據(jù)表

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