D&S AE1/RD1 半球發(fā)射率測(cè)量?jī)x

引言

D&S AE1/RD1 半球發(fā)射率測(cè)量?jī)x是一款專門設(shè)計(jì)用于測(cè)量材料的半球發(fā)射率的儀器，符合 ASTM C1371 標(biāo)準(zhǔn)。該儀器由兩部分組成：AE1 發(fā)射率計(jì)和 RD1 數(shù)字電壓計(jì)。它為實(shí)驗(yàn)室提供了一個(gè)高效、精確且經(jīng)濟(jì)的解決方案，能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)量各種材料的半球發(fā)射率。

主要特點(diǎn)

高重復(fù)性：該設(shè)備的測(cè)量重復(fù)性為 ±0.01 發(fā)射率單位，確保測(cè)試結(jié)果的高準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

操作簡(jiǎn)便：AE1 發(fā)射率計(jì)的探測(cè)器自帶加熱功能，避免了對(duì)樣品進(jìn)行加熱的麻煩，也不需要額外的溫度測(cè)量，使操作過程更為簡(jiǎn)便。

快速測(cè)量：儀器在經(jīng)過約 30 分鐘的預(yù)熱后，能夠每 1.5 分鐘完成一次測(cè)量，極大提高了工作效率。

經(jīng)濟(jì)實(shí)用：與同類設(shè)備相比，D&S AE1/RD1 具有較為合理的價(jià)格，提供了更高性價(jià)比的解決方案。

符合標(biāo)準(zhǔn)：該儀器符合 ASTM C1371 和 ISO 標(biāo)準(zhǔn)，能夠滿足高標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量要求。

測(cè)量原理與操作流程

AE1 發(fā)射率計(jì)利用輻射熱傳遞原理，通過檢測(cè)輻射熱來測(cè)量樣品的發(fā)射率。儀器的輸出電壓與材料的發(fā)射率之間呈線性關(guān)系，因此可以通過調(diào)整 RD1 數(shù)字電壓計(jì)的增益旋鈕，校準(zhǔn)儀器并直接讀取樣品的發(fā)射率值。

測(cè)量步驟：

校準(zhǔn)過程：將 AE1 發(fā)射率計(jì)放置在已知高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)樣品上，并通過 RD1 調(diào)整輸出電壓，使其與標(biāo)準(zhǔn)樣品的發(fā)射率值相符。

發(fā)射率測(cè)量：校準(zhǔn)完成后，將 AE1 發(fā)射率計(jì)放置在待測(cè)樣品上，RD1 數(shù)字電壓計(jì)將直接顯示該樣品的發(fā)射率值。

設(shè)備技術(shù)規(guī)格

輸出電壓：在樣品發(fā)射率為 0.9、樣品溫度為 78°F（25°C）時(shí)，輸出電壓為 2.4 毫伏。

線性度：輸出電壓與發(fā)射率之間保持近乎線性，誤差范圍在 ±0.01 單位內(nèi)。

時(shí)間常數(shù)：約為 10 秒鐘，即達(dá)到最終值的 63% 所需的時(shí)間。

樣品溫度：樣品的最大溫度為 130°F，且樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品的溫度需保持一致。

溫度漂移：儀器輸出會(huì)受到環(huán)境溫度變化的影響，但在測(cè)試所需的短時(shí)間內(nèi)，漂移對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響可以忽略不計(jì)。

D&S AE1/RD1 半球發(fā)射率測(cè)量?jī)x是一款高精度、操作簡(jiǎn)便且經(jīng)濟(jì)實(shí)用的發(fā)射率測(cè)試設(shè)備。其線性輸出和高重復(fù)性，能夠滿足多種材料的半球發(fā)射率測(cè)量需求。

無論是在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量，還是在特殊材料的定制測(cè)量中，AE1/RD1 都能提供可靠、精確的結(jié)果。通過提供多種適配器和定制選項(xiàng)，它也能適應(yīng)不同尺寸和形態(tài)的樣品，極大地?cái)U(kuò)展了其應(yīng)用領(lǐng)域。